[發明專利]一種太陽能電池片的PID測試方法

有效

• 申請號: 201410092255.5
• 申請日: 2014-03-13
• 公開（公告）號: CN103904993A
• 公開（公告）日: 2014-07-02
• 發明（設計）人: 萬松博;王栩生;章靈軍
• 申請（專利權）人: 蘇州阿特斯陽光電力科技有限公司
• 主分類號: H02S50/10
• 分類號: H02S50/10
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 陶海鋒

技術領域

本發明涉及一種太陽能電池片的PID測試方法，該方法可用來表征太陽能電池的PID衰減情況，屬于太陽能電池領域。

背景技術

近年來，在太陽能電池組件系統的應用過程中，發生了諸多由于電勢誘導衰減（PID）效應導致的電池組件功率衰減案例，其嚴重影響了太陽能電池組件在各個應用領域的使用和推廣。因此各大光伏生產企業都在努力解決PID問題。解決PID問題的關鍵是生產具有抗PID能力的太陽能電池片。在規模化生產過程中，及時對產品質量進行檢查是非常必要的。

然而，目前PID效應的測試只能在電池片制作成組件后才能進行，并且組件的PID測試也需要數天時間。因此，從太陽能電池片制作完成到PID測試結束，最快也需要一周以上的時間。這對于規模化生產的監控來說時間太久。因此，快速地在太陽能電池片端進行PID性能檢測，是規模化生產抗PID電池片所必需的條件。但是到目前為止，業界尚未有在電池片端進行PID性能檢測的先例。

發明內容

本發明目的是提供一種太陽能電池片的PID測試方法。

為達到上述目的，本發明采用的技術方案是：一種太陽能電池片的PID測試方法，包括如下步驟：

(1)?測量太陽能電池片的初始并聯電阻；

(2)?將太陽能電池片置于干燥空氣中；

(3)?在太陽能電池片前表面放置1~100個尖銳型導體，尖銳型導體的尖端部朝向太陽能電池片并與太陽能電池片之間間隔布置；

(4)?在太陽能電池片和尖銳型導體之間加載電壓；

(5)?測試太陽能電池片的最終并聯電阻；

(6)?對比所述初始并聯電阻與最終并聯電阻，評估太陽能電池片的PID衰減情況。?

上文中，所述步驟(1)、?(2)?、(3)可以任意變換次序。

上述技術方案中，所述干燥空氣的濕度小于15%。

上述技術方案中，所述尖銳型導體和太陽能電池片的距離小于或等于1厘米。

上述技術方案中，所述步驟(4)中的電壓為10000~100000V，加載時間為1分鐘以上。

為達到上述目的，本發明還提供了另一種技術方案：一種太陽能電池片的PID測試方法，包括如下步驟：

(1)?將太陽能電池片置于干燥空氣中，在太陽能電池片前表面放置1~100個尖銳型導體，尖銳型導體的尖端部朝向太陽能電池片并與太陽能電池片之間間隔布置；

(2)?在太陽能電池片和尖銳型導體之間加載電壓，同時進行太陽能電池片并聯電阻的測量；

(3)?查看并聯電阻的變化情況，以此評估太陽能電池片的PID衰減情況。

上述技術方案中，所述干燥空氣的濕度小于15%。

上述技術方案中，所述尖銳型導體的尖端部和太陽能電池片的距離小于或等于1厘米。

上述技術方案中，所述步驟(2)中的電壓為10000~100000V，加載時間需要為1分鐘以上。

上述技術方案中，所述并聯電阻的測試從加載電壓開始至加載電壓結束，并聯電阻的測試間隔時間為0.5秒~5分鐘。

本發明的工作機理是：本發明利用強電場在將太陽能電池片表面的空氣電離，電離離子在強電場的作用下轟擊硅片表面，進而破壞PN結的完整性，從而造成PN結的漏電流增大，并聯電阻變小，這種變化可以表征太陽能電池片的抗PID能力。

由于上述技術方案運用，本發明與現有技術相比具有下列優點：

1．本發明開發了一種新的太陽能電池片的PID測試方法，采用尖端放電的方式，在電池片表面電離空氣轟擊電池片表面，從而引起太陽能電池片并聯電阻的變化；實驗證明，本發明測試電池片并阻衰減較大或衰減較快的電池片，其對應組件PID測試的PID衰減也較大，這表明本發明的測試結果可以同現有的組件PID結果進行對應。

2．相對于現有的組件端進行PID測試的方法，本發明的測試方法無需將電池片制作成組件便可以表征其抗PID能力，流程更簡單，成本更低。

3．相對于現有的電池片制作組件后再進行PID測試方法，其耗時超過一周，本發明測試時間僅5~60分鐘，極大地縮短了測試時間；從而可以實現對規模化生產抗PID太陽能電池片的及時有效監控。

附圖說明

圖1是本發明實施例一測試的RL和組件PID測試的關系圖；

圖2是本發明實施例二測試的T和組件PID測試的關系圖。

具體實施方式

下面結合實施例對本發明作進一步描述：