[發明專利]一種改進離子阱質譜儀低質量截止值的方法

有效

• 申請號: 201410085907.2
• 申請日: 2014-03-10
• 公開（公告）號: CN104916520B
• 公開（公告）日: 2018-06-22
• 發明（設計）人: 胡佩生
• 申請（專利權）人: 蕪湖譜實源儀器有限公司
• 主分類號: H01J49/42
• 分類號: H01J49/42;H01J49/10
• 代理公司: 常州佰業騰飛專利代理事務所(普通合伙) 32231
• 代理人: 金輝

1.一種改進離子阱質譜儀低質量截止值的方法，其特征在于：所述離子阱的驅動工作電源為數字方波電源，方法包括(1)先固定數字方波電源的電壓和周期T進行離子的存儲和質量選擇；(2)然后進入離子的碰撞解離CID過程，在CID過程中，逐漸降低數字方波電源的周期T，使得被選擇出的母體離子被激發至較高能量狀態，并可以進一步與離子阱中的中性分子碰撞解離，產生碎片離子，即降低待測碎片離子的q_z值使之穩定存在于離子阱中，其中方波電源的周期T變化公式是：

上式中，m為離子質量，e為離子所帶電荷，V為數字方波電源的電壓，q_z為離子阱工作參數，r₀為離子阱幾何參數，T為數字方波電源的周期；(3)再通過計算機控制數字方波電源的周期突然降低，然后從小到大掃描數字方波電源的周期T以實現離子的質量分析。

2.根據權利要求1所述的改進離子阱質譜儀低質量截止值的方法，其特征在于：所述數字方波電源的輸出為周期性矩形波，且每個矩形波的寬度可以完全一樣，也可以不完全一樣，但必須呈周期性變化；每個矩形波的高度，即輸出電壓值，其正電壓值完全一樣，其負電壓值也完全一樣，但正電壓值和負電壓值可以完全相等，也可以不相等。

3.根據權利要求1或2所述的改進離子阱質譜儀低質量截止值的方法，其特征在于：所述離子阱質譜儀可以是三維離子阱質譜儀，也可以是線形離子阱質譜儀，也可以是印刷線路離子阱質譜儀，也可以是陣列離子阱質譜儀。