[發(fā)明專利]三維IP核測試外殼掃描鏈的優(yōu)化方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410083824.X | 申請日: | 2014-03-07 |
| 公開(公告)號: | CN104007383A | 公開(公告)日: | 2014-08-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉軍;吳璽;王偉;陳田;錢慶慶 | 申請(專利權(quán))人: | 合肥工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G01R31/3185 | 分類號: | G01R31/3185;G01R31/28 |
| 代理公司: | 安徽省合肥新安專利代理有限責(zé)任公司 34101 | 代理人: | 何梅生 |
| 地址: | 230009 安*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 三維 ip 測試 外殼 掃描 優(yōu)化 方法 | ||
1.一種三維IP核測試外殼掃描鏈的優(yōu)化方法,所述三維IP核含有N層電路,從最底層到最高層依次編號為1,2,3,…,k,…,N,1≤k≤N;定義各層電路間未通過多根TSV進(jìn)行垂直連接前稱為綁定前,各層電路間通過多根TSV進(jìn)行垂直連接后稱為綁定后;在綁定后的N層電路中,任意一根TSV在所連接的上下兩層電路中各有一個連接點,所述連接點根據(jù)信號在所述上下兩層電路中的傳輸方向分為TSV輸入節(jié)點和TSV輸出節(jié)點;所述三維IP核的每層電路中都含有多個輸入端口、多個輸出端口和多條長度不等的內(nèi)部掃描鏈,任意一條內(nèi)部掃描鏈只能位于一層電路中,不能跨層;定義綁定前各層電路中的測試外殼掃描鏈稱為綁定前測試外殼掃描鏈;綁定后形成的測試外殼掃描鏈稱為綁定后測試外殼掃描鏈;其特征是,所述優(yōu)化方法按如下步驟進(jìn)行:
步驟一、在各層電路輸入端口處和TSV輸出節(jié)點處分別增加測試外殼輸入掃描單元,在各層電路的輸出端口處和TSV輸入節(jié)點處分別增加測試外殼輸出掃描單元;
步驟二、定義變量suc為整數(shù)并賦值為0;
步驟三、定義各條綁定后測試外殼掃描鏈中所使用的TSV數(shù)量之和不能超過預(yù)先設(shè)定的閾值CTSV;將所述閾值CTSV分解成M個整數(shù)C1,C2,…,Ci,…,CM,所述M個整數(shù)之和等于閾值CTSV,M為所述綁定后測試外殼掃描鏈的數(shù)量,整數(shù)Ci表示第i條綁定后測試外殼掃描鏈中使用的TSV數(shù)量不能超過Ci,1≤i≤M;
步驟四、建立M個空集合S1,S2,…,Si,…,SM;
步驟五、利用式(1)獲得各條綁定后測試外殼掃描鏈的跨度:
SLi=min([Ci/2]+1,N)????(1)
式(1)中,SLi為第i條綁定后測試外殼掃描鏈的跨度;
步驟六、將相鄰的且綁定前測試外殼掃描鏈數(shù)量相同的電路層進(jìn)行合并,形成虛擬層;
步驟七、將所述虛擬層從最底層到最高層依次編號為1,2,…,j,…,Nv,1≤j≤Nv;
步驟八、按照虛擬層編號由高到低的順序?qū)⒏鱾€虛擬層中的內(nèi)部掃描鏈依次分配到所述集合S1,S2,…,Si,…,SM中;
步驟九、若步驟八分配成功則執(zhí)行步驟十,否則執(zhí)行步驟十六;
步驟十、按照虛擬層編號由高到低的順序?qū)⒏鱾€虛擬層中的測試外殼輸入掃描單元依次分配到所述集合S1,S2,…,Si,…,SM中;
步驟十一、若步驟十分配成功則執(zhí)行步驟十二,否則執(zhí)行步驟十六;
步驟十二、按照虛擬層編號由高到低的順序?qū)⒏鱾€虛擬層中的測試外殼輸出掃描單元依次分配到所述集合S1,S2,…,Si,…,SM中;
步驟十三、若步驟十二分配成功則執(zhí)行步驟十四,否則執(zhí)行步驟十六;
步驟十四、將suc+1的值賦給變量suc;
步驟十五、利用所述步驟十二完成后的集合S1,S2,…,Si,…,SM中所含的掃描元素獲得三維IP核的測試總時間,所述測試總時間為三維IP核綁定前的測試時間與綁定后的測試時間之和;所述掃描元素包括內(nèi)部掃描鏈、測試外殼輸入掃描單元和測試外殼輸出掃描單元;
步驟十六、判斷是否還有其它M個整數(shù)滿足的條件,若有,則轉(zhuǎn)到步驟三開始執(zhí)行,否則執(zhí)行步驟十七;
步驟十七、若所述變量suc的值大于0,在所述步驟十五的測試總時間中找出一個最小值,并記錄測試總時間取得最小值時M個集合S1,S2,…,Si,…,SM中所含的掃描元素;若所述變量suc的值等于0,則表明在所述閾值CTSV的約束下無法設(shè)計成功M條綁定后測試外殼掃描鏈,結(jié)束優(yōu)化;
步驟十八、根據(jù)步驟十七中M個集合S1,S2,…,Si,…,SM所含的掃描元素,分別將每個集合中的掃描元素進(jìn)行連接,從而形成優(yōu)化后的綁定前測試外殼掃描鏈和綁定后測試外殼掃描鏈。
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