[發明專利]一種提高ADC采樣速率的電路系統拓撲結構及方法

在審

• 申請號: 201410076829.X
• 申請日: 2014-03-04
• 公開（公告）號: CN103905047A
• 公開（公告）日: 2014-07-02
• 發明（設計）人: 劉成軍
• 申請（專利權）人: 東莞博用電子科技有限公司
• 主分類號: H03M1/12
• 分類號: H03M1/12
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 周詳

1.一種提高ADC采樣速率的電路系統拓撲結構，其特征在于，包括模擬信號預處理模塊、若干個通道的模擬信號采樣保持模塊、零傳輸損耗模擬開關、模擬信號驅動模塊及模數轉換器；所述模擬信號預處理模塊輸出端分別連接若干個通道的模擬信號采樣保持模塊；所述若干個通道的模擬信號采樣保持模塊分別連接零傳輸損耗模擬開關；所述零傳輸損耗模擬開關的輸出端連接模數轉換器。

2.根據權利要求1所述的提高ADC采樣速率的電路系統拓撲結構，其特征在于，所述模擬信號預處理模塊為跟隨處理外界信號，將外界信號轉換成可處理的電壓信號，送到模擬信號采樣保持模塊的模擬信號預處理模塊。

3.根據權利要求1所述的提高ADC采樣速率的電路系統拓撲結構，其特征在于，所述若干個通道的模擬信號采樣保持模塊為按照一定的時序周期性的工作，通過零傳輸損耗模擬開關和模擬信號驅動模塊把信號傳遞到模數轉換器處理的模擬信號采樣保持模塊。

4.根據權利要求1所述的提高ADC采樣速率的電路系統拓撲結構，其特征在于，所述零傳輸損耗模擬開關為用以進行通道間的切換，開關前后的信號沒有損耗零傳輸損耗模擬開關。

5.根據權利要求1所述的提高ADC采樣速率的電路系統拓撲結構，其特征在于，所述模擬信號驅動模塊為用以增強信號的驅動能力，驅動后面的模數轉換器的模擬信號驅動模塊。

6.一種提高ADC采樣速率的電路系統拓撲方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1，所述模擬信號預處理模塊始終跟隨處理外界信號，將外界信號轉換成可處理的電壓信號，送到若干個通道的采樣保持模塊；

S2，所述若干個通道的模擬信號采樣保持模塊周期性地工作，把外界信號完整地保存好，根據處理需要開啟對應的通道；

S3，連續處理多個多個通道時，由于已經把外界信號保存下來了，能反映外界信號的實時特性，所以不需要高速ADC就能實現正確的ADC轉換。