[發明專利]一種經緯儀指向修正模型正交化解耦修正方法

有效

• 申請號: 201410076485.2
• 申請日: 2014-03-04
• 公開（公告）號: CN103837159A
• 公開（公告）日: 2014-06-04
• 發明（設計）人: 羅一涵;張涯輝;陳科;鐘代均
• 申請（專利權）人: 中國科學院光電技術研究所
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00;G01C1/02
• 代理公司: 北京科迪生專利代理有限責任公司 11251
• 代理人: 孟卜娟;盧紀

1.一種經緯儀指向修正模型正交化解耦修正方法，其特征在于實現步驟如下：

（1）根據待修正設備的結構和環境，選擇合適的指向修正模型；

（2）將選擇的所述指向修正模型的各基函數進行正交化解耦，得到一組新的正交基函數；所述指向修正模型簡稱原模型；

（3）用所述新的正交基函數建立新的正交指向修正模型，簡稱新模型；

（4）用拍星數據或原模型系數對所述新模型系數進行求解；

（5）用所述新模型對待修正設備進行指向修正、誤差分量分析或模型外推。

2.根據權利要求1所述的經緯儀指向修正模型正交化解耦修正方法，其特征在于：所述第（2）步中，用函數的正交化法將原模型的各基函數進行正交化解耦，得到新的正交基函數，其中函數的正交化法使用施密特正交化法，公式為：

φ0=γ0φi=γi-Σj=1i-1<γi,φj><φj,φj>φj]]>

ζi=φi||φi||]]>

式中，i＝1,2,3,...是基函數的序數，j是遞推的臨時變量，γ_i是原模型方位上第i個非正交基函數，φ_i是方位上第i個正交化后的基函數，ζ_i是方位上第i個規范正交基函數，＜...,...＞表示內積，||...||表示求范數，即||φ_i||＝＜φ_i,φ_i＞；同理計算俯仰上的非正交基函數、正交基函數和規范正交基函數。

3.根據權利要求1所述的經緯儀指向修正模型正交化解耦修正方法，其特征在于：所述第（3）步中，用新的正交基函數建立新的正交指向修正模型，其公式為：

ΔA＝α^Tζ

ΔE＝β^Tξ

式中，ΔA和ΔE分別為待修正設備方位和俯仰上的系統誤差，ζ和ξ分別是方位和俯仰上新的正交基函數堆成的列向量，α和β分別是方位和俯仰上待估計的系數堆成的列向量。