[發(fā)明專利]一種識(shí)別檢測(cè)板的正反兩面的裝置及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410074436.5 | 申請(qǐng)日: | 2014-03-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104330549B | 公開(公告)日: | 2017-01-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張靜流;楊康 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 艾博生物醫(yī)藥(杭州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | B23Q7/16 | 分類號(hào): | B23Q7/16 |
| 代理公司: | 浙江杭州金通專利事務(wù)所有限公司33100 | 代理人: | 徐關(guān)壽,黎雙華 |
| 地址: | 310018 浙江省杭州市杭*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 識(shí)別 檢測(cè) 正反 兩面 裝置 方法 | ||
1.一種識(shí)別檢測(cè)板的正反兩面的裝置,其中,該裝置包括支撐檢測(cè)板的支撐壁:用于識(shí)別檢測(cè)板的第一面和第二面的部件:其中,該部件的頂端距離支撐壁的距離為h3,其中所述的檢測(cè)面的第一面帶有固定柱,其中,h1為檢測(cè)板的厚度,h2為固定柱的高度,并且h2>h1,其中h2>h3≥h1。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,固定柱不位于檢測(cè)板的中央位置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置,其特征在于,固定柱與檢測(cè)板的一邊沿的距離與該固定柱與所述一邊沿對(duì)立的另一邊沿的距離不相同。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置,其特征在于,固定柱與檢測(cè)板的一邊沿的距離小于該固定柱與所述一邊沿對(duì)立的另一邊沿的距離。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4之一所述的裝置,其特征在于,識(shí)別部件位于支撐壁的一側(cè),與支撐壁平行;或者識(shí)別部件與支撐壁形成角度D,00<D<1800。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,當(dāng)檢測(cè)板移動(dòng)并經(jīng)過識(shí)別部件后,不同的兩面的檢測(cè)板之間具有高度差。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置,其特征在于,當(dāng)檢測(cè)板具有固定柱的一面位于支撐壁上時(shí)或與支撐壁面對(duì)面接觸時(shí),檢測(cè)板上靠近固定柱的邊沿與識(shí)別部件的頂部接觸。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置,其特征在于,當(dāng)檢測(cè)板上不具有固定柱的一面位于支撐壁上時(shí),檢測(cè)板的固定柱與識(shí)別部件的頂部接觸。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述識(shí)別檢測(cè)板兩面的部件包括與支撐壁底部相連接的凹槽。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置,其特征在于,所述凹槽的外側(cè)壁與支撐壁是平行的。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置,其特征在于,凹槽外側(cè)壁頂端距離支撐壁的距離為2-4mm。
12.根據(jù)權(quán)利要求1-10之一所述的裝置,其特征在于,該裝置還包括一個(gè)去除支撐壁上檢測(cè)板的零件。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的裝置,其特征在于,所述零件位于支撐壁上,零件距離凹槽外側(cè)壁頂端的距離h4小于或等于檢測(cè)板上蓋的寬度b,并且距離h4大于檢測(cè)板的固定柱與檢測(cè)板上部的距離a。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置,其特征在于,所述零件包括位于支撐壁上排氣管,排氣口距離凹槽外側(cè)壁頂端的距離h4小于或等于檢測(cè)板上蓋的寬度b,并且距離h4大于檢測(cè)板的固定柱與檢測(cè)板上部的距離a。
15.一種識(shí)別檢測(cè)板的正反兩面的裝置,其中,該裝置包括支撐檢測(cè)板的支撐壁:用于識(shí)別檢測(cè)板的第一面和第二面的部件:其中,當(dāng)檢測(cè)板經(jīng)過該裝置的時(shí)候,在識(shí)別部件的位置;在支撐壁上形成高度不同的位置。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置,其中,高度不同位置通過以下方式實(shí)現(xiàn):該部件的頂端距離支撐壁的距離為h3,其中所述的檢測(cè)面的第一面帶有固定柱,其中,h1為檢測(cè)板的厚度,h2為固定柱的高度,并且h2>h1,其中h2>h3≥h1。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于艾博生物醫(yī)藥(杭州)有限公司,未經(jīng)艾博生物醫(yī)藥(杭州)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410074436.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種用于油田堵水的硅酸鹽堵劑
- 下一篇:一種高效泥漿處理劑
- 識(shí)別媒體、識(shí)別媒體的識(shí)別方法、識(shí)別對(duì)象物品以及識(shí)別裝置
- 一種探針卡識(shí)別裝置和方法
- 識(shí)別裝置、識(shí)別方法以及記錄介質(zhì)
- 識(shí)別裝置、識(shí)別系統(tǒng),識(shí)別方法以及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 識(shí)別程序、識(shí)別方法以及識(shí)別裝置
- 車載身份識(shí)別方法及系統(tǒng)
- 車載身份識(shí)別方法及系統(tǒng)
- 車載身份識(shí)別方法及系統(tǒng)
- 識(shí)別裝置、識(shí)別方法以及識(shí)別程序
- 識(shí)別裝置、識(shí)別方法及識(shí)別程序
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





