[發明專利]飛灰含碳量測量方法及系統有效
| 申請號： | 201410065902.3 | 申請日： | 2014-02-26 |
| 公開（公告）號： | CN103822880A | 公開（公告）日： | 2014-05-28 |
| 發明（設計）人： | 段遠源;楊震;劉東;于海童 | 申請（專利權）人： | 清華大學 |
| 主分類號： | G01N21/25 | 分類號： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 張大威 |
| 地址： | 100084 北京*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 飛灰含碳量 測量方法 系統 | ||
1.一種飛灰含碳量測量方法，其特征在于，包括以下步驟：
通過取樣器收集飛灰以使所述飛灰在所述取樣器表面形成飛灰層；
當所述飛灰層的厚度大于預設值時，得到所述飛灰層的半球或法向的光譜發射率；
根據所述光譜發射率，利用飛灰含碳量與光譜發射率的標定函數得到所述飛灰中的飛灰含碳量。
2.根據權利要求1所述的飛灰含碳量測量方法，其特征在于，所述預設值為[0.4，0.8]毫米之間。
3.根據權利要求1所述的飛灰含碳量測量方法，其特征在于，所述光譜發射率為波長范圍位于[2，5]微米的飛灰層的半球或法向的光譜發射率。
4.根據權利要求1-3任一項所述的飛灰含碳量測量方法，其特征在于，所述飛灰層在所述取樣器表面形成飛灰堆積結構。
5.一種飛灰含碳量測量系統，其特征在于，包括：
取樣器，用于收集飛灰以使所述飛灰在所述取樣器表面形成飛灰層；
光譜發射率測量模塊，用于在所述飛灰層的厚度大于預設值時，得到所述飛灰層的半球或法向的光譜發射率；
含碳量計算模塊，用于根據所述光譜發射率，利用飛灰含碳量與光譜發射率的標定函數得到所述飛灰中的飛灰含碳量。
6.根據權利要求5所述的飛灰含碳量測量系統，其特征在于，所述預設值為[0.4，0.8]毫米之間。
7.根據權利要求5所述的飛灰含碳量測量系統，其特征在于，所述光譜發射率為波長范圍位于[2，5]微米的飛灰層的半球或法向的光譜發射率。
8.根據權利要求5-7任一項所述的飛灰含碳量測量系統，其特征在于，所述飛灰層在所述取樣器表面形成飛灰堆積結構。
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