[發明專利]基于機器視覺的電容檢測系統和方法

有效

• 申請號: 201410064017.3
• 申請日: 2014-02-25
• 公開（公告）號: CN103808732A
• 公開（公告）日: 2014-05-21
• 發明（設計）人: 苗立剛
• 申請（專利權）人: 圖靈視控（北京）科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01R27/26;G01B11/00
• 代理公司: 北京愛普納杰專利代理事務所(特殊普通合伙) 11419
• 代理人: 王玉松

1.一種基于機器視覺的電容檢測系統，其特征在于，包括入料口子系統、傳送帶系統、光學室系統、電氣安裝箱系統，

所述光學室包括光學圖像采集系統、光學室潔凈冷卻排風系統、空氣凈化FFU系統；

所述傳送帶系統包括器件傳送帶系統、器件旋轉臺；

所述電器安裝箱包括系統電源池、算法主控子系統、運動控制PLC子系統；

所述入料口子系統包括入料抓取裝置、料倉、震料盤以及電容角度調整裝置；

所述電容檢測系統包括器件尺寸判別子系統、容量測量子系統、電容容性測試系統、電容外觀瑕疵檢測系統、合格電容自動打包系統、不合格電容分類剔除系統、管腳矯正裝置子系統、側面瑕疵檢測子系統、底部瑕疵檢測子系統、管腳瑕疵檢測子系統、頂部瑕疵檢測子系統之中的一種或多種。

2.如權利要求1所述電容檢測系統，其特征在于，所述震料盤包括料斗（26）、底盤（28）、控制器、直線送料器（27），所述料斗下面設有脈沖電磁鐵，可以使料斗垂直方向振動，由于彈簧片的傾斜，使料斗繞其垂直軸做扭擺振動；

所述入料抓取裝置，通過一個水平汽缸一個豎直汽缸和一個氣抓來實現，實現的流程如下：a.系統指示水平汽缸運行到原點，豎直氣缸下降到最低點，氣抓閉合抓取電容；b.豎直氣缸上升到最高點，然后水平汽缸運行到最遠端；c.氣抓松開放下電容，豎直氣缸上升到最高點，水平汽缸回歸原點；d.下一次抓取循環。

3.如權利要求1所述電容檢測系統，其特征在于，

所述器件傳送帶系統包括入料口部分傳送帶：完成從震料臺到入料口到尺寸測量到容量測量到管腳矯正到入料抓取的傳送；側面瑕疵檢測傳送帶：完成從旋轉臺之后到側面從瑕疵檢測的傳送；底部瑕疵檢測傳送帶：完成底部瑕疵檢測傳送；管腳瑕疵檢測傳送帶：完成管腳檢測傳送；頂部瑕疵檢測傳送帶：完成頂部瑕疵檢測傳送。

4.如權利要求2所述電容檢測系統，其特征在于，所述光學室內部檢測系統采用封閉光學室。

5.如權利要求1所述電容檢測系統，其特征在于，所述主控子系統包括中央控制CPU系統、鍵盤以及LCD顯示、機箱。

6.如權利要求2所述的玻璃杯檢測系統，其特征在于，所述主控子系統包括嵌入式平臺板、鍵盤以及LCD顯示、機箱；

所述嵌入式平臺板包括DSP子系統、FPGA子系統、ARM子系統，所述FPGA子系統通過EMIF接口與ARM子系統互連，所述DSP子系統通過HPI接口與ARM子系統互連；所述平臺還包括第一DDRII存儲器、第二DDRII存儲器、SRAM存儲器，所述FPGA子系統與第一DDRII存儲器和SRAM存儲器互連；所述DSP子系統包括2片或2片以上DSP處理器、與FPGA互連的SRIO接口、兩片DSP之間互連的SRIO接口、DDR2緩存控制器、EMAC控制模塊、DMA直接內存存取模塊，所述DDR2緩存控制器連接第二DDRII存儲器，所述EMAC控制模塊與千兆網PHY相連接，完成與工業相機的通訊。

7.如權利要求1的電容檢測系統，其特征在于，所述器件尺寸判別子系統，是用于判別經過角度調整之后的電容的尺寸是否合乎設定的電容規格，以避免混規格電容混入，系統包括工業相機、光源、光電傳感器、剔除機構；所述剔除機構包括自動剔除系統包括汽缸、氣抓，在電容尺寸測量子系統的成像工位后方固定位置設置一個氣抓，該氣抓根據前級檢測結果來進行電容剔除工作。

8.如權利要求1的電容檢測系統，其特征在于，所述本發明還包括人機界面子系統、自動裝箱子系統，所述自動裝箱子系統，是根據下述參數進行自動計算來控制運動系統的運行尺度參數來實現，1）單箱支持的電容的層數；2）每層電容的行數;3)每層電容的列數;4)電容的直徑以及高度。