[發明專利]一種基于直方圖均衡的斷層識別方法及設備在審
| 申請號: | 201410054736.7 | 申請日: | 2014-02-18 |
| 公開(公告)號: | CN103869358A | 公開(公告)日: | 2014-06-18 |
| 發明(設計)人: | 王恩利;楊午陽;周春雷;楊慶;鄢高韓;謝春輝;李琳;李三家;李海亮;董雪華 | 申請(專利權)人: | 中國石油天然氣股份有限公司 |
| 主分類號: | G01V1/28 | 分類號: | G01V1/28 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 任默聞 |
| 地址: | 100007 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 直方圖 均衡 斷層 識別 方法 設備 | ||
技術領域
本發明關于油氣勘探技術領域,特別是關于斷層的識別技術,具體的講是一種基于直方圖均衡的斷層識別的方法及設備。
背景技術
斷層、裂縫、溶洞等是裂縫型油氣藏(如碳酸鹽非均儲層)的重要組成部分,它們在油氣成藏過程中發揮著重要作用。斷層發育狀況是控制儲層油氣“生、儲、蓋、圈、運、保”的重要因素之一,因此,世界上許多大型油氣藏都與斷層發育密切相關。溶洞是由構造運動、巖溶等地質作用共同形成的地質體,在碳酸鹽巖儲層中具有油氣儲集功能,是我國塔里木探區重要的勘探目標之一。裂縫是重要的油氣運移通道,它的存在既能夠溝通分散的儲集空間如溶洞體系形成規模化的儲層,又能夠為各個儲集空間內部提供必要的滲透率。因此,開展高精度的斷層/裂縫檢測工作以支持后續的裂縫建模、油藏模擬等勘探開發研究,具有重要意義。
斷層/裂縫檢測技術的典型代表是相干系列技術。相干技術產生于上世紀90年代,目前已經發展三代算法。基于互相關的第一代算法(簡稱C1算法)是由Bahorich和Frmer于1995年提出,利用多道相似性的第二代算法(簡稱C2算法)是由Marfurt等于1998年提出,基于特征結構的第三代相干算法(簡稱C3算法)是由Gersztenkorn和Marfurt提出。
其中,C1算法的應用前提條件較為苛刻,C2算法的缺陷是對波形敏感而且對橫向振幅的變化不敏感。相比而言,C3算法彌補了上述兩者的不足,它在偏移后的三維數據體中,對每一樣點求得與周圍數據的相干性,形成一個表征相干性的三維數據體,即計算時窗內的數據相干性。這樣既可以壓制連續性,突出不連續性,又可以定量地反映地震特征的橫向變化,所得結果比地震水平切片的地質解釋更直觀。該方法主要應用于更客觀、更細致的斷層解釋、河道、砂體及裂隙預測。但整體而言,相干屬性技術的抗噪性能不佳,容易受到噪聲污染,因此經常存在斷層/裂縫與周圍背景對比度過低的情況,這導致結果圖像對斷層/裂縫的刻畫不夠清晰,甚至影響解釋人員對斷層解釋的判斷。例如,在多期次構造運動形成的斷層發育區域,偏移參數設置不當造成斷層邊界能量分散,導致斷層信息呈現云霧狀分布等。
發明內容
為了克服現有技術中存在的相干技術在刻畫斷層/裂縫方面易受噪聲污染的缺陷,本發明提供了一種基于直方圖均衡的斷層識別的方法及設備,以相干屬性為數據基礎,通過強化相干結果中大尺度斷層、中尺度裂縫的線狀特征與背景的對比度,實現發掘隱形斷層、提高顯性斷層/裂縫信息分辨率的目的。
本發明的目的之一是,提供一種基于直方圖均衡的斷層識別的方法,包括:采集地震數據;對所述的地震數據進行常規處理,得到疊后三維地震數據體;確定所述的疊后三維地震數據體的第三代相干屬性;根據所述的第三代相干屬性對所述的疊后三維地震數據體進行直方圖均衡處理,得到直方圖均衡處理后的疊后三維地震數據體;根據所述的直方圖均衡處理后的疊后三維地震數據體進行斷層識別。
本發明的目的之一是,提供了一種基于直方圖均衡的斷層識別的設備,包括:地震數據采集裝置,用于采集地震數據;常規處理裝置,用于對所述的地震數據進行常規處理,得到疊后三維地震數據體;相干屬性確定裝置,用于確定所述的疊后三維地震數據體的第三代相干屬性;直方圖均衡處理裝置,用于根據所述的第三代相干屬性對所述的疊后三維地震數據體進行直方圖均衡處理,得到直方圖均衡處理后的疊后三維地震數據體;斷層識別裝置,用于根據所述的直方圖均衡處理后的疊后三維地震數據體進行斷層識別。
本發明的有益效果在于,提供了一種基于直方圖均衡的斷層識別的方法及設備,基于圖像處理中直方圖均衡分析,適用于增強疊后相干屬性對裂縫識別的精度,以相干屬性為數據基礎,通過強化相干結果中大尺度斷層、中尺度裂縫的線狀特征與背景的對比度,實現發掘隱形斷層、提高顯性斷層/裂縫信息分辨率的目的,可以用來提高圖像的全局對比度,尤其對圖像中有效數據的對比度相當接近的情況,具有明顯的改善效果。
為讓本發明的上述和其他目的、特征和優點能更明顯易懂,下文特舉較佳實施例,并配合所附圖式,作詳細說明如下。
附圖說明
為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案,下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為本發明實施例提供的一種基于直方圖均衡的斷層識別的方法的流程圖;
圖2為圖1中的步驟S104的具體流程圖;
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