[發明專利]一種用于檢測平臺的待測元件定位裝置

有效

• 申請號: 201410048416.0
• 申請日: 2014-02-12
• 公開（公告）號: CN103776478A
• 公開（公告）日: 2014-05-07
• 發明（設計）人: 郭隱彪;張東旭;楊平;楊旭
• 申請（專利權）人: 廈門大學
• 主分類號: G01D11/00
• 分類號: G01D11/00
• 代理公司: 廈門南強之路專利事務所(普通合伙) 35200
• 代理人: 馬應森

技術領域

本發明涉及元件定位裝置，尤其是涉及可對工件的擺放角度進行精確調整的一種用于檢測平臺的待測元件定位裝置。

背景技術

零件的精度是零件應用的重要依據，而零件精度主要依靠檢測得到，檢測誤差是影響零件精度評估的一個重要因素。目前，對于非球面等高精度元件，一些檢測方法主要通過對其母線或與其母線相垂直的方向來測量，如果工件擺放位置與理想檢測方向偏差過大，則檢測數據不能真實的反映待測工件的各項精度指標。然而目前許多檢測平臺的定位方法均為手動感官調整，這樣定位精度無法保證。中國專利CN101046494公開一種垂直度定位裝置。該垂直度定位裝置包括一定位支架及一控制電路，該定位支架包括一具引線接口的本體，間隔設置在該本體上的一具側面的一第一定位柱及一第二定位柱，該第一定位柱的同一側面上間隔設置兩個感應元件，每一感應元件包括一抵接端、一正感應端及一負感應端，該抵接端與該正感應端及該負感應端中其中一端連接，該兩個抵接端位于同一直線設置，該控制電路一端與該感應元件的正感應端及負感應端電連接，另一端與該引線接口電連接。通過該感應元件與待測元件的接觸與否作為判斷該待測元件依據。

發明內容

本發明的目的在于針對現有檢測設備中待測元件定位方法存在的不足，提供可對工件的擺放角度進行精確調整，檢測精度較高的一種用于檢測平臺的待測元件定位裝置。

本發明設有旋轉平臺、旋轉基座、換擋機構、粗調機構、矩形磁鐵塊、角度顯示器、微調機構、固定塊、非接觸式傳感器、PC機；

所述旋轉平臺通過軸與旋轉基座連接，軸通過齒輪、粗調齒條和微調齒條分別與粗調機構和微調機構連接，軸上固定有圓形光柵，圓形光柵用于檢測軸的旋轉角度并通過角度顯示器顯示；粗調機構與微調機構通過連接桿連接，粗調機構與微調機構可沿旋轉基座上的導向槽運動，粗調機構通過連桿與換擋機構連接；固定塊固定在旋轉基座上并可在豎直方向轉動；

通過矩形磁鐵塊與旋轉平臺的吸力作用將待測工件固定在旋轉平臺上，所述非接觸式傳感器固定在檢測平臺測頭所在的軸上，并通過導線與PC機連接；非接觸式傳感器測量待測工件某一端面與其距離，PC機通過對測量數據的計算，得出待測工件當前位置與理想位置的夾角；通過換擋機構選擇粗調機構或微調機構對待測工件的角度進行調節，調節角度通過角度顯示器顯示；調整待測工件將固定塊旋至與旋轉平臺接觸，通過吸力作用將旋轉平臺固定；

所述換擋機構設有曲軸、曲軸固定底座、換擋上限位塊、換擋下限位塊和手柄；曲軸通過連桿與粗調絲桿螺母底座連接，旋轉手柄驅動曲軸旋轉，帶動粗調機構與微調機構沿導向槽移動，換擋上限位塊、換擋下限位塊用于固定曲軸的位置，當曲軸處下限位時，粗調齒條與齒輪配合，微調齒條與齒輪分開，此時可進行粗調；當曲軸處于上限位時，微調齒條與齒輪配合，粗調齒條與齒輪分開，此時可進行微調；

所述粗調機構設有粗調絲桿螺母、粗調絲桿、粗調絲桿螺母底座、粗調齒條、粗調旋鈕、粗調限位塊，粗調齒條通過齒條與軸上的齒輪相互嚙合，并與粗調絲桿固定在一起；粗調絲桿螺母通過軸承與粗調絲桿螺母底座連接，粗調旋鈕與粗調絲桿螺母固定連接；旋轉粗調旋鈕帶動粗調絲桿螺母轉動，使粗調絲桿伸縮運動，驅動粗調齒條伸縮，進而帶動軸旋轉，實現旋轉平臺的轉動；通過粗調限位塊對粗調齒條伸長的極限位置進行限定，避免粗調絲桿脫離粗調絲桿螺母；所述微調機構的結構與粗調機構相同，其中微調絲桿螺母和微調絲桿的螺距遠小于粗調絲桿螺母及粗調絲桿的螺距；粗調機構對待測工件進行大角度粗略調整，微調機構對待測工件進行微小角度精細調整，粗調機構調節范圍為-5°～5°，微調機構調節范圍為-1°～1°。

所述固定塊可采用磁性固定塊。

本發明可對工件的擺放角度進行精確調整，通過矩形磁鐵塊與旋轉平臺的吸力作用，將待測工件固定在旋轉平臺上；非接觸式傳感器用于測量待測工件某一端面與其距離，PC機通過對測量數據的計算，得出待測工件當前位置與理想位置的夾角；粗調機構與微調機構實現工件的角度調節，調節角度通過角度顯示器顯示；換擋機構實現粗調方式和微調方式之間的轉換。本發明安裝簡便，操作簡單，可進行微調和粗調，保證了定位精度。同時，本發明不影響檢測平臺的檢測精度，可與大多數檢測平臺聯合使用，具有普遍性。

附圖說明

圖1為本發明實施例的結構示意圖。

圖2為本發明實施例的內部結構示意圖。