[發(fā)明專利]一種瓷質(zhì)懸式絕緣子缺陷診斷方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410045043.1
• 申請日: 2014-02-07
• 公開（公告）號: CN103792238A
• 公開（公告）日: 2014-05-14
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李唐兵
• 申請（專利權(quán)）人: 國家電網(wǎng)公司;國網(wǎng)江西省電力科學(xué)研究院
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01J5/10
• 代理公司: 南昌市平凡知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 36122
• 代理人: 姚伯川

1.一種瓷質(zhì)懸式絕緣子缺陷診斷方法，其特征在于，所述方法通過分析瓷質(zhì)懸式絕緣子串的溫度特征信息，引入數(shù)值分析理論對基于紅外熱像圖譜的絕緣子缺陷進行診斷；所述方法的步驟為：

（1）在待檢測現(xiàn)場采集n串無明顯異常絕緣子串的紅外熱像圖譜，若待檢測現(xiàn)場共有m串同類型瓷質(zhì)懸式絕緣子串，則n滿足以下條件：

0.1×m<n<0.5×m，且n>2；

（2）提取步驟（1）所述絕緣子串紅外熱像圖譜中每片絕緣子鋼帽處溫度，按絕緣子位置保存；

（3）將步驟（2）所述n串絕緣子相同位置絕緣子鋼帽的溫度求算術(shù)平均后得到基準溫度，為該檢測現(xiàn)場該類型絕緣子串的基準溫度特征信息；

（4）采集待診斷絕緣子串的紅外熱像圖譜，然后按步驟（2）所述方法獲取待診斷絕緣子串的溫度，為待診斷絕緣子串特征信息；

（5）將步驟（4）所述待檢測絕緣子串的溫度特征信息減步驟（3）所述基準溫度特征信息，得到待檢測絕緣子的缺陷診斷信息；所述缺陷診斷信息去除最大值和最小值后求均值乘1.2得到上閾值；所述缺陷診斷信息去除最大值和最小值后求均值乘0.8得到下閾值；

（6）將步驟（5）所述待檢測絕緣子的缺陷診斷信息與上下閥值比較大小；缺陷診斷信息大于上閥值信息所對應(yīng)位置的絕緣子可判斷為低值絕緣子；小于下閥值信息所對應(yīng)位置的絕緣子可判斷為零值絕緣子。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述瓷質(zhì)懸式絕緣子缺陷診斷方法，其特征在于，所述絕緣子串的溫度特征信息是指絕緣子鋼帽處的溫度信息；所述絕緣子鋼帽處的溫度可以是鋼帽處的平均溫度或最高溫度，也可以是運用圖像處理技術(shù)實施降噪、去干擾信息后鋼帽處的平均溫度或最高溫度。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述瓷質(zhì)懸式絕緣子缺陷診斷方法，其特征在于，所述步驟（2）絕緣子位置是指每片絕緣子在絕緣子串中所處的位置，在指定方向后，每片絕緣子的位置編號是唯一的；所述方向是指編號起始是導(dǎo)線側(cè)還是構(gòu)架側(cè)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述瓷質(zhì)懸式絕緣子缺陷診斷方法，其特征在于，所述低值絕緣子的絕緣電阻在10兆歐與500兆歐之間；所述零值絕緣子的絕緣電阻小于10兆歐。