[發(fā)明專利]一種通用化測(cè)試系統(tǒng)機(jī)柜無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410031925.2 | 申請(qǐng)日： | 2014-01-23 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN103763884A | 公開（公告）日： | 2014-04-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 杜海;廖選超;胡青;賀靜 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 北京機(jī)電工程研究所 |
| 主分類號(hào)： | H05K7/02 | 分類號(hào)： | H05K7/02 |
| 代理公司： | 中國(guó)有色金屬工業(yè)專利中心 11028 | 代理人： | 李子健;李迎春 |
| 地址： | 100074 *** | 國(guó)省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說(shuō)明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 通用 測(cè)試 系統(tǒng) 機(jī)柜 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種通用化測(cè)試系統(tǒng)機(jī)柜，所述機(jī)柜內(nèi)包括VXI機(jī)箱、綜合信號(hào)處理設(shè)備、鍵盤顯示器一體機(jī)，所述VXI機(jī)箱上設(shè)有所述綜合信號(hào)處理設(shè)備，所述綜合信號(hào)處理設(shè)備上設(shè)有鍵盤顯示器一體機(jī)，在所述綜合信號(hào)處理設(shè)備后端連接有測(cè)試適配器；其特征在于，所述測(cè)試適配器的最外側(cè)位于所述機(jī)柜敞口端內(nèi)。
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會(huì)員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京機(jī)電工程研究所，未經(jīng)北京機(jī)電工程研究所許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410031925.2/1.html，轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法
