[發明專利]一種提高硬盤可靠性的方法

有效

• 申請號: 201410024967.3
• 申請日: 2014-01-20
• 公開（公告）號: CN103761057A
• 公開（公告）日: 2014-04-30
• 發明（設計）人: 吳非;謝長生;周建;李想
• 申請（專利權）人: 華中科技大學
• 主分類號: G06F3/06
• 分類號: G06F3/06
• 代理公司: 華中科技大學專利中心 42201
• 代理人: 朱仁玲

技術領域

本發明屬于計算機存儲領域，更具體地，涉及一種提高硬盤可靠性的方法。

背景技術

存儲系統正面臨著巨額電費和高錯誤率等問題，而這些都與存儲系統的過高溫度有關，實驗統計發現溫度在很大程度上影響硬盤的壽命。針對能耗較大的問題，當前存儲系統的節能策略是盡可能將負載集中到少數的硬盤，讓更多的硬盤處于休眠狀態，減少高速旋轉引起的能耗。即關注于少量硬盤上的大量負載，但這種策略會導致高負載硬盤始終處于高溫工作狀態，引起硬盤故障率急劇上升。并且在少量硬盤上進行過多的IO操作可能會導致硬盤間溫度的差異，這樣系統不能有效地制冷。與CPU相比，在現有條件下對存儲系統進行溫度控制更為困難，首先，存儲系統中的溫度和電量之間的關系是非線性和離散的，這就給溫度控制帶來了極大的計算量；其次，存儲系統反應慢的特點決定了在精確控制下，系統很容易進入不穩定狀態；最后，對硬盤的管理還必須考慮磁盤的使用次數有限。另外，溫度的提高會使存儲系統就面臨性能瓶頸。因此，控制溫度從而提高存儲設備可靠性具有很重大的意義。

發明內容

針對現有技術的以上缺陷或改進需求，本發明提供了一種提高硬盤可靠性的方法，其目的在于通過引入溫度預測和反饋機制，有效提高存儲設備的可靠性。

為實現上述目的，按照本發明的一個方面，提供了一種提高硬盤可靠性的方法，包括以下步驟：

（1）獲取不同采樣時刻硬盤陣列的參數，包括溫度（t0,t1,…,tn）、性能（p0,p1,…,pn）、運行時間（o0,o1,…,on）和功耗（c0,c1,…,cn），其中n表示采樣點的數量；

（2）計算不同采樣時刻硬盤陣列的參數所對應的隸屬值，包括溫度（T_t0,T_t1,…,T_tn）、性能（P_p0,P_p1,…,P_pn）、運行時間（O_o0,O_o1,…,O_on）以及功耗（C_c0,C_c1,…,C_cn）；

（3）獲取步驟（2）獲得的硬盤溫度、性能、運行時間對應的隸屬值的平均值A=（T_t0+T_t1+…+T_tn）/n、B=（P_t0+P_t1+…+P_tn）/n、C=（O_t0+O_t1+…+O_tn）/n以及功耗對應隸屬值的最小值D；

（4）獲取該硬盤陣列的聚合值F=aA+bB+cC+dD，其中a=0.1，b=0.2，c=0.3，d=0.4；

（5）改變磁盤陣列的大小，重復上述步驟（1）至（4），以獲取不同大小磁盤陣列對應的聚合值，并找到使聚合值最大對應的磁盤陣列作為最可靠的磁盤陣列。

優選地，步驟（2）具體采用以下公式：

Ttn=1,tn≤3050-tn50-30,30<tn<500,tn≥50]]>