[發(fā)明專利]時(shí)間序列處理方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410019792.7
• 申請(qǐng)日: 2014-01-16
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104794112B
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-05-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 秦曉飛
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)移動(dòng)通信集團(tuán)山西有限公司
• 主分類號(hào): G06F17/30
• 分類號(hào): G06F17/30
• 代理公司: 北京派特恩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270
• 代理人: 張穎玲;王黎延

1.一種時(shí)間序列處理方法，其特征在于，所述方法包括：

分析第一時(shí)間序列，獲取至少一個(gè)與所述第一時(shí)間序列相關(guān)的第二時(shí)間序列；其中，所述第一時(shí)間序列包括：第一服務(wù)商每日新增用戶數(shù)；所述第二時(shí)間序列包括：第二服務(wù)商每日新增用戶數(shù)和第三服務(wù)商每日新增用戶數(shù)；

對(duì)所述第二時(shí)間序列進(jìn)行多元回歸處理，獲得以所述第二時(shí)間序列為因變量且擬合序列為自變量的第一函數(shù)；

根據(jù)所述第一函數(shù)計(jì)算出對(duì)應(yīng)于所述第一時(shí)間序列的擬合序列；

檢驗(yàn)所述擬合序列與所述第一時(shí)間序列的差異；

所述擬合序列與所述第一時(shí)間序列的差異不大于閾值時(shí)，求取所述擬合序列與所述第一時(shí)間序列的殘差序列；

對(duì)所述殘差序列進(jìn)行平穩(wěn)化處理，獲取對(duì)應(yīng)于所述殘差序列的平穩(wěn)序列；

對(duì)所述平穩(wěn)序列進(jìn)行自回歸移動(dòng)平均處理，獲取關(guān)于平穩(wěn)序列中前后兩元素關(guān)系的第二函數(shù)；

根據(jù)所述第一函數(shù)及所述第二函數(shù)，獲取預(yù)測(cè)時(shí)間的預(yù)測(cè)結(jié)果；所述預(yù)測(cè)結(jié)果包括：第一服務(wù)商每日新增用戶數(shù)在預(yù)測(cè)階段的值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢驗(yàn)所述擬合序列與所述第一時(shí)間序列的差異為：

利用F檢驗(yàn)處理所述檢驗(yàn)擬合序列與所述第一時(shí)間序列獲取差異。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述對(duì)所述殘差序列進(jìn)行平穩(wěn)化處理，獲取對(duì)應(yīng)于所述殘差序列的平穩(wěn)序列包括：

步驟S1：對(duì)殘差序列進(jìn)行差分處理，獲取第一差分序列；

步驟S2：對(duì)所述第一差分序列進(jìn)行平穩(wěn)性檢驗(yàn)，若檢驗(yàn)通過(guò)，則所述第一差分序列為所述平穩(wěn)序列；若檢驗(yàn)未通過(guò)，則執(zhí)行步驟S3至步驟S4；

步驟S3：對(duì)第n差分序列進(jìn)行差分處理，獲取第n+1差分序列；其中，所述n為不小于1的整數(shù)；

步驟S4：對(duì)所述第n差分序列進(jìn)行平穩(wěn)性檢驗(yàn)，若檢驗(yàn)通過(guò)，則所述第n差分序列為所述平穩(wěn)序列，若檢驗(yàn)未通過(guò)，則返回步驟S3。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述步驟S2中采用DFDF檢驗(yàn)對(duì)所述第一差分序列進(jìn)行平穩(wěn)性檢驗(yàn)；所述步驟S4中采用DFDF檢驗(yàn)對(duì)所述第n差分序列進(jìn)行平穩(wěn)性檢驗(yàn)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述對(duì)所述平穩(wěn)序列進(jìn)行自回歸移動(dòng)平均處理，獲取關(guān)于平穩(wěn)序列中前后兩元素關(guān)系的第二函數(shù)包括：

計(jì)算平穩(wěn)序列的自相關(guān)函數(shù)與偏自相關(guān)函數(shù)；

根據(jù)所述自相關(guān)函數(shù)與所述偏自相關(guān)函數(shù)的拖尾和截尾狀況，確定自回歸模型的階數(shù)和移動(dòng)平均模型的階數(shù)；

利用所述平穩(wěn)序列的自協(xié)方差函數(shù)、自相關(guān)函數(shù)、自回歸模型的階數(shù)以及自回歸模型，求解出自回歸模型中一次殘差函數(shù)的一次殘差估計(jì)參數(shù)，并根據(jù)所述一次殘差函數(shù)形成殘差估計(jì)序列；

根據(jù)所述殘差序列與所述殘差估計(jì)序列之間的離差平方、移動(dòng)平均模型的階數(shù)以及移動(dòng)平均模型，獲取關(guān)于所述殘差估計(jì)參數(shù)的二次殘差函數(shù)；

將所述二次殘差函數(shù)替換所述一次殘差函數(shù)中的依次參數(shù)估計(jì)參數(shù)，形成所述第二函數(shù)。