[發明專利]指紋比對方法

有效

• 申請號: 201410014344.8
• 申請日: 2014-01-13
• 公開（公告）號: CN104077560B
• 公開（公告）日: 2017-07-04
• 發明（設計）人: 吳春生;馮才剛;鐘濤;孫錦平;孫忠
• 申請（專利權）人: 北京市公安局刑事偵查總隊
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00
• 代理公司: 北京東方匯眾知識產權代理事務所(普通合伙)11296
• 代理人: 張淑賢

技術領域

本發明涉及一種指紋自動識別方法，尤其涉及一種指紋比對方法。

背景技術

指紋自動識別技術分為指紋特征提取和指紋特征比對兩個方面?，F有的指紋特征比對主要是對兩個指紋的特征點集進行相互比對，搜索最佳匹配方式，計算出兩個點集的相似度。根據相似度閾值判斷兩者是否傾向于同一。

目前的指紋特征比對過程中的指紋比對相似度判斷中，對于所有特征點的權值，即貢獻率是相同的。即使一個非常有特殊性的特征點在指紋比對相似度判斷中，也只是和一個普通的特征點（即出現頻率較高的特征點）同樣對待。但指紋不同區域的特征點分布并不是均勻的，如在中心、三角區域分布的相對密集、在邊緣或稀疏區分布的相對較少。同時特征點角度的取值也是隨區域不同呈現一定的規律性變化。因此，將所有特征點同等對待就不能體現出因為特征點分布位置、角度的不同所帶來的個體差異的特殊性，即單純的以特征點對應上的多少確定兩指紋的相似度分數存在一定的局限性，使得比對的準確率降低。

發明內容

本發明目的是提供一種考慮每個特征點的特性的指紋比對方法。

本發明解決技術問題采用如下技術方案：一種指紋比對方法，包括以下步驟：

S10：讀取存儲裝置中的指紋，提取所述存儲裝置中的指紋的特征點結構數據，進行預處理，得到預設指紋特征點數據；

S20：對所述預設指紋特征點數據中的特征點進行統計，得到每個特征點的權值；

S30：對待比對指紋進行處理，提取出待比對指紋的特征點數據；

S40：將所述待比對指紋的特征點數據與預設指紋特征點數據進行比對；

S50：將所有比中的特征點結合所述比中的特征點的權值，得到最終相似度分數；

S60：根據所述最終相似度分數輸出比對結果。

可選的，所述步驟S10中的“預處理”步驟為：將特征點結構數據存入內存中，以得到預設指紋特征點數據。

可選的，在所述步驟S10和步驟S20之間還包括：

S15：剔除所述存儲裝置中無中心點的指紋、特征點個數少于預設值的指紋以及中心點位置的偏離超過閾值的指紋。

可選的，在所述步驟S15和步驟S20之間還包括：

S17：將所述存儲裝置中的指紋的中心點移至于統計區域的中心；

S18：將所述存儲裝置中的指紋的中心角度調整為豎直方向。

可選的，所述步驟S20具體為：

S201：令N為所述存儲裝置中的指紋總數，M為指紋數組，第P枚指紋的特征點集合表示為其中p∈[1,N]內的整數，s∈[1,128]內的整數，為第P枚指紋的第s個特征點；

S202：以所述指紋的中心點為中心，800×800像素為有效范圍劃定所述統計區域；

S203：x,y,θ分別為描述特征點的三個參數，位于統計區域(x_i,y_j,θ_k)位置的第P枚指紋的第s特征點對應標記為，則有x_ps=x_i,y_ps=y_j,θ_ps=θ_k，；其中i,j∈[0,799]內的整數，k∈[0,360)內的整數；

S204：對于具體位置(x_i,y_j,θ_k)而言，其特征點分布統計數據設為t，則有式1-1：

式1-1；

S205：所述存儲裝置中的第P枚指紋的特征點集其對應的統計數據集合為；則權值集合采用式1-2進行計算，其中式1-2為：

式1-2。

可選的，所述特征點包括奇異點和細節點。

可選的，所述步驟S50具體為：

S501：根據所比中的特征點的權值得到所述指紋的權值系數；

S502：根據所述比中的特征點計算得到原始相似度分數；

S503：在原始相似度分數的基礎上乘以權值系數得到最終相似度分數。

可選的，所述步驟S501具體為：

S5011：將所有比中的特征點所對應的權值累加得到累加權值；

S5012：將所述累加權值除以比中特征點的數量得到權值系數。

可選的，所述步驟S502具體為：