[發明專利]光纖陀螺振動-溫度交聯耦合度的測試方法

有效

• 申請號: 201410011135.8
• 申請日: 2014-01-10
• 公開（公告）號: CN103791917B
• 公開（公告）日: 2017-01-04
• 發明（設計）人: 張登偉;董丹丹;車雙良;舒曉武;劉承
• 申請（專利權）人: 浙江大學
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司33200
• 代理人: 張法高

1.一種光纖陀螺振動-溫度交聯耦合度的測試裝置，其特征在于：包括振動臺、工裝（3）、溫度控制系統、光纖陀螺（6）、蓋子（7），振動臺包括振動臺基座（1）、振動臺臺面（2），溫度控制系統包括加熱模塊（4）、溫度傳感器（5）、溫度采集模塊、溫度控制模塊、溫度設定模塊，振動臺基座（1）上設置有振動臺臺面(2)，振動臺臺面（2）上設置有工裝（3），工裝（3）內部設有凹槽，加熱模塊（4）設置在工裝（3）的凹槽內，加熱模塊（4）上設有溫度傳感器（5）、光纖陀螺（6），蓋子（7）蓋在工裝（3）上，溫度傳感器（5）與溫度采集模塊連接，加熱模塊（4）與溫度控制模塊連接，溫度設定模塊與溫度控制模塊相連。

2.一種使用如權利要求1所述光纖陀螺振動-溫度交聯耦合度的測試裝置的測試方法，其特征在于它的步驟如下：

1）將溫度控制系統中的加熱模塊（4）通過工裝（3）固定于振動臺臺面（2）上，將光纖陀螺（6）、溫度傳感器（5）分別固定于加熱模塊（4）上，溫度傳感器（5）與溫度采集模塊連接，加熱模塊（4）與溫度控制模塊連接，光纖陀螺（6）和數據采集處理系統連接；

2)振動臺靜止，開啟光纖陀螺（6），打開溫度控制系統，在溫度設定模塊設置溫度控制系統的溫度為20℃，通過溫度控制模塊、加熱模塊（4）、溫度傳感器（5）及溫度采集模塊構成的閉環控制系統來確保光纖陀螺（6）的環境溫度為恒溫20℃；

3)開啟數據采集處理系統采集光纖陀螺（6）的輸出數據T分鐘，得到溫度為20℃時光纖陀螺的零偏；

4)開啟振動臺，控制振動臺產生頻率為10Hz-2kHz、加速度為5g的振動，通過數據采集處理系統采集光纖陀螺（6）的輸出數據T分鐘，關閉振動臺，得到溫度為20℃、振動條件下的光纖陀螺的零偏；

5)計算溫度為20℃、頻率為10Hz-2KHz、加速度為5g的振動條件下的光纖陀螺振動-溫度交聯耦合度，；

6)振動臺靜止，開啟光纖陀螺（6），打開溫度控制系統，在溫度設定模塊設置溫度控制系統的溫度分別為恒溫30℃、40℃、50℃、60℃，重復步驟3）～步驟5），得到振動頻率為10Hz-2kHz，加速度為5g的條件下，溫度為30℃時的光纖陀螺振動-溫度交聯耦合度、溫度為40℃時的光纖陀螺振動-溫度交聯耦合度、溫度為50℃時的光纖陀螺振動-溫度交聯耦合度、溫度為60℃時的光纖陀螺振動-溫度交聯耦合度；

7)取測得的不同溫度條件下的光纖陀螺振動-溫度交聯耦合度、、、、中的最大值作為光纖陀螺振動-溫度交聯耦合度。

3.如權利要求2所述的一種光纖陀螺振動-溫度交聯耦合度的測試方法，其特征在于所述的溫度傳感器（5）采用熱敏電阻，測溫范圍為-40℃～125℃。

4.如權利要求2所述的一種光纖陀螺振動-溫度交聯耦合度的測試方法，其特征在于所述的測量時間T分鐘，在測量過程中要求T大于1。

5.如權利要求2所述的一種光纖陀螺振動-溫度交聯耦合度的測試方法，其特征在于所述的步驟3）中的光纖陀螺（6）的零偏和所述的步驟4）中的光纖陀螺（6）的零偏是光纖陀螺（6）的輸出數據在測量時間T內的平均值。