[發(fā)明專利]晶粒檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410007957.9 | 申請日： | 2014-01-03 |
| 公開（公告）號： | CN104764478B | 公開（公告）日： | 2017-04-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 羅文期;林裕超;李昆峰 | 申請（專利權(quán)）人： | 致茂電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01D21/00 | 分類號： | G01D21/00 |
| 代理公司： | 北京律誠同業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11006 | 代理人： | 徐金國 |
| 地址： | 中國臺灣桃園縣龜*** | 國省代碼： | 臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 晶粒 檢測 方法 | ||
【說明書】：
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