[發明專利]離子輸送裝置以及使用該裝置的質量分析裝置

有效

• 申請號: 201380077511.7
• 申請日: 2013-06-17
• 公開（公告）號: CN105308714B
• 公開（公告）日: 2017-09-01
• 發明（設計）人: 西口克;今津亞季子;榮歐樹
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: H01J49/06
• 分類號: H01J49/06;H01J49/42
• 代理公司: 上海市華誠律師事務所31210
• 代理人: 徐樂樂

1.一種離子輸送裝置，其通過電場的作用收集離子并將該離子向后段輸送，所述離子輸送裝置的特征在于，具有：

a)電極組，其由多個環狀電極形成，所述多個環狀電極以向后段輸送離子的開口部為中心被配置為大致同心圓狀，各環狀電極的徑向的截面形狀為，至少面向離子到來的一側的部分為彎曲狀或組合多條直線而成的虛擬彎曲狀；以及

b)電壓施加部，其對所述電極組中包含的各個環狀電極分別施加電壓，對該多個環狀電極中在徑向上相鄰的環狀電極施加相位相互反轉了180°的高頻電壓，且對各環狀電極分別施加不同的直流電壓以形成使離子從所述電極組的外周側朝向內周側移動的直流電位梯度，

所述離子輸送裝置相比于實現相同程度的離子收集效率以及離子輸送效率的、各環狀電極的徑向的截面形狀為矩形的其他離子輸送裝置，電極數較少。

2.如權利要求1中所述的離子輸送裝置，其特征在于，

所述離子輸送裝置還具備排斥電極，其與所述電極組相對配置，并形成使離子往朝向該電極組的方向移動的直流電場，

以使所述離子輸送裝置能夠在所述電極組與所述排斥電極之間的空間內捕捉離子。

3.如權利要求1中所述的離子輸送裝置，其特征在于，

將所述電極組相對地配置2組，以使所述離子輸送裝置能夠在該2組的電極組之間的空間捕捉離子。

4.一種質量分析裝置，其特征在于，

所述質量分析裝置是使用如權利要求2或權利要求3所述的離子輸送裝置的質量分析裝置，

所述質量分析裝置具有：

使來源于試樣成分的離子解離的碰撞室；和根據質荷比對在該碰撞室生成的離子進行分離的質量分離部，所述質量分析裝置的特征在于，

在所述碰撞室與所述質量分離部之間配置有能夠捕捉離子的所述離子輸送裝置。

5.一種離子輸送裝置，其通過電場的作用收集離子并將該離子向后段輸送，所述離子輸送裝置的特征在于，具有：

a)電極組，其由沿離子光軸相互分離規定間隔地排列的多個環狀電極構成，各環狀電極的徑向的截面形狀為，至少面向離子所通過的該環狀電極的中央開口部的部分為彎曲狀或組合多條直線而成的虛擬彎曲狀；以及

b)電壓施加部，其對所述電極組中包含的各個環狀電極分別施加電壓，對該多個環狀電極中在徑向上相鄰的環狀電極施加相位相互反轉了180°的高頻電壓，且對各環狀電極分別施加直流電壓以形成使離子沿著離子光軸行進的直流電位梯度，

所述離子輸送裝置相比于實現相同程度的離子收集效率以及離子輸送效率的、各環狀電極的徑向的截面形狀為矩形的其他離子輸送裝置，電極數較少。

6.一種質量分析裝置，其特征在于，

所述質量分析裝置是使用如權利要求1或權利要求5所述的離子輸送裝置的質量分析裝置，

在離子源與分析室之間具有真空度依次變高的n個中間真空室，其中n為1以上的整數，所述離子源在大致大氣壓環境下對試樣成分進行電離，所述分析室被維持在高真空環境下，并配置有根據質荷比對離子進行分離的質量分離部，

在從所述離子源起朝向所述分析室數的第m個的第m中間真空室的內部，配置有所述離子輸送裝置，其中m為1以上n以下的整數。

7.如權利要求6中所述的質量分析裝置，其特征在于，

所述m為1。

8.如權利要求6或權利要求7所述的質量分析裝置，其特征在于，

分別設置第m導入孔以及第m+1導入孔，以使第m中心軸與第m+1中心軸不位于同一直線上的，所述第m中心軸是從位于所述第m中間真空室的前段的離子源或第m-1中間真空室向該第m中間真空室導入離子的第m導入孔的中心軸，所述第m+1中心軸是從第m中間真空室向位于下一段的第m+1中間真空室或分析室導入離子的第m+1導入孔的中心軸。

9.如權利要求8中所述的質量分析裝置，其特征在于，

在配置于所述第m中間真空室內的所述離子輸送裝置的跟前設置離子偏轉部，所述離子偏轉部形成使沿所述第m中心軸被導入的離子向沿著所述第m+1中心軸方向移動的直流電場。