[發明專利]質譜儀

有效

• 申請號: 201380076420.1
• 申請日: 2013-05-08
• 公開（公告）號: CN105190831B
• 公開（公告）日: 2017-03-08
• 發明（設計）人: 藤田慎二郎
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: H01J49/42
• 分類號: H01J49/42
• 代理公司: 上海市華誠律師事務所31210
• 代理人: 徐樂樂

1.一種質譜儀，其在離子源與離子檢測器之間具有通過電場的作用輸送離子的一個以上的離子輸送光學系統，所述質譜儀進行SIM測量或MRM測量，該SIM測量或MRM測量反復進行對具有預先指定的多個質荷比的離子依次進行質譜分析的循環，所述質譜儀的特征在于，包括：

a)電壓產生部，其在進行所述SIM測量或MRM測量之際，對所述離子輸送光學系統中的至少一個，施加與作為測量對象的離子的質荷比相應的直流電壓；及

b)控制部，其對所述電壓產生部進行控制，以使得在進行SIM測量或MRM測量過程中，當在測量對象離子的質荷比的切換前后，該測量對象離子的極性為相同時，在伴隨著切換質荷比而停止由所述離子檢測器進行的檢測數據的收集的停頓時間中，所述電壓產生部一面將施加給所述至少一個離子輸送光學系統的直流電壓進行切換，一面暫時施加與這些直流電壓極性不同的直流電壓、或與這些直流電壓極性相同且絕對值比這些直流電壓的任一個小的直流電壓。

2.根據權利要求1所述的質譜儀，其特征在于，

所述控制部對所述電壓產生部進行控制，以使得在停頓時間中，所述電壓產生部一面將施加給所述至少一個離子輸送光學系統的直流電壓進行切換，一面暫時施加與該切換前后的直流電壓極性不同的直流電壓。

3.根據權利要求2所述的質譜儀，其特征在于，

所述控制部按停頓時間的長度，使暫時施加極性不同的直流電壓的時間變化。

4.根據權利要求1至3中的任一項所述的質譜儀，其特征在于，

所述至少一個離子輸送光學系統是被相鄰配置在將離子按質荷比進行分離的四極桿濾質器之前的離子輸送光學系統。

5.一種質譜儀，其在離子源與離子檢測器之間具有通過電場的作用輸送離子的一個以上的離子輸送光學系統，所述質譜儀進行SIM測量或MRM測量，該SIM測量或MRM測量反復進行對具有預先指定的多個質荷比的離子依次進行質譜分析的循環，所述質譜儀的特征在于，包括：

a)電壓產生部，其在進行所述SIM測量或MRM測量之際，對所述離子輸送光學系統中的至少一個，施加與作為測量對象的離子的質荷比相應的振幅的高頻電壓；及

b)控制部，其對所述電壓產生部進行控制，以使得在進行SIM測量或MRM測量過程中，在伴隨對測量對象離子的質荷比進行切換而停止由所述離子檢測器進行的檢測數據的收集的停頓時間中，所述電壓產生部一面將施加給所述至少一個離子輸送光學系統的高頻電壓的振幅進行切換，一面使該振幅暫時變化成對離子沒有聚束作用的振幅。

6.根據權利要求5所述的質譜儀，其特征在于，

所述控制部按停頓時間的長度，使對離子沒有聚束作用的振幅暫時變化的時間進行變化。

7.根據權利要求5或6所述的質譜儀，其特征在于，

所述至少一個離子輸送光學系統是被相鄰配置在將離子按質荷比進行分離的四極桿濾質器之前的離子輸送光學系統。