[發明專利]固體-聚合物涂層中缺陷的檢測

在審

• 申請號: 201380054607.1
• 申請日: 2013-10-21
• 公開（公告）號: CN105143891A
• 公開（公告）日: 2015-12-09
• 發明（設計）人: D·C·約翰遜;A·L·普列托;M·羅爾斯;W·A·霍費爾特
• 申請（專利權）人: 普列托電池公司
• 主分類號: G01R1/20
• 分類號: G01R1/20;G01R27/02;H01M2/14
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 苗征;于輝

1.用于定量測定電絕緣涂層中針孔存在的方法，所述電絕緣涂層已經電化學沉積在導電電極材料的表面上，所述方法包括：

將涂覆的電極材料浸入包含溶解在溶劑中的探針物質的溶液中，其中所述探針物質具有可逆的電化學還原和氧化電位；

相對于浸入所述溶液中的第二電極，對所述涂覆的電極材料施加電位；并且

測量在所述涂覆的電極材料和所述第二電極之間流動的電流。

2.如權利要求1所述的方法，其中所述導電電極材料的還原電位在溶劑的電化學窗口之外。

3.如權利要求2所述的方法，其中所述探針物質的可逆電化學還原電位比溶劑的電化學還原電位更正，并且所述探針物質的可逆電化學氧化電位比電極的電化學氧化電位更負。

4.如權利要求2所述的方法，其中所施加的電位比所述溶劑的電化學還原電位更正，并且比所述導電電極的電化學氧化電位更負。

5.如權利要求2所述的方法，其中如下掃描所施加的電位：從比所述導電電極的電化學氧化電位更負并且比所述探針物質的電化學氧化電位更正的電位，到比所述溶劑的電化學還原電位更正并且比所述探針物質的電化學還原電位更負的電位，再返回比所述導電電極的電化學氧化電位更負并且比所述探針物質的電化學氧化電位更正的電位。

6.如權利要求5所述的方法，其中掃描速率在0.001Vs^-1到1Vs^-1之間。

7.如權利要求1所述的方法，其中所述導電電極材料的氧化電位在所述溶劑的電化學窗口之外。

8.如權利要求7所述的方法，其中所述探針物質的可逆電化學氧化電位比所述溶劑的電化學氧化電位更負，并且可逆電化學還原電位比所述電極的電化學還原電位更正。

9.如權利要求7所述的方法，其中所施加的電位比所述溶劑的電化學氧化電位更負，并且比所述導電電極的電化學還原電位更正。

10.如權利要求7所述的方法，其中如下掃描所施加的電位：從比所述導電電極的電化學還原電位更正并且比所述探針物質的電化學還原電位更負的電位，到比所述溶劑的電化學氧化電位更負并且比所述探針物質的電化學氧化電位更正的電位，再返回比所述導電電極的電化學還原電位更正并且比所述探針物質的電化學還原電位更負的電位。

11.如權利要求10所述的方法，其中掃描速率在0.001Vs^-1到1Vs^-1之間。

12.如權利要求1所述的方法，其還包括以下步驟：

將未涂覆的導電電極材料浸入所述溶液中；

相對于浸入所述溶液中的第二電極，對所述未涂覆的電極材料施加電位；

測量在所述未涂覆的電極材料和所述第二電極之間流動的電流；并且

在所施加的電位下，對比所述涂覆的電極材料的測量電流與所述未涂覆的電極材料的測量電流。

13.如權利要求1所述的方法，其還包括以下步驟：將所述探針物質拴系到較大的物質，所述較大的物質有效地減小所述探針穿過所述涂層的滲透。

14.如權利要求13所述的方法，其中所述探針物質與所述較大物質復合。

15.如權利要求13所述的方法，其中所述較大物質選自金屬復合物、金剛烷、富勒烯，和納米顆粒。

16.如權利要求13所述的方法，其中所述探針物質包含紫精基。

17.如權利要求16所述的方法，其中所述紫精基栓系在二氧化鈦納米顆粒的表面。

18.如權利要求1所述的方法，其還包括如下步驟：向所述溶液添加支持電解質鹽以促進所述溶液中電荷的傳輸，其中所述電解質鹽在所述探針物質的電化學氧化電位和電化學還原電位內沒有反應性。

19.如權利要求18所述的方法，其中所述電極材料包括Cu₂Sb，所述涂層包括聚丙烯腈-聚丙烯酸甲酯共聚物膜，所述探針物質包括紫羅堿，并且所述電解質鹽包括LiClO₄。