[發明專利]透鏡驅動裝置以及方法

有效

• 申請號: 201380050736.3
• 申請日: 2013-08-26
• 公開（公告）號: CN104685398A
• 公開（公告）日: 2015-06-03
• 發明（設計）人: 下津臣一
• 申請（專利權）人: 富士膠片株式會社
• 主分類號: G02B7/04
• 分類號: G02B7/04;G02B7/08;H02P25/06
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 樊建中

1.一種透鏡驅動裝置，其特征在于，具備：

透鏡框，其保持透鏡并能夠在光軸方向移動；

音圈電動機，其具有在所述光軸方向延伸的磁鐵、和配置在所述磁鐵的磁場內并且被安裝在所述透鏡框的線圈，通過在所述線圈流過電流而產生的電磁力，使得所述線圈與所述透鏡框一體地在所述光軸方向移動；

位置檢測部，其檢測所述光軸方向上的所述線圈相對于所述磁鐵的線圈位置；

第1存儲表，其按每個所述線圈位置來存儲對所述光軸方向上的所述磁鐵的磁通密度分布中的降低部分進行補償的第1修正系數；和

控制部，其利用與由所述位置檢測部檢測出的所述線圈位置對應地從所述第1存儲表讀取出的所述第1修正系數，來控制流過所述線圈的電流。

2.根據權利要求1所述的透鏡驅動裝置，其中，

所述透鏡驅動裝置具備：

溫度測定部，其測定所述磁鐵的周邊的溫度；和

第2存儲表，其按每個所述溫度來存儲對隨著所述溫度的變化而變化的所述磁通密度分布中的降低部分進行補償的第2修正系數，

所述控制部利用與通過所述溫度測定部來測定出的所述溫度對應地從所述第2存儲表讀取出的所述第2修正系數，對流過所述線圈的電流進行控制。

3.根據權利要求1所述的透鏡驅動裝置，其中，

所述透鏡驅動裝置具備：

經過時間測量部，其測量經過時間；和

第3存儲表，其按每個所述經過時間來存儲對隨著時間的經過而變化的所述磁通密度分布中的降低部分進行補償的第3修正系數，

所述控制部利用與由所述經過時間測量部測量出的所述經過時間對應地從所述第3存儲表讀取出的所述第3修正系數，來控制流過所述線圈的電流。

4.根據權利要求1所述的透鏡驅動裝置，其中，

所述透鏡驅動裝置具備：

初始磁通密度存儲部，其將所述磁鐵的基準位置處的磁通密度存儲為初始磁通密度；

磁通密度測定部，其測定所述磁鐵的所述基準位置處的磁通密度；

磁通密度比率計算部，其求出作為所述初始磁通密度與由所述磁通密度測定部測定出的測定磁通密度的比率的磁通密度比率；和

系數修正部，其利用所述磁通密度比率，按每個所述線圈位置對存儲在所述第1存儲表中的所述第1修正系數進行修正。

5.根據權利要求4所述的透鏡驅動裝置，其中，

所述磁通密度測定部通過電源接通來測定所述測定磁通密度。

6.根據權利要求4所述的透鏡驅動裝置，其中，

所述磁通密度測定部每經過一定時間，測定所述測定磁通密度，

所述透鏡驅動裝置具備：第1更新部，其利用通過所述磁通密度比率而被修正的新的所述第1修正系數，按每個所述線圈位置來更新所述第1存儲表。

7.根據權利要求1所述的透鏡驅動裝置，其中，

所述透鏡驅動裝置具備：

基準速度存儲部，其按照將所述線圈的移動范圍分割為多個的每個區間，存儲所述線圈中流過一定電流時的線圈的基準移動速度；

移動時間測量部，在所述線圈流過電流從而使其在所述移動范圍往復，按每個所述區間來測量所述線圈的移動時間；

移動速度計算部，其根據所述區間的長度以及所述移動時間，按每個所述區間來求出作為所述線圈的移動速度的計算移動速度；

速度比率計算部，其按每個所述區間求出作為所述基準移動速度以及來自所述移動速度計算部的移動速度的比率的速度比率；和

第5存儲表，其按每個所述區間來存儲所述速度比率，

所述控制部利用所述第1修正系數來控制流過所述線圈的電流，其中，所述第1修正系數是與通過所述位置檢測部檢測出的線圈位置對應地從所述第1存儲表讀取出、并利用與包含所述線圈位置的所述區間對應地從所述第5存儲表讀取出的速度比率進行了修正的第1修正系數。