[發(fā)明專利]襯底處理裝置、半導(dǎo)體器件的制造方法以及記錄介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201380036621.9 | 申請日: | 2013-07-26 |
| 公開(公告)號: | CN104428877A | 公開(公告)日: | 2015-03-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 和田優(yōu)一;蘆原洋司;立野秀人;佐久間春信 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社日立國際電氣 |
| 主分類號: | H01L21/31 | 分類號: | H01L21/31;C23C16/46;H01L21/22;H01L21/316 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所 11256 | 代理人: | 楊宏軍;李文嶼 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 襯底 處理 裝置 半導(dǎo)體器件 制造 方法 以及 記錄 介質(zhì) | ||
1.一種襯底處理裝置,具有:
收容襯底的處理容器;
封閉所述處理容器的蓋體;
向所述襯底供給反應(yīng)物的供給部;
加熱所述襯底的第1加熱部;
加熱在所述蓋體附近流動的氣體狀態(tài)下的所述反應(yīng)物的第2加熱部;以及
加熱所述蓋體的發(fā)熱體。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的襯底處理裝置,
所述第2加熱部由電阻加熱體和輻射加熱體中的任一方或雙方構(gòu)成。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的襯底處理裝置,
所述第2加熱部對由所述第1加熱部加熱的區(qū)域以外的區(qū)域進行加熱。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的襯底處理裝置,
具有控制部,其控制所述第2加熱部的溫度和所述發(fā)熱體的溫度,以抑制在所述處理容器內(nèi)的氣體狀態(tài)下的所述反應(yīng)物的液化。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的襯底處理裝置,
所述處理容器是可收容多片所述襯底的反應(yīng)管,
所述第2加熱部至少設(shè)置在所述反應(yīng)管下部的外側(cè)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的襯底處理裝置,
所述第2加熱部設(shè)置在所述蓋體的外側(cè)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的襯底處理裝置,
所述蓋體由導(dǎo)熱性良好的非金屬材料形成。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的襯底處理裝置,
在所述蓋體的上部設(shè)置有熱傳導(dǎo)體。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的襯底處理裝置,
在所述處理容器中設(shè)置第3加熱部和狀態(tài)轉(zhuǎn)換部,
所述反應(yīng)物在液體狀態(tài)下被供給到所述處理容器內(nèi)后,通過所述第3加熱部和狀態(tài)轉(zhuǎn)換部而在所述處理容器內(nèi)成為氣體狀態(tài)。
10.一種半導(dǎo)體器件的制造方法,具有:
利用第1加熱部加熱收容在處理容器內(nèi)的襯底的工序;
向所述處理容器內(nèi)供給反應(yīng)物的工序;以及
利用第2加熱部和發(fā)熱體加熱流經(jīng)蓋體附近的氣體狀態(tài)的反應(yīng)物的工序,所述蓋體封閉所述處理容器。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的半導(dǎo)體器件的制造方法,
在向所述處理容器內(nèi)供給反應(yīng)物的工序中,包括:
向所述處理容器內(nèi)供給液體狀態(tài)的反應(yīng)物,通過設(shè)置在所述處理容器中的第3加熱部和狀態(tài)轉(zhuǎn)換部,使該反應(yīng)物氣化的工序。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的半導(dǎo)體器件的制造方法,
具有控制所述第2加熱部和所述發(fā)熱體,從而抑制所述反應(yīng)物在所述處理容器內(nèi)液化的工序。
13.一種記錄介質(zhì),所述記錄介質(zhì)記錄有使計算機執(zhí)行如下步驟的程序,
利用第1加熱部加熱收容在處理容器內(nèi)的襯底的步驟;
向所述處理容器內(nèi)供給反應(yīng)物的步驟;以及
利用第2加熱部和發(fā)熱體加熱流經(jīng)蓋體附近的氣體狀態(tài)的反應(yīng)物的步驟,所述蓋體封閉所述處理容器。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的記錄介質(zhì),
在向所述處理容器內(nèi)供給反應(yīng)物的步驟中,包括:
向所述處理容器內(nèi)供給液體狀態(tài)的反應(yīng)物,通過設(shè)置在所述處理容器中的第3加熱部和狀態(tài)轉(zhuǎn)換部,使該反應(yīng)物氣化的步驟。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的記錄介質(zhì),
具有控制所述第2加熱部和所述發(fā)熱體,從而抑制所述反應(yīng)物在所述處理容器內(nèi)液化的步驟。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





