[發明專利]改善的分析物測量技術和系統有效
| 申請號: | 201380022834.6 | 申請日: | 2013-04-26 |
| 公開(公告)號: | CN104685355B | 公開(公告)日: | 2017-08-22 |
| 發明(設計)人: | D.馬特津格 | 申請(專利權)人: | 西拉格國際有限責任公司 |
| 主分類號: | G01N33/49 | 分類號: | G01N33/49 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 易皎鶴,張懿 |
| 地址: | 瑞士*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 改善 分析 測量 技術 系統 | ||
背景技術
生理流體(例如血液或血液衍生產品)中的分析物檢測對于當今社會的重要性日益增加。分析物檢測分析法發現用于多種應用中,包括臨床實驗室測試、家庭測試等,其中此類測試結果在對多種病癥的診斷和管理中發揮著顯著角色。所關注的分析物包括用于糖尿病管理的葡萄糖、膽固醇等等。響應于分析物檢測的此重要性日益增加,已開發了多種應用于臨床和家庭的分析物檢測方案和裝置。
對于分析物檢測所采用的一種方法是電化學方法。在此類方法中,含水液體樣品被放入電化學室中的樣品接收室中,該電化學室包括兩個電極,例如反電極和工作電極。允許分析物與氧化還原試劑反應以形成其量對應于分析物濃度的可氧化(或可還原)的物質。然后,以電化學方式估計存在的可氧化(或可還原)物質的量并且該可氧化(或可還原)物質的量與初始樣品中存在的分析物的量相關。
此類系統易受各種類型的低效率和/或誤差的影響。就抵制血細胞比容和干擾還原劑(諸如尿酸)的影響而言,由LifeScan Inc.制造并且以One-Touch Verio(“Verio”)出售的一個血糖測量系統具有顯著優異的整體性能。然而,諸如尿酸形式的還原劑之類的干擾物可影響所述方法的結果。具體地講,從申請人的血糖數據觀察到潛在的血細胞比容相關性。例如,考慮下述情況,其中諸如尿酸或亞鐵氰化物之類的電活性物質均勻地分布在Verio測試條室中。切換電勢之后立即實施的測量處于如下模式中,其中形成的濃度梯度為半無限的:其還沒有足夠遠地移動到室內,所述室受到形成于相對電極處的梯度的影響。
另一觀察結果為與葡萄糖無關的內源性還原劑諸如尿酸的影響。據信,Verio測試條利用1.1秒的第二電流并且通過預測基于1.1秒第二電流的第三脈沖測量中的干擾電流的量值來說明干擾:
其中b~0.678
看起來此函數旨在通過以下方式找到僅僅歸因于葡萄糖的iR分數,即利用如果不存在干擾(i1.1=0)則變為1或者如果存在干擾還原劑電流但不存在葡萄糖(i4.1、i5僅包括干擾電流)則變為0的函數。如果事實如此,則i2corr應與干擾還原劑無關。
實驗表明,盡管i2corr在中等到高葡萄糖下能有效地去除iR對尿酸的依賴性,但在低葡萄糖情況下不完全如此。然而盡管存在iR的這種相當成功的校正,但葡萄糖結果Gbasic(在校正之前的葡萄糖結果)受到尿酸的顯著影響,尤其是在高葡萄糖情況下。
用于葡萄糖結果的式為:
其中p~0.523
a~0.14
zgr~2
據信,盡管Gbasic在高葡萄糖下具有強尿酸依賴性,但i2corr并非如此,因此,可看出,血細胞比容補償函數在利用高葡萄糖和高干擾還原劑水平進行測試時不能正確地起作用。此問題的部分毫無疑問地歸因于如下事實:iL(1.4秒至4秒的電流的和)嚴重地受到干擾還原物質的影響。
應當注意,iL由來自干擾還原劑的基本穩態電流以及來自第二電極的亞鐵氰化物和酶的持續擴散導致的增加的葡萄糖電流構成。尿酸對iL的影響顯著大于對iR的影響。上述分析表明,如果僅檢測到葡萄糖電流,血細胞比容補償函數應如何通過補償紅血細胞的影響來起作用。血細胞比容補償函數實際上并非被設計成在不同的干擾還原劑水平下正確地起作用。據信,發生的情況是,在高葡萄糖下,iL增加,由此導致血細胞比容補償函數的不當較小值和低葡萄糖結果。
由于|i2corr|隨著尿試劑的增加而增加,因此減小的干擾校正函數的影響得到部分地補償。但在高葡萄糖下不會發生此累補償,其中i2corr較好地起作用。因此,似乎在高葡萄糖下存在對干擾還原劑的過度補償,實際上血細胞比容補償函數的輸入正受到干擾,由此導致不正確的血細胞比容補償。
發明內容
盡管上述Verio系統就抵制血細胞比容和諸如尿酸之類的干擾還原劑的影響而言具有極其優異的整體性能,然而測試已表明,Verio測試條并非完全不受到內源性和治療性還原劑的干擾影響。這些干擾在干擾劑的通常水平下一般為較小的,但按照葡萄糖系統所期望的嚴格性能需求,可需要移除所有可能的干擾源。為了試圖找到降低干擾的方法,申請人建議修改此類系統的葡萄糖測定技術而無需修改測試條化學特性。具體地講,申請人已發現導致不太理想的性能的技術的部分,并且因此做出更改以改善測試條和系統的性能。
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