[發(fā)明專利]與化合物半導體的銅互連相關的改善的結(jié)構(gòu)、裝置和方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201380016231.5 | 申請日: | 2013-02-20 |
| 公開(公告)號: | CN104221130B | 公開(公告)日: | 2018-04-24 |
| 發(fā)明(設計)人: | K.程 | 申請(專利權(quán))人: | 天工方案公司 |
| 主分類號: | H01L21/28 | 分類號: | H01L21/28;H01L21/336;H01L29/78 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所11105 | 代理人: | 邱軍 |
| 地址: | 美國馬*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 化合物 半導體 互連 相關 改善 結(jié)構(gòu) 裝置 方法 | ||
1.一種用于化合物半導體裝置的金屬化結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)包括:
第一鈦(Ti)層,設置在與該化合物半導體裝置關聯(lián)的基板之上;
第一屏障層,設置在該第一鈦(Ti)層之上;
第二鈦(Ti)層,設置在該第一屏障層之上,所述第二鈦(Ti)層與所述第一屏障層的整個頂表面接觸;
銅(Cu)層,設置在該第二鈦(Ti)層之上,該第二鈦(Ti)層構(gòu)造為抑制該銅(Cu)層和該屏障層的合金化;以及
設置在該銅(Cu)層之上的第三鈦(Ti)層和設置在該第三鈦(Ti)層之上的第二屏障層,該第三鈦(Ti)層與該銅(Cu)層直接接觸,并且該第二屏障層與該第三鈦(Ti)層直接接觸。
2.如權(quán)利要求1所述的結(jié)構(gòu),其中該第一鈦(Ti)層、該第一屏障層和該第二鈦(Ti)層構(gòu)造為在該銅(Cu)層和形成在該基板上的歐姆金屬層之間產(chǎn)生屏障。
3.如權(quán)利要求1所述的結(jié)構(gòu),其中該第一屏障層包括鉑(Pt)、鈀(Pd)或鎳(Ni)。
4.如權(quán)利要求1所述的結(jié)構(gòu),其中該第二屏障層包括鉑(Pt)、鈀(Pd)或鎳(Ni)。
5.如權(quán)利要求4所述的結(jié)構(gòu),其中該第一屏障層與該第一鈦(Ti)層直接接觸,該第二鈦(Ti)層與該第一屏障層直接接觸,該銅(Cu)層與該第二鈦(Ti)層直接接觸。
6.如權(quán)利要求4所述的結(jié)構(gòu),其中該第一屏障層和該第二鈦(Ti)層的厚度選擇為在該銅(Cu)層和歐姆金屬層之間提供足夠的屏障功能性,該歐姆金屬層設置在該第一鈦(Ti)層和該基板之間。
7.如權(quán)利要求6所述的結(jié)構(gòu),其中該第一鈦(Ti)層的厚度足以用作粘合層。
8.如權(quán)利要求7所述的結(jié)構(gòu),其中該第一鈦(Ti)層的厚度為約1,000埃,該第一屏障層的厚度為約500埃,并且該第二鈦(Ti)層的厚度為約1,000埃。
9.如權(quán)利要求1所述的結(jié)構(gòu),其中該銅(Cu)層的厚度選擇為產(chǎn)生類似于金層的電阻值,該金層被銅(Cu)層取代。
10.如權(quán)利要求9所述的結(jié)構(gòu),其中該銅(Cu)層的厚度為約25,000埃。
11.如權(quán)利要求1所述的結(jié)構(gòu),還包括設置在該第二屏障層之上的金(Au)層。
12.如權(quán)利要求11所述的結(jié)構(gòu),其中該第三鈦(Ti)層和該第二屏障層的厚度選擇為在該銅(Cu)層和該金(Au)層之間產(chǎn)生足夠的鈍化功能性。
13.如權(quán)利要求12所述的結(jié)構(gòu),其中該第三鈦(Ti)層的厚度為約500埃,并且該第二屏障層包括厚度為約500埃的鉑(Pt)層。
14.如權(quán)利要求11所述的結(jié)構(gòu),還包括設置在該金(Au)層之上的第四鈦(Ti)層。
15.如權(quán)利要求14所述的結(jié)構(gòu),其中該金(Au)層的厚度為約1,200埃,并且該第四鈦(Ti)層的厚度為約90埃。
16.如權(quán)利要求14所述的結(jié)構(gòu),其中該第一鈦(Ti)層、該第一屏障層、該第二鈦(Ti)層、該銅(Cu)層、該第三鈦(Ti)層、該第二屏障層、該金(Au)層和該第四鈦(Ti)層的每一個通過蒸發(fā)形成。
17.一種形成用于化合物半導體裝置的金屬化結(jié)構(gòu)的方法,該方法包括:
在與該化合物半導體裝置相關的基板之上形成第一鈦(Ti)層;
在該第一鈦(Ti)層之上形成第一屏障層;
在該第一屏障層之上形成第二鈦(Ti)層,并且該第二鈦(Ti)層與該第一屏障層的整個頂表面接觸;
在該第二鈦(Ti)層之上形成銅(Cu)層;
在該銅(Cu)層之上形成第三鈦(Ti)層,并且該第三鈦(Ti)層與該銅(Cu)層直接接觸;以及
在該第三鈦(Ti)層之上形成第二屏障層,并且該第二屏障層與該第三鈦(Ti)層直接接觸。
18.如權(quán)利要求17所述的方法,還包括在該第二屏障層之上形成金(Au)層。
19.如權(quán)利要求18所述的方法,還包括在該金(Au)層之上形成第四鈦(Ti)層。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





