[發明專利]使用天線及定向耦合器開關的接近性檢測裝置和方法有效
| 申請號: | 201380014788.5 | 申請日: | 2013-02-14 |
| 公開(公告)號: | CN104170265B | 公開(公告)日: | 2017-07-28 |
| 發明(設計)人: | 迪特爾·彼得 | 申請(專利權)人: | 密克羅奇普技術公司 |
| 主分類號: | H04B1/3827 | 分類號: | H04B1/3827;H04B17/10;H03K17/955;H04W52/36 |
| 代理公司: | 北京律盟知識產權代理有限責任公司11287 | 代理人: | 沈錦華 |
| 地址: | 美國亞*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 使用 天線 定向耦合器 開關 接近 檢測 | ||
1.一種用于將天線與射頻系統耦合的定向耦合器,其包括:
第一連接點,其經配置以將與所述第一連接點耦合的天線與布置于所述定向耦合器內的定向耦合器開關耦合;
第二連接點,其經配置以通過所述定向耦合器開關將與所述第二連接點耦合的射頻系統與所述第一連接點耦合;及
第三連接點,其經配置以通過所述定向耦合器開關將所述第一連接點與和所述第三連接點耦合的電容測量裝置耦合,其中所述電容測量裝置測量所述天線的電容值,
其中所述定向耦合器開關經控制以將所述第一連接點與所述第二連接點或所述第三連接點耦合。
2.根據權利要求1所述的定向耦合器,其中所述第一連接點為所述定向耦合器的外部連接點。
3.根據權利要求1所述的定向耦合器,其進一步包括耦合于所述定向耦合器開關與所述第一連接點之間的回波損耗橋接器。
4.根據權利要求3所述的定向耦合器,其中所述回波損耗橋接器提供反射功率測量。
5.根據權利要求3所述的定向耦合器,其進一步包括耦合于所述定向耦合器開關與所述第一連接點之間的電壓駐波比橋接器。
6.根據權利要求5所述的定向耦合器,其中所述電壓駐波比橋接器提供反射電壓駐波測量。
7.根據權利要求5所述的定向耦合器,其進一步包括接口,所述接口經配置以將所述回波損耗橋接器或所述電壓駐波比橋接器與處理器耦合。
8.根據權利要求7所述的定向耦合器,其中所述接口包括
多路復用器,其與所述回波損耗橋接器或所述電壓駐波比橋接器的前向和反向連接點耦合,以及模/數轉換器,其與所述多路復用器的輸出耦合;
或
比較器,其通過分壓器與前向連接點耦合,且所述比較器與反向連接點耦合,其中所述比較器產生邏輯輸出信號。
9.根據權利要求1所述的定向耦合器,其中所述定向耦合器開關為三位置開關,其中所述第二連接點被分解為發射連接點和接收連接點,且其中所述定向耦合器開關經控制以將所述第一連接點與所述第二連接點的所述發射連接點、所述第二連接點的所述接收連接點或所述第三連接點耦合。
10.一種射頻裝置,其包括根據前述權利要求中之一所述的定向耦合器,所述射頻裝置進一步包括與所述第三連接點連接的所述電容測量裝置。
11.根據權利要求10所述的射頻裝置,其中所述電容測量裝置包括充電時間測量單元。
12.根據權利要求10所述的射頻裝置,其中所述電容測量裝置包括電容性分壓器電路。
13.根據權利要求10所述的射頻裝置,其中所述電容測量裝置包括振蕩器及鑒頻器電路。
14.根據權利要求10-13中之一所述的射頻裝置,其進一步包括耦合到且控制所述定向耦合器開關以及所述電容測量裝置的數字處理器。
15.根據權利要求10-13中之一所述的射頻裝置,其進一步包括:
所述射頻系統,其與所述第二連接點連接,所述射頻系統包括:
射頻子系統;
功率放大器,其耦合到所述射頻子系統以及所述第二連接點的發射連接點;
低噪聲放大器,其耦合到所述射頻子系統以及所述第二連接點的接收連接點。
16.一種射頻系統,其包括根據權利要求15所述的射頻裝置,其進一步包括與所述第一連接點連接的所述天線。
17.一種用于操作根據權利要求16所述的射頻系統的方法,其包括:
在第一操作模式下:
控制所述定向耦合器開關以將所述天線與所述射頻系統耦合;
在第二操作模式下:
控制所述定向耦合器開關以將所述天線與所述電容測量裝置耦合。
18.根據權利要求17所述的方法,其進一步包括:
當處于所述第一操作模式下時:
控制所述定向耦合器開關以將所述天線與所述第二連接點的所述發射連接點耦合。
19.根據權利要求17所述的方法,其進一步包括:
當處于所述第一操作模式下時:
控制所述定向耦合器開關以將所述天線與所述第二連接點的所述接收連接點耦合。
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