[發明專利]金屬檢測方法、金屬檢測裝置、非接觸供電裝置的金屬檢測方法和非接觸供電裝置

有效

• 申請號: 201380013065.3
• 申請日: 2013-02-28
• 公開（公告）號: CN104160300B
• 公開（公告）日: 2017-12-22
• 發明（設計）人: 入江健一;河田雅史;兵頭聰;小原弘士
• 申請（專利權）人: 松下知識產權經營株式會社
• 主分類號: G01V3/10
• 分類號: G01V3/10;H02J17/00
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙)11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種用于對配置在金屬檢測區域中的金屬檢測線圈進行勵磁以使用從所述金屬檢測線圈輻射的電磁波來檢測所述金屬檢測區域中是否存在金屬的方法，所述方法包括以下步驟：

利用具有單一基頻的正弦波的振蕩電流來對所述金屬檢測線圈進行勵磁以從所述金屬檢測線圈輻射電磁波；以及

根據流至所述金屬檢測線圈的所述振蕩電流中的所述基頻的變化來檢測所述金屬檢測區域中是否存在金屬，

其中，檢測所述金屬檢測區域中是否存在金屬的步驟包括：

通過高通濾波器電路從所述振蕩電流中濾波除基頻成分以外的諧波成分以生成濾波信號；

將來自所述高通濾波器電路的所述濾波信號放大以生成檢測信號；

將所述檢測信號的信號電平與預先確定的基準值進行比較；

基于比較結果來判斷在所述振蕩電流中是否生成了相對于所述基頻的諧波；以及

在所述振蕩電流中生成相對于所述基頻的諧波的情況下，檢測出所述金屬檢測區域中存在金屬。

2.一種金屬檢測裝置，包括：

金屬檢測線圈，其配置在金屬檢測區域中，其中，對所述金屬檢測線圈進行勵磁，并且使用從所述金屬檢測線圈輻射的電磁波來檢測所述金屬檢測區域中是否存在金屬；

振蕩電路，用于生成具有單一基頻的正弦波的振蕩電流，并且將所述振蕩電流供給至所述金屬檢測線圈以對所述金屬檢測線圈進行勵磁；

諧波電平檢測電路，用于檢測所述振蕩電流的相對于基頻成分的諧波成分，并且生成檢測信號；

比較電路，用于將所述檢測信號的信號電平與預先確定的基準值進行比較；以及

處理電路，用于基于比較結果來判斷所述金屬檢測區域中是否存在金屬，并且在判斷為所述金屬檢測區域中存在金屬的情況下，驅動通知單元以發出表示檢測到金屬的通知，

其中，所述諧波電平檢測電路包括：

高通濾波器電路，用于從所述振蕩電流中濾波除基頻成分以外的比所述基頻高的頻率成分，并且生成濾波信號，以及

放大電路，用于放大來自所述濾波器電路的濾波信號以生成所述檢測信號。

3.根據權利要求2所述的金屬檢測裝置，其中，所述通知單元包括指示燈。

4.一種使用非接觸供電裝置的金屬檢測方法，其中，所述非接觸供電裝置包括配置在供電區域中的初級線圈，在電子設備放置在所述供電區域中的情況下，所述非接觸供電裝置對配置在所述供電區域中的所述初級線圈進行勵磁以在所述電子設備中所設置的受電裝置的次級線圈中引起電磁感應從而向所述電子設備供電，以及所述非接觸供電裝置包括配置在所述供電區域中的金屬檢測線圈，所述金屬檢測方法包括以下步驟：

利用具有單一基頻的正弦波的振蕩電流來對所述金屬檢測線圈進行勵磁以從所述金屬檢測線圈輻射電磁波；以及

根據流至所述金屬檢測線圈的所述振蕩電流中的基頻的變化來檢測所述供電區域中是否存在金屬，

其中，檢測所述供電區域中是否存在金屬的步驟包括：

通過高通濾波器電路從所述振蕩電流中濾波除基頻成分以外的諧波成分以生成濾波信號；

將來自所述高通濾波器電路的所述濾波信號放大以生成檢測信號；

將所述檢測信號的信號電平與預先確定的基準值進行比較；

基于比較結果來判斷在所述振蕩電流中是否生成了相對于所述基頻的諧波；以及

在所述振蕩電流中生成相對于所述基頻的諧波的情況下，檢測出所述供電區域中存在金屬。