[發明專利]聲波檢測用探針及光聲計測裝置

有效

• 申請號: 201380011865.1
• 申請日: 2013-02-27
• 公開（公告）號: CN104159519B
• 公開（公告）日: 2016-10-19
• 發明（設計）人: 入澤覺
• 申請（專利權）人: 富士膠片株式會社
• 主分類號: A61B8/00
• 分類號: A61B8/00;G01N29/00;G01N29/24
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 熊傳芳;蘇卉

1.一種探針，是具備以向被檢體出射測定光的方式對該測定光進行導光的導光部和檢測由所述測定光的照射而在所述被檢體內產生的光聲波的聲波振子的聲波檢測用探針，所述探針的特征在于，

所述導光部包含：

均化器，對入射到該導光部的所述測定光的能量曲線進行平頂化；

聚光部件，對透過了該均化器的所述測定光進行聚光；及

光纖束，包含多根光纖且配置成使透過了所述聚光部件的所述測定光從光纖束的入射端部入射。

2.根據權利要求1所述的探針，其特征在于，

所述均化器使所述測定光進一步擴散。

3.根據權利要求2所述的探針，其特征在于，

所述聚光部件以由下述式1所規定的所述測定光的最小光束直徑D與所述光纖束的直徑d的關系滿足下述式2的方式對所述測定光進行聚光，

所述光纖束配置成在所述測定光的光束直徑是0.8d以上且1.2d以下的狀態下入射所述測定光。

[數學式1]

D=2.5·f·tan((φ2)2+(θ2)2)]]>???????????????式1

0.8d≤D≤1.2d???????????????????????????????式2

(式1中，f表示所述聚光部件的焦距，φ表示入射到所述均化器時的所述測定光的發散角，θ表示所述均化器的擴散角。)

4.根據權利要求1～3中任一項所述的探針，其特征在于，

所述導光部在所述均化器的入射側的近前處包含擴束器光學系統，所述擴束器光學系統以將所述測定光放大成適合于所述多根光纖的孔徑角的光束直徑的方式設定有適合于所述多根光纖的孔徑角的放大率。

5.根據權利要求1～4中任一項所述的探針，其特征在于，

對所述光纖束的入射端部實施熔接加工。

6.根據權利要求1～5中任一項所述的探針，其特征在于，

所述入射端部中的所述多根光纖的外周由對光能具有高耐久性的材料被覆。

7.根據權利要求6所述的探針，其特征在于，

所述對光能具有高耐久性的材料是石英。

8.根據權利要求1～7中任一項所述的探針，其特征在于，

在所述入射端部的端面配置中分割出的多個分割區域各自涉及的光纖的出射端部根據所述出射端部所屬的各分割區域的相對大小而配置，使得所述測定光從光纖整體的出射端部出射時的能量曲線作為整體而變得均勻。

9.根據權利要求8所述的探針，其特征在于，

所述多個分割區域根據距所述光纖束的中心的距離而分割而成。

10.根據權利要求1～9中任一項所述的探針，其特征在于，

所述導光部具備至少一個導光板，所述導光板具有與所述多根光纖的出射端部的至少一部分連接的連接面和從該連接面入射的所述測定光出射的出射面。

11.根據權利要求10所述的探針，其特征在于，

所述導光板以隔著所述聲波振子而相向的方式配置有多個。

12.根據權利要求1～11中任一項所述的探針，其特征在于，

所述均化器是將微小的透鏡隨機地配置于基板的單面的透鏡擴散板。

13.根據權利要求1～12中任一項所述的探針，其特征在于，

具備將所述聚光部件及所述光纖束一體化地進行保持的保持部。