[發明專利]一種質量測量方法、用戶設備、網絡側設備及系統

在審

• 申請號: 201380003634.6
• 申請日: 2013-09-10
• 公開（公告）號: CN104094544A
• 公開（公告）日: 2014-10-08
• 發明（設計）人: 張鵬;王宗杰
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04L1/00
• 分類號: H04L1/00;H04W24/10
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;熊永強

1.一種質量測量方法，其特征在于，所述方法包括：

用戶設備UE接收網絡側設備發送的資源受限子幀RRS信息；

所述UE根據所述RRS信息進行下行信道質量測量和/或下行導頻質量測量和/或下行鏈路質量測量；

當所述UE根據所述RRS信息進行下行鏈路質量測量時，若UE的服務小區是第二小區，所述UE接收到RRS圖案信息，且UE接收到的RRS信息滿足：RRS開關信息表示RRS開啟且RRS圖案模式信息表示測量模式為鏈路質量測量模式，則在RRS子幀內進行鏈路質量測量；

其中，當所述UE根據所述RRS信息進行下行導頻質量測量時，所述UE根據所述RRS信息，在RRS子幀內進行下行導頻質量測量；或者當所述UE根據所述RRS信息進行下行信道質量測量時，所述UE根據所述RRS信息，在RRS子幀內進行下行信道質量測量；

其中，當所述UE根據所述RRS信息進行下行導頻質量測量時，所述UE根據所述RRS信息，在RRS子幀內進行下行導頻質量測量包括：當所述UE的服務小區為第一小區，且所述RRS信息滿足：RRS開關信息表示RRS開啟且RRS圖案模式信息表示測量模式為導頻質量測量模式，則在RRS子幀內進行導頻質量測量；

其中，在ABS子幀內，第二小區按照正常發射功能對第二小區UE進行調度；在非ABS子幀內，第二小區按照正常發射功能對包括RE區域的第二小區UE在內的所有第二小區UE進行調度，或者對RE區域外的第二小區UE進行調度；

或者，

當進行下行信道質量測量時，所述UE根據所述RRS信息，在RRS子幀內進行下行信道質量測量包括：當UE的服務小區是第二小區，所述UE接收到RRS圖案信息，且UE接收到的RRS信息滿足：RRS開關信息表示RRS開啟且RRS圖案模式信息表示測量模式為下行信道質量測量模式，則在RRS子幀內進行下行信道質量測量；

其中，在ABS子幀內，第一小區降低與之對齊的HS-PDSCH子幀的發射功率；在非ABS子幀內，第一小區按正常的發射功率對第一小區UE進行調度。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述RRS信息包括RRS開關信息和/或RRS圖案模式信息和/或RRS圖案信息。

3.如權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述RRS信息承載在下行高速共享控制信道指示(HS-SCCH)中或者所述RRS信息包含在高層信令中。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述UE根據所述RRS信息，在RRS子幀內進行下行信道質量測量還包括：

當所述UE未接收到RRS圖案信息，則使信道質量測量參考時間窗口與高速物理下行共享信道(HS-PDSCH)的子幀對齊。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述當UE的服務小區是第二小區，所述UE接收到RRS圖案信息，且UE接收到的RRS信息滿足：RRS開關信息表示RRS開啟且RRS圖案模式信息表示測量模式為下行信道質量測量模式，則在RRS子幀內進行下行信道質量測量包括：

當所述UE接收到RRS圖案信息，則基于信道質量指示CQI發射前距離預定義的測量CQI最近的RRS子幀進行下行信道質量測量。

6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，所述當所述UE接收到RRS圖案信息，則基于信道質量指示CQI發射前距離預定義的測量CQI最近的RRS子幀進行下行信道質量測量包括：

所述UE在上報CQI時，根據所述RRS圖案信息，在2個RRS子幀之間，只上報第一個RRS子幀對應的CQI，其它對應于非RRS子幀的CQI不上報。

7.如權利要求5所述的方法，其特征在于，所述當所述UE接收到RRS圖案信息，則基于信道質量指示CQI發射前距離預定義的測量CQI最近的RRS子幀進行下行信道質量測量包括：

所述UE在上報CQI時，根據所述RRS圖案信息，在2個RRS子幀之間，重復上報第一個RRS子幀對應的CQI。

8.如權利要求7所述的方法，其特征在于，所述UE重復上報所述CQI時的發射功率比正常上報所述CQI時的發射功率低。