[實(shí)用新型]一種火山型掩膜版及其圖形化襯底有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201320709142.6 | 申請日: | 2013-11-08 |
| 公開(公告)號: | CN203616577U | 公開(公告)日: | 2014-05-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 商毅博;繆炳有;韓沈丹;胡丹;王巖 | 申請(專利權(quán))人: | 西安神光安瑞光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G03F1/26 | 分類號: | G03F1/26;H01L33/20 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標(biāo)代理有限公司 61211 | 代理人: | 倪金榮 |
| 地址: | 710100 陜西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 火山 型掩膜版 及其 圖形 襯底 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體裝置領(lǐng)域,尤其涉及一種火山型掩膜版及其圖形化襯底。
背景技術(shù)
目前,GaN基(氮化鎵)LED(發(fā)光二極管)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于全色顯示、交通信號燈、液晶背光顯示,并逐步進(jìn)入照明領(lǐng)域。為了滿足下一代投影儀、汽車大燈和高端市場的要求,人們一直在努力提高光功率和外量子效率。通常LED的亮度可以表示為內(nèi)量子效率和外量子效率的乘積(假設(shè)電流注入效率為100%)。由于晶格失配和熱膨脹系數(shù)較大,藍(lán)寶石襯底上通過GaN基形成的外延層仍然具有很高的線位錯(TDD,Threading?Dislocation?Densities)密度(108---1010cm-2),這會導(dǎo)致內(nèi)量子效率的衰竭。為了改善GaN基在藍(lán)寶石上的外延質(zhì)量,人們提出了各種生長技術(shù),比如橫向外延過生長(ELOG,Epitaxy?of?Lateral?Over-Growth)、微米級SiNx(氮化硅)或SiOx(氧化硅)圖形化掩膜和圖形化藍(lán)寶石基板(PSS,Patterned?Sapphire?Substrate)。另一方面,GaN基的高折射率限制了發(fā)射光的逃逸角度只有23°,導(dǎo)致低的光提取效率(LEE)。為了改善光提取效率,人們也同樣提出了各種方法,如PSS、粗化的P型氮化鎵層(P-GaN層)、激光剝離技術(shù)和嵌埋在LED結(jié)構(gòu)中的空洞。
實(shí)用新型內(nèi)容
為了解決背景技術(shù)中所存在的技術(shù)問題,本實(shí)用新型提出了一種火山型掩膜版及其圖形化襯底,以便利用火山型掩膜版簡化圖形化襯底的制造流程、降低成本的同時,避免量產(chǎn)時由于光刻圖形套刻無法準(zhǔn)確控制所造成的刻蝕后形貌差異、甚至變形所帶來的片間重復(fù)性問題。
本實(shí)用新型的技術(shù)解決方案是:一種火山型掩膜版,包括光刻板,其特征在于:所述光刻板上設(shè)置環(huán)形陣列單元,所述環(huán)形陣列單元包括多個火山型單元,所述火山型單元兩兩之間距離相等。
上述火山型單元包括一圓環(huán)。
上述圓環(huán)內(nèi)直徑為0.4~0.8微米。
上述圓環(huán)外直徑為1.4~2.4微米。
上述火山型單元兩兩之間的間距為0.6-1.5微米。
一種基于權(quán)利要求1的火山型掩膜版制作的圖形化襯底,其特征在于:所述圖形化襯底包括藍(lán)寶石襯底以及設(shè)置在藍(lán)寶石襯底上的陣列分布的火山型單元,所述火山型單元等距離排列分布。
上述火山型單元包括一錐形圓環(huán),所述錐形圓環(huán)的上下截面直徑不同。
上述藍(lán)寶石襯底的尺寸為2英寸或4英寸或6英寸。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型提供一種火山型掩膜版,利用該掩膜版制造的圖形化襯底,不僅易于實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化大生產(chǎn),還可以降低外延缺陷、增加出光率、降低成本。
附圖說明
圖1是本實(shí)用新型光刻板排列示意圖;
圖2是本實(shí)用新型光刻板上的單元示意圖;
圖3是本實(shí)用新型具體實(shí)施例示意圖;
具體實(shí)施方式
參見圖1—圖3,本實(shí)用新型的火山型掩膜版,包括一光刻板,光刻板上具有環(huán)形陣列單元,每個環(huán)形陣列單元的外圓環(huán)對應(yīng)的部分不透光。圓環(huán)部分不透光是因?yàn)樗龉饪贪逦挥谝皇⒒迳希鍪⒒逋腹猓谒鍪⒒迳蠈?yīng)所述環(huán)形的地方鍍上一層不透光的材料如鉻等。環(huán)形相鄰的距離相等。環(huán)形陣列單元包括多個火山型單元,火山型單元兩兩之間距離相等。火山型單元包括一圓環(huán);圓環(huán)內(nèi)直徑為0.4~0.8微米;圓環(huán)外直徑為1.4~2.4微米;火山型單元兩兩之間的間距為0.6-1.5微米。
本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式參見圖2,環(huán)形1中的內(nèi)圓直徑D1為0.4微米,環(huán)形1中的外圓直徑D2為1.4微米;或者:環(huán)形1中的內(nèi)圓直徑D1為0.8微米,環(huán)形1中的外圓直徑D2為2.4微米;或者:環(huán)形1中的內(nèi)圓直徑D1為0.6微米,環(huán)形1中的外圓直徑D2為1.8微米;環(huán)形光刻板單元間的距離為0.6微米;或者環(huán)形光刻板單元間的距離為1.5微米;
因此,環(huán)形1中的內(nèi)圓直徑D1為0.4-0.8微米,而環(huán)形1中的外圓直徑D2為1.4-2.4微米。環(huán)形光刻板單元間的距離為0.6-1.5微米;并且所述環(huán)形1相鄰的距離S1相等。在本實(shí)施例中,上述各直徑的具體數(shù)值用于更好的說明和理解本實(shí)用新型,但不限定于本實(shí)用新型。
參見圖3,利用上述的火山型掩膜版制造的圖形化襯底,圖形化襯底具有陣列分布的火山型單元,火山型單元的中心頂部形狀參見圖3,火山型單元等距離排列分布;藍(lán)寶石襯底的尺寸為2英寸、4英寸或6英寸或更大尺寸。
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G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過100nm或更短波長輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學(xué)臨近校正(OPC)設(shè)計(jì)工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準(zhǔn)或測試的特殊涂層或標(biāo)記;其制備





