[實(shí)用新型]晶圓劃片裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201320672396.5 | 申請日: | 2013-10-29 |
| 公開(公告)號: | CN203536386U | 公開(公告)日: | 2014-04-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 虞勤琴;韓耀梅;郭志蓉;范春燕 | 申請(專利權(quán))人: | 中芯國際集成電路制造(北京)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/68 |
| 代理公司: | 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李時云 |
| 地址: | 100176 北京市大興區(qū)*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 劃片 裝置 | ||
1.一種晶圓劃片裝置,用于3D集成技術(shù)的電鏡樣品的制備,其特征在于,所述晶圓劃片裝置包括第一部件和第二部件;
所述第一部件包括主體支架、調(diào)節(jié)螺絲、定位導(dǎo)軌以及劃片刀,所述主體支架包括豎直設(shè)置的側(cè)面支架,與所述側(cè)壁垂直并相互平行設(shè)置的頂面支架和底面支架;所述定位導(dǎo)軌設(shè)置于所述頂面支架的下側(cè)壁和底面支架的上側(cè)壁;所述調(diào)節(jié)螺絲包括上調(diào)節(jié)螺絲和下調(diào)節(jié)螺絲,所述上調(diào)節(jié)螺絲貫穿所述頂面支架以及頂面支架的下側(cè)壁的定位導(dǎo)軌,所述下調(diào)節(jié)螺絲貫穿所述底面支架以及底面支架的上側(cè)壁的定位導(dǎo)軌,所述上調(diào)節(jié)螺絲和下調(diào)節(jié)螺絲位于同一直線上;所述劃片刀與所述調(diào)節(jié)螺絲連接,通過調(diào)節(jié)調(diào)節(jié)螺絲控制所述劃片刀的高度;
所述第二部件的形狀為立方體,在所述第二部件上設(shè)置有兩個定位卡槽,所述定位卡槽對稱分布在第二部件的頂面和底面并延伸貫通至一側(cè)面;所述定位卡槽底部設(shè)置有劃片開口,連通兩個定位卡槽;與定位卡槽貫通的側(cè)面相對的側(cè)面上設(shè)置有與所述劃片開口相互垂直的晶圓槽以及向立方體外部延伸的結(jié)構(gòu)對準(zhǔn)針,所述晶圓槽至少有部分區(qū)域與所述劃片開口重合,所述結(jié)構(gòu)對準(zhǔn)針與定位卡槽的延伸方向位于同一直線上。
2.如權(quán)利要求1所述的晶圓劃片裝置,其特征在于,所述定位卡槽的寬度為1cm-3cm,深度為1cm-3cm。
3.如權(quán)利要求1所述的晶圓劃片裝置,其特征在于,所述第一部件的材質(zhì)為金屬或耐磨的塑料。
4.如權(quán)利要求1所述的晶圓劃片裝置,其特征在于,所述第二部件的材質(zhì)為金屬或耐磨的塑料。
5.如權(quán)利要求1所述的晶圓劃片裝置,其特征在于,所述結(jié)構(gòu)對準(zhǔn)針的直徑為0.5mm-2mm,長度為7cm-13cm。
6.如權(quán)利要求1所述的晶圓劃片裝置,其特征在于,所述劃片刀的材質(zhì)為金剛石。
7.如權(quán)利要求1所述的晶圓劃片裝置,其特征在于,所述晶圓槽的寬度為1.5mm-3mm,深度為1.5cm-3cm。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





