[實用新型]具有雙軸向定位機構的檢測裝置

有效

• 申請號: 201320641580.3
• 申請日: 2013-10-17
• 公開（公告）號: CN203587616U
• 公開（公告）日: 2014-05-07
• 發明（設計）人: 黃瑞楠
• 申請（專利權）人: 致茂電子股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R1/073
• 代理公司: 北京三幸商標專利事務所(普通合伙) 11216
• 代理人: 劉激揚

1.一種具有雙軸向定位機構的檢測裝置，包括：

探針卡；

芯片承載座，其設置于所述探針卡的下方，所述芯片承載座的上表面挖設有芯片承載槽；

升降臺，其設置于所述探針卡的下方，所述芯片承載座組裝于所述升降臺上；

水平橫軸定位推桿，其設置于所述芯片承載座的一側，并與所述芯片承載槽的中心位置的水平橫軸相對應；以及

水平縱軸定位推桿，其設置于所述芯片承載座的一側，并與所述芯片承載槽的中心位置的水平縱軸相對應；

其中，當芯片放置于所述芯片承載槽后，所述水平橫軸定位推桿和所述水平縱軸定位推桿分別伸出推抵所述芯片，使其定位于所述芯片承載槽內。

2.如權利要求1所述的具有雙軸向定位機構的檢測裝置，其中，所述芯片承載槽包括載置臺、橫軸導溝以及縱軸導溝，所述橫軸導溝和所述縱軸導溝與所述載置臺相連通，并分別位于所述載置臺的水平橫軸和水平縱軸上；當所述芯片放置于所述芯片承載槽后，所述水平橫軸定位推桿和所述水平縱軸定位推桿分別穿過所述橫軸導溝和所述縱軸導溝以推抵所述芯片使其定位于所述載置臺上。

3.如權利要求2所述的具有雙軸向定位機構的檢測裝置，其中，所述芯片承載座內開設有吸引通道，其與外部真空源連通；所述載置臺上開設有至少一個吸引孔，所述吸引孔與所述吸引通道連通。

4.如權利要求1所述的具有雙軸向定位機構的檢測裝置，其還包括第一氣壓缸以及第二氣壓缸，所述水平橫軸定位推桿和所述水平縱軸定位推桿分別組裝于所述第一氣壓缸和所述第二氣壓缸的驅動頭上。

5.如權利要求4所述的具有雙軸向定位機構的檢測裝置，其中，所述驅動頭內設置有彈簧，所述水平橫軸定位推桿和所述水平縱軸定位推桿的一端分別推抵所述彈簧且組裝于所述驅動頭上。

6.如權利要求4所述的具有雙軸向定位機構的檢測裝置，其還包括第一位移調整裝置第二位移調整裝置，所述第一位移調整裝置包括第一導塊、第一導座以及第一螺桿，所述第一氣壓缸組裝于所述第一導塊，所述第一導塊與所述第一導座耦合，所述第一螺桿螺合于所述第一導塊和所述第一導座，所述第一螺桿轉動時將驅使所述第一導塊相對于所述第一導座滑移；所述第二位移調整裝置包括第二導塊、第二導座以及第二螺桿，所述第二氣壓缸組裝于所述第二導塊，所述第二導塊與所述第二導座耦合，所述第二螺桿螺合于所述第二導塊和所述第二導座，所述第二螺桿轉動時將驅使所述第二導塊相對于所述第二導座滑移。

7.如權利要求6所述的具有雙軸向定位機構的檢測裝置，其中，所述第一導座和所述第二導座分別包括兩個導桿，所述第一導塊和所述第二導塊通過所述導桿分別耦合于所述第一導座和所述第二導座。

8.如權利要求6所述的具有雙軸向定位機構的檢測裝置，其中，所述升降臺開設兩個凹部，所述第一位移調整裝置和所述第二位移調整裝置對應分設于所述兩個凹部內。

9.如權利要求1所述的具有雙軸向定位機構的檢測裝置，其中，所述探針卡包括多個探針，并開設有貫通槽，每個探針的一端固設于所述探針卡，另一端凸伸出所述貫通槽。

10.如權利要求9所述的具有雙軸向定位機構的檢測裝置，其還包括攝像機，設置于所述探針卡的上方并與所述貫通槽相對。