[實用新型]用于檢測儀表指針裝配高度的通止規(guī)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320630010.4
• 申請日: 2013-10-12
• 公開（公告）號: CN203489818U
• 公開（公告）日: 2014-03-19
• 發(fā)明（設計）人: 張光;趙永軍
• 申請（專利權）人: 延鋒偉世通汽車電子有限公司
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02
• 代理公司: 上海世貿(mào)專利代理有限責任公司 31128
• 代理人: 嚴新德

1.一種用于檢測儀表指針裝配高度的通止規(guī)，包括一個金屬塊，其特征在于：所述的金屬塊包括一個直四棱柱狀的主體，所述的直四棱柱狀的主體的兩個底面均呈平形四邊形，直四棱柱狀的主體的兩個相向的側(cè)面中各自沿其所在平面向主體外設置有一個平板狀延伸部，所述的兩個平板狀延伸部相互平行且其延伸方向相反，其中一個平板狀延伸部的厚度小于另一個平板狀延伸部的厚度，任意一個平板狀延伸部的外端端面中均各自設置有缺口。

2.如權利要求1所述的用于檢測儀表指針裝配高度的通止規(guī)，其特征在于：任意一個平板狀延伸部與其相鄰的主體的側(cè)面均成大于90度的夾角。

3.如權利要求1所述的用于檢測儀表指針裝配高度的通止規(guī)，其特征在于：所述的缺口呈半圓狀或者弓形。

4.如權利要求1所述的用于檢測儀表指針裝配高度的通止規(guī)，其特征在于：直四棱柱狀的主體中設置有減重孔。

5.如權利要求4所述的用于檢測儀表指針裝配高度的通止規(guī)，其特征在于：所述的減重孔也呈直四棱柱狀，其底面分別位于直四棱柱狀的主體的底面中。