[實用新型]發光二極管的測試裝置

有效

• 申請號: 201320458027.6
• 申請日: 2013-07-29
• 公開（公告）號: CN203385812U
• 公開（公告）日: 2014-01-08
• 發明（設計）人: 李常松;李婉珍
• 申請（專利權）人: 浙江福斯特電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01;G01R31/26
• 代理公司: 臺州市方圓專利事務所 33107
• 代理人: 蔡正保

技術領域

本實用新型涉及兩腳發光管的測試技術，特別是一種提高測試效率的發光二極管的測試裝置。

背景技術

發光二極管簡稱LED，LED在封裝完成后需要進行光電學特性的測試。現有技術對LED測試，主要還是以手工逐一測試，效率低下，導致生產成本居高。針對這一問題，已有一些研究成果出現，如中國專利申請號為：01274956.7，名稱為發光二極管測試機臺的自動化裝置，主要由一組進料結構、一定位測試結構及一組出料結構所組成，一組進料結構由下列各構件所組成，其進料端為一圓形振動盤，并有一平形振動盤與其相連接，且該平形振動盤延伸至測試區前端，并與測試組前端相連接；該平形振動盤向前延伸至測試端前方處的上方設置有一擋爪，該擋爪為一彈簧聯動體；該擋爪上方處設置有一輔助進料送風口，其與空氣輸送管連接；平形振動盤下方與擋爪相對位置的前端處設置有一進料夾爪組；擋爪末端處設置有一導正爪，導正爪后端設置有一帶料爪組，其呈一Γ型，前端立面處設置有數個等距缺口；一組定位測試結構由一定位爪組，設置于帶料爪組對面的相對位置，其呈一E字型，凸出的三爪的前端分別設有一內凹的定位口，并與各測試站相對應；定位爪組的正下方為一測試組，其前端與平形振動盤的末端相連接，該測試組上方呈三個測試站，第一測試站下設一極性測試框腳探針座，第二測試站下為一旋轉座，第三測試站下方為另一框腳探針座，其主要由該框腳探針座與發光二極管的針腳產生極性接觸，并配合上方的亮度波長檢測頭。該技術方案相對于人工可以提高測試效率，但結構顯然復雜，設備成本高，測試效率也不盡人意。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種可顯著提高效率的發光二極管的測試裝置。

本實用新型的技術方案是：發光二極管的測試裝置，其特征在于所述測試裝置包括：與振動盤銜接的LED座臺，該LED座臺開有L形直角通槽，其中短邊通槽槽的寬度大于引腳的厚度小于兩引腳之間的最大距離，并與振動盤出料口對接，寬度對應，長邊通槽寬度大于兩引腳之間的最大距離，LED座臺的高度小于LED引腳的長度，當LED頭部座于LED座臺的上平面時，以及LED在轉動時，LED的兩引腳的一部分都露于LED座臺之外；

位于LED座臺后側安裝有光傳感器；

安裝在LED座臺正前方的電機，該電機軸的軸線指向LED座臺臺面短邊通槽的位置，該電機軸連接一由橫桿和縱桿組成的直角拐桿，直角拐桿的橫桿的長度大于LED座臺的橫向最大尺寸的二分之一，小于LED正極引腳的長度，使直角拐桿的縱桿作圓周運行時不觸及LED座臺而能夠撥動LED引腳翻轉；

在所述LED座臺的長邊通槽槽口方向正對的右側，設置有提供測試電壓的彈簧觸片裝置，該裝置包括安裝在絕緣臺板上且位置相錯的正負極觸片；

在所述LED座臺臺面的左側安裝一擋板，該擋板的內面制有凹坑，當LED引腳被直角拐桿的縱桿逐漸帶動觸及彈簧觸片時，LED頂面逐漸進入凹坑被抵靠，LED引腳則迫使彈簧觸片彈性變形使LED通電；當直角拐桿的縱桿繼續沿圓周軌跡運行時，撥動LED引腳脫離彈簧觸片繼續向上翻轉，直至被擋板上沿支承，然后以該上沿為支點繼續向外翻轉，直至LED在重力作用下離開測試機構向下掉落至接料斗內。

所述光傳感器和電機與控制器電連接。

所述擋板的上部向內弧面彎曲，其下表面自端沿起開有弧面凹槽直至與所述凹坑連通。

所述的正負極彈簧觸片的接觸點面向所述LED座臺的長邊通槽的槽口，其中正極觸片的接觸點至所述擋板的距離L4小于的最大長度的范圍為0.5-2mm，負極觸片的接觸點至所述擋板的距離為L4減L2，其中L2為LED正負極引腳的長度差；在正極觸片和負極觸片之間設置有分隔楔，楔體的厚度基本等于正極觸片和負極觸片之間的距離，也基本等于LED正負極引腳之間的距離。

所述的正極觸片和負極觸片底部均開有供螺釘將其固定于絕緣板上的用于調節位置的長圓孔。

本實用新型由于將被測LED在翻轉動態過程中與靜態的彈簧觸片滑觸而被瞬間通電，光傳感器將接收到的信號通過控制器分析，測試效率顯著提高，檢測流程實現自動化,并可依測試結果分類收集，結構簡單，有利于量產化的成本控制。

附圖說明：

圖1為本實用新型的結構示意圖。

圖2表示LED的縱向尺寸。

圖3為圖1中D處局部放大圖。

圖4-圖7為本實用新型被直角拐桿的縱桿撥動LED引腳不同時刻的LED翻轉狀態示意圖。

圖8為圖1中LED被翻轉開始下落到分類收集機構時的狀態示意圖。