[實(shí)用新型]芯片定位模板有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201320456501.1 | 申請日: | 2013-07-29 |
| 公開(公告)號: | CN203434131U | 公開(公告)日: | 2014-02-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王君麗;蘇鳳蓮;梁山安;李明 | 申請(專利權(quán))人: | 中芯國際集成電路制造(北京)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/68 |
| 代理公司: | 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李時云 |
| 地址: | 100176 北京市大興區(qū)*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 芯片 定位 模板 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,尤其涉及一種芯片定位模板。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體的生產(chǎn)工藝中,隨著晶圓尺寸的增加(300mm)以及芯片尺寸的減小,每片晶圓上芯片的數(shù)量越來越多,在做芯片失效分析時,會根據(jù)需要從晶圓上切割出需要進(jìn)行分析的芯片。每個芯片在晶圓上都有其固定的坐標(biāo),所以,目前主要采用的方法是用油性筆在晶圓上寫上X和Y方向的坐標(biāo),然后,根據(jù)這些坐標(biāo)找出需要進(jìn)行失效分析的芯片,但這種方法效率非常低,而且煩瑣和容易出錯,特別是在做芯片低良率(low?yield)的失效分析時,效率更加低。
目前,在做芯片低良率(low?yield)失效芯片的選取時,主要采用的方法是用油性筆在晶圓上寫上X和Y方向的坐標(biāo),然后根據(jù)這些坐標(biāo)找出需要進(jìn)行失效分析的芯片,但這種方法主要存在以下幾個缺點(diǎn):
(1)比較繁瑣,對每片晶圓都要標(biāo)出便于選取失效芯片的基準(zhǔn)坐標(biāo)。
(2)容易出錯,每片晶圓都有上千個芯片,比如90nm?SRAM2M達(dá)4000多個芯片,X和Y方向大約都有上百個芯片,標(biāo)錯就會選取錯誤的樣品,導(dǎo)致錯誤的分析。
因此,如何提供一種使用方便、定位準(zhǔn)確的芯片定位模板是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的一個技術(shù)問題。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于提供一種芯片定位模板,通過設(shè)置一與晶圓大小一致的透明板,在透明板上鏤空刻出各芯片在這片晶圓上的坐標(biāo)孔,然后根據(jù)需要用油性筆在所需要選擇的芯片上做上標(biāo)記,從而可以快速,準(zhǔn)確的選取所要分析的失效樣品。
為了達(dá)到上述的目的,本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:
一種芯片定位模板,包括一與晶圓尺寸一致的透明板,所述透明板上鏤空設(shè)置若干坐標(biāo)孔,所述坐標(biāo)孔在所述透明板上的位置與所述芯片在所述晶圓上的位置一一對應(yīng),各個坐標(biāo)孔顯示的數(shù)字與各個芯片在晶圓上的坐標(biāo)值一一對應(yīng)。
優(yōu)選的,在上述的芯片定位模板中,所述透明板的邊緣上設(shè)有一用于定位的凹槽。
優(yōu)選的,在上述的芯片定位模板中,所述透明板是塑料板。
優(yōu)選的,在上述的芯片定位模板中,所述透明板是玻璃板。
優(yōu)選的,在上述的芯片定位模板中,所述坐標(biāo)孔以陣列形式分布于所述透明板上,每個坐標(biāo)孔占據(jù)一矩形區(qū)域。
優(yōu)選的,在上述的芯片定位模板中,各個矩形區(qū)域的四個角上鏤空設(shè)置“十”字型孔或“T”字型孔或“L”字型孔。
優(yōu)選的,在上述的芯片定位模板中,所述“十”字型孔設(shè)置于相鄰列和相鄰行上的四個坐標(biāo)孔所在矩形區(qū)域之間,所述“T”字型孔設(shè)置于相鄰列和相鄰行上的兩個坐標(biāo)孔所在矩形區(qū)域之間,矩形區(qū)域的其余角上設(shè)置所述“L”字型孔。
優(yōu)選的,在上述的芯片定位模板中,每個所述坐標(biāo)孔由四位數(shù)字孔依次排列組成。
本實(shí)用新型提供的芯片定位模板,包括一與晶圓尺寸一致的透明板,所述透明板上鏤空設(shè)置若干坐標(biāo)孔,所述坐標(biāo)孔在所述透明板上的位置與所述芯片在所述晶圓上的位置一一對應(yīng),各個坐標(biāo)孔顯示的數(shù)字與各個芯片在晶圓上的坐標(biāo)值一一對應(yīng)。通過將透明板和晶圓對準(zhǔn)重疊在一起,根據(jù)需要用油性筆經(jīng)對應(yīng)的坐標(biāo)孔在所需要選擇的芯片上做標(biāo)記,從而可以快速、準(zhǔn)確的選取所要分析的失效芯片樣品,不但簡單方便,可以有效節(jié)約時間,而且準(zhǔn)確率高,不容易出錯。
附圖說明
本實(shí)用新型的芯片定位模板由以下的實(shí)施例及附圖給出。
圖1是本實(shí)用新型一實(shí)施例的芯片定位模板的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是圖1中A部放大示意圖;
圖3-圖6是本實(shí)用新型一實(shí)施例的芯片定位模板的使用方法流程示意圖。
圖中,1-透明板,11-坐標(biāo)孔,12-凹槽、13-矩形區(qū)域,131-“十”字型孔、132-“T”字型孔、133-“L”字型孔、2-晶圓、21-標(biāo)記,3-油性筆。
具體實(shí)施方式
以下將對本實(shí)用新型的芯片定位模板作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。
下面將參照附圖對本實(shí)用新型進(jìn)行更詳細(xì)的描述,其中表示了本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例,應(yīng)該理解本領(lǐng)域技術(shù)人員可以修改在此描述的本實(shí)用新型而仍然實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的有益效果。因此,下列描述應(yīng)當(dāng)被理解為對于本領(lǐng)域技術(shù)人員的廣泛知道,而并不作為對本實(shí)用新型的限制。
為了清楚,不描述實(shí)際實(shí)施例的全部特征。在下列描述中,不詳細(xì)描述公知的功能和結(jié)構(gòu),因?yàn)樗鼈儠贡緦?shí)用新型由于不必要的細(xì)節(jié)而混亂。應(yīng)當(dāng)認(rèn)為在任何實(shí)際實(shí)施例的開發(fā)中,必須作出大量實(shí)施細(xì)節(jié)以實(shí)現(xiàn)開發(fā)者的特定目標(biāo),例如按照有關(guān)系統(tǒng)或有關(guān)商業(yè)的限制,由一個實(shí)施例改變?yōu)榱硪粋€實(shí)施例。另外,應(yīng)當(dāng)認(rèn)為這種開發(fā)工作可能是復(fù)雜和耗費(fèi)時間的,但是對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說僅僅是常規(guī)工作。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





