[實用新型]金屬腐蝕監測微距電極探頭

有效

• 申請號: 201320423260.0
• 申請日: 2013-07-16
• 公開（公告）號: CN203324154U
• 公開（公告）日: 2013-12-04
• 發明（設計）人: 王振堯;王彬彬;曹公望;鐘西舟;柯偉
• 申請（專利權）人: 中國科學院金屬研究所
• 主分類號: G01N17/04
• 分類號: G01N17/04
• 代理公司: 沈陽科苑專利商標代理有限公司 21002
• 代理人: 許宗富;周秀梅

1.一種金屬腐蝕監測微距電極探頭，其特征在于：該電極探頭包括：平行放置的若干金屬電極、若干導線、環氧樹脂和探頭外殼；其中：所述探頭外殼為上下兩端開口的筒狀結構，相鄰金屬電極間的距離≤10μm，每個金屬電極分別連接一根導線，連接有導線的金屬電極置于探頭外殼內部，并由環氧樹脂填充導線、電極和探頭外殼之間的空隙。

2.根據權利要求1所述的金屬腐蝕監測微距電極探頭，其特征在于：所述金屬電極的上端面外露于絕緣樹脂外作為工作面，金屬電極的下端面封裝于絕緣樹脂內；每根導線的一端固定于金屬電極之內，另一端則從金屬電極工作面的相反方向或電極外殼的側面穿出；所述探頭外殼的內部無空腔，整個被環氧樹脂填充。

3.根據權利要求1所述的金屬腐蝕監測微距電極探頭，其特征在于：相鄰金屬電極間的距離為5-10μm。

4.根據權利要求1所述的金屬腐蝕監測微距電極探頭，其特征在于：所述探頭外殼為PVC材質。

5.根據權利要求1或2所述的金屬腐蝕監測微距電極探頭，其特征在于：所述金屬電極、導線和探頭外殼之間絕緣。