[實用新型]一種斜面探測的測試探針結構

有效

• 申請號: 201320357734.6
• 申請日: 2013-06-21
• 公開（公告）號: CN203350302U
• 公開（公告）日: 2013-12-18
• 發明（設計）人: 馮白華;賈延蝶;王振波
• 申請（專利權）人: 深圳市三一聯光自動化設備有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073
• 代理公司: 深圳市國科知識產權代理事務所(普通合伙) 44296
• 代理人: 陳永輝

【技術領域】

本實用新型涉及測試探針技術領域，更具體的說，本實用新型涉及一種斜面探測的測試探針結構。

【背景技術】

在元器件測試技術領域中，經常需要用測試探針對元器件進行各種參數的測試。現有測試探針10多為垂直平面的，參照圖1所示，與元件20接觸時為面接觸，由于元件20引腳的差異和探測時位置的偏差，使測試探針10與元件20引腳接觸有時是比較大面積的面接觸，有時是小面積的面接觸，有時還可能是線接觸或點接觸，這樣就存在不穩定的因素，影響測試精度。另外，當兩邊的測試探針10不同時接觸到元件時，還會使元件浮起或一端翹起來，這樣也使測試結果不準確。

【實用新型內容】

本實用新型的目的在于有效克服上述技術的不足，提供一種可提高測試精度的斜面探測的測試探針結構，該探針結構在于測試元件接觸時，可防止測試元件浮起或向上翹起，提高測試的精度。

本實用新型的技術方案是這樣實現的：它包括有兩探針套，其改進之處在于：所述兩探針套內分別固定有一測試探針，兩測試探針相對設置，所述兩測試探針的頂端均具有一斜面，該斜面與水平面的夾角小于90°，所述兩測試探針可將測試元件夾持并進行測試；

在上述的結構中，所述測試探針還具有頂面與底面，所述頂面與斜面的夾角為A，所述底面與斜面的夾角為B，其中，所述夾角A<90°，夾角B>90°；

在上述的結構中，所述夾角A=80°，所述夾角B=100°。

本實用新型的有益效果在于：本實用新型通過在測試探針的頂端設置一斜面，該斜面與水平面的夾角小于90°，此種結構的設計，可保證測試探針與測試元件接觸時均為線接觸，不存在不穩定的因素，大大的提高了測試精度，同時，由于此種斜面的設計，當測試探針與測試元件接觸時，測試探針會對測試元件產生一個向下的分力，可防止測試元件的一端浮起或者翹起，提高測試精度，本實用新型通過簡單結構的設計，幾乎不會增加產品的成本，使得測試精度很大的提高。

【附圖說明】

圖1為現有技術中的測試探針結構；

圖2為本實用新型的正面視圖；

圖3為圖2中C處的局部放大圖。

【具體實施方式】

下面結合附圖和實施例對本實用新型作進一步的描述。

參照圖2所示，本實用新型揭示了一種斜面探測的測試探針結構，該測試探針結構包括有兩探針套30，且兩探針套30對稱設置，兩探針套30內分別固定有一測試探針40，兩測試探針40相對設置，參照圖3所示，兩測試探針40的頂端均具有一斜面401，該斜面401與水平面的夾角小于90°，兩測試探針40可將測試元件50夾持并進行測試。在本實施例中，測試探針40具有頂面402與底面403，頂面402與斜面401的夾角為A，底面403與斜面401的夾角為B，其中，所述夾角A<90°，夾角B>90°，優選地，所述夾角A=80°，所述夾角B=100°。

本實用新型通過上述結構的設計，在對測試元件50進行測試時，可保證測試探針40與測試元件50接觸時均為線接觸，不存在不穩定的因素，大大的提高了測試精度，同時，由于此種斜面401的設計，當測試探針40與測試元件50接觸時，測試探針40會對測試元件50產生一個向下的分力，可防止測試元件50的一端浮起或者翹起，提高測試精度，本實用新型通過簡單結構的設計，幾乎不會增加產品的成本，使得測試精度很大的提高。

以上所描述的僅為本實用新型的較佳實施例，上述具體實施例不是對本實用新型的限制。在本實用新型的技術思想范疇內，可以出現各種變形及修改，凡本領域的普通技術人員根據以上描述所做的潤飾、修改或等同替換，均屬于本實用新型所保護的范圍。