[實(shí)用新型]HIT專屬單層膜光暗電導(dǎo)性能測(cè)試設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201320292961.5
• 申請(qǐng)日: 2013-05-24
• 公開（公告）號(hào): CN203337733U
• 公開（公告）日: 2013-12-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郭群超;柳琴;龐紅杰;張?jiān)赋?/a>;張軍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海太陽(yáng)能工程技術(shù)研究中心有限公司
• 主分類號(hào): G01R27/02
• 分類號(hào): G01R27/02
• 代理公司: 上海科盛知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31225
• 代理人: 楊元焱

1.一種HIT專屬單層膜光暗電導(dǎo)性能測(cè)試設(shè)備，其特征在于包括：?

樣品臺(tái)，含有兩個(gè)壓片探針，并且整個(gè)樣品臺(tái)內(nèi)置在一個(gè)暗盒里，完全密封；?

光源，設(shè)置在樣品臺(tái)的正上方；?

可編程的靜電計(jì)，設(shè)置在一個(gè)小屏蔽罩內(nèi)，并用屏蔽信號(hào)線和兩個(gè)壓片探針連接并接地；?

大屏蔽罩，將上述樣品臺(tái)、光源和可編程的靜電計(jì)屏蔽在內(nèi)，并且接地。?

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述HIT專屬單層膜光暗電導(dǎo)性能測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述光源為溴鎢燈或其它鹵素?zé)裟M光源。?