[實用新型]一種測試工裝設備

有效

• 申請號: 201320290944.8
• 申請日: 2013-05-24
• 公開（公告）號: CN203275549U
• 公開（公告）日: 2013-11-06
• 發明（設計）人: 徐宇;劉新斌
• 申請（專利權）人: 北京匯冠新技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 寇海俠

技術領域

本實用新型涉及一種電子生產作業的測試裝置，具體是一種測試工裝設備。

背景技術

印刷電路板，又稱印制電路板，印刷線路板，常使用英文縮寫PCB（Printed?circuit?board），是重要的電子部件，是電子元件的支撐體，是電子元器件線路連接的提供者。由于它是采用電子印刷技術制作的，故被稱為“印刷”電路板。將各種電子器件通過表面封裝工藝組裝在上述的PCB線路板上，就成為PCBA（assembly?of?PCB），PCBA產品是指在電路板上經過SMT（表面貼裝技術）上件再經過DIP（封裝）插件的元器件。

現有PCBA產品進行測試時沒有工裝，采用手工下壓產品測試方法，容易使工人產生疲勞，而且很難保證PCBA產品在測試信號時的平整性，造成接觸不好，很難保證測試的準確性，導致需要多次重復測試，浪費人力，效率低下。

隨著PCBA產品的應用范圍越來越大，產品的數量也非常多，?采用上述的手工下壓的測試方法，不僅勞動強度大，測試難度高，而且準確性低。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題是現有技術中在PCBA測試信號時不能保證平整性，測試準確率和效率低下的問題，從而提供一種提供平整的測試平臺，保證了平整性，提高準確率和效率的測試工裝設備。

為解決上述技術問題，本實用新型是通過以下技術方案實現的：

一種測試工裝設備，包括用于放置待測元件的底托，所述底托上設置有對應所述待測元件的開槽，在所述開槽的底部設置有探針；所述底托的一端連接一個可掀起的上蓋，所述上蓋閉合時扣緊于所述底托上。?

所述探針為可伸縮的探針，所述探針與探針伸縮機構連接，所述底托設置于底部箱體的上端，所述探針伸縮機構設置在所述箱體的內部。

所述探針伸縮機構包括探針支架，所述探針支架上在相應位置固定有探針，所述探針與設置在所述開槽底部的探針孔位置對應，所述探針支架的底部設置有凸輪，所述凸輪轉動帶動所述探針支架向上移動時，所述探針在所述開槽底部的探針孔內伸出；所述凸輪轉動帶動所述探針支架下移時，所述探針收容在所述箱體內。

所述凸輪與一搖桿連接，所述搖桿帶動所述凸輪轉動，所述搖桿設置在所述底部箱體的側面。

所述上蓋設置有拉扣裝置，所述底托上設置有卡口，所述上蓋扣緊于所述底托時所述拉扣裝置與所述卡口的側壁扣接。

所述拉扣裝置包括轉動桿，所述轉動桿可轉動的與所述上蓋的邊緣連接，所述轉動桿的上端連接一個可壓縮的彈簧，所述轉動桿的下端設置有卡勾，上蓋閉合時所述卡勾與所述底托的卡口的側壁扣接；按壓所述轉動桿的上端，所述彈簧被壓縮，所述卡勾與所述卡口的側壁分離。

所述拉扣裝置設置有兩個，分別設置在所述上蓋邊緣兩側，兩個所述拉扣裝置之間設置有連接桿。

所述上蓋上設置有拉手。

所述探針分別對應所述待測元件的正負極和TP0、TP3位置分別設置。

所述上蓋為中空，四周邊緣間隔設置有按壓所述待測元件的凸起。

本實用新型的上述技術方案相比現有技術具有以下優點：

（1）本實用新型所述的一種測試工裝設備，包括用于放置待測元件的底托，所述底托上設置有對應所述待測元件的開槽，在所述開槽的底部設置有探針；所述底托的一端連接一個可掀起的上蓋，所述上蓋閉合時扣緊于所述底托上；解決了現有技術中在PCBA測試信號時不能保證平整性，設置在所述底托上的開槽是對應待測元件設置的，可以很好的固定待測元件，在配合可以扣緊于所述底托上的上蓋，上下一起將待測元件牢牢的固定在本實用新型所述的測試工裝設備中，解決了手工測試中測試準確率低和效率低下的問題，能有效的提升工作效率和準確率。

（2）本實用新型所述的一種測試工裝設備，所述底托設置于底部箱體的上端，所述探針為可伸縮探針，所述探針與探針伸縮機構連接，所述探針伸縮機構設置在所述箱體的內部；所述探針伸縮機構包括探針支架，所述探針支架上在相應位置固定有探針，所述探針與設置在所述開槽底部的探針孔位置對應，所述探針支架的底部設置有凸輪；所述凸輪轉動帶動所述探針支架下移時，所述探針收容在所述箱體內，此時，待測元器件可以更平整的放入所述底托內，不會因為凸起的探針而造成待測元器件歪斜從而導致檢測不準確，當所述凸輪轉動帶動所述探針支架向上移動時，所述探針從所述開槽底部的探針孔內伸出，探針可以根據凸輪的轉動慢慢的接觸到待測元器件，即不會損壞待測元器件也能準確的測量。