[實(shí)用新型]一種掩模板有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201320229648.7 | 申請(qǐng)日: | 2013-04-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203232243U | 公開(公告)日: | 2013-10-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊海鵬;尹傛俊;涂志中;金在光 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 合肥京東方光電科技有限公司;京東方科技集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G03F1/32 | 分類號(hào): | G03F1/32 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243 | 代理人: | 許靜;黃燦 |
| 地址: | 230011 安徽*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 模板 | ||
1.一種掩模板,包括掩模基板以及形成在所述掩模基板上的至少一個(gè)圖案區(qū)域,所述圖案區(qū)域包括有不透光區(qū)域和完全透光區(qū)域,其特征在于,在所述不透光區(qū)域的兩側(cè)存在完全透光區(qū)域時(shí),其中一側(cè)的完全透光區(qū)域覆蓋有相位偏轉(zhuǎn)膜。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掩模板,其特征在于,所述相位偏轉(zhuǎn)膜的相位偏轉(zhuǎn)角度為150-180°。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的掩模板,其特征在于,當(dāng)采用波長(zhǎng)為365nm的光時(shí),所述相位偏轉(zhuǎn)膜的相位偏轉(zhuǎn)角度為180°。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一所述的掩模板,其特征在于,所述圖案區(qū)域包括不透光區(qū)域、半透光區(qū)域和完全透光區(qū)域,所述不透光區(qū)域?qū)?yīng)陣列基板上的源漏極區(qū)域,所述半透光區(qū)域?qū)?yīng)陣列基板上的位于源漏極中間的溝道區(qū)域,所述完全透光區(qū)域位于所述不透光區(qū)域兩側(cè),其中一側(cè)所述完全透光區(qū)域覆蓋有所述相位偏轉(zhuǎn)膜。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的掩模板,其特征在于,所述不透光區(qū)域包括對(duì)應(yīng)陣列基板上的源漏極區(qū)域和數(shù)據(jù)線區(qū)域。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的掩模板,其特征在于,所述半透光區(qū)域?qū)?yīng)陣列基板上位于源漏極中間的溝道區(qū)域采用具有半透過率的相位偏轉(zhuǎn)膜。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的掩模板,其特征在于,所述具有半透過率的相位偏轉(zhuǎn)膜的透過率為30%-70%。
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G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過100nm或更短波長(zhǎng)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學(xué)臨近校正(OPC)設(shè)計(jì)工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準(zhǔn)或測(cè)試的特殊涂層或標(biāo)記;其制備





