[實用新型]一種基于時基集成芯片的簡易光耦檢測儀有效

申請號：	201320194420.9	申請日：	2013-04-17
公開（公告）號：	CN203191483U	公開（公告）日：	2013-09-11
發明（設計）人：	葉春	申請（專利權）人：	成都掌握移動信息技術有限公司
主分類號：	G01R31/00	分類號：	G01R31/00
代理公司：	暫無信息	代理人：	暫無信息
地址：	610000 四川省***	國省代碼：	四川;51
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種基于集成芯片簡易檢測
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【權利要求書】：

1.一種基于時基集成芯片的簡易光耦檢測儀，包括被測光耦，其特征在于：還包括時基集成芯片、第一電阻、第二電阻、第三電阻、第四電阻、第一電容、第二電容和發光二極管，所述被測光耦內部發光管的正極與所述第三電阻的第一端連接，所述第三電阻的第二端與所述時基集成芯片的輸出端連接，所述被測光耦內部發光管的負極同時與所述被測光耦內部感光管的發射極、所述第二電容的第一端、所述時基集成芯片的負極、所述第一電容的第一端和電源負極連接，所述被測光耦內部感光管的集電極與所述發光二級管的負極連接，所述發光二極管的正極與所述第四電阻的第一端連接，所述第四電阻的第二端同時與所述時基集成芯片的正極、所述時基集成芯片的重置端和所述第一電阻的第一端連接，所述第一電阻的第二端同時與所述第二電阻的第一端和所述時基集成芯片的放電端連接，所述第二電阻的第二端同時與所述第一電容的第二端、所述時基集成芯片的觸發端和所述時基集成芯片的重置鎖定端連接。

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