[實用新型]一種集對分析隨機性來源的演示裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201320160779.4 | 申請日: | 2013-04-02 |
| 公開(公告)號: | CN203192273U | 公開(公告)日: | 2013-09-11 |
| 發(fā)明(設計)人: | 趙森烽;趙克勤 | 申請(專利權(quán))人: | 諸暨市聯(lián)系數(shù)學研究所 |
| 主分類號: | G09B23/02 | 分類號: | G09B23/02 |
| 代理公司: | 紹興市越興專利事務所 33220 | 代理人: | 蔣衛(wèi)東 |
| 地址: | 311811 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 分析 隨機性 來源 演示 裝置 | ||
技術(shù)領域
本發(fā)明涉及一種集對分析隨機性來源的演示裝置,屬于概率統(tǒng)計演示儀器技術(shù)領域。
背景技術(shù)
客觀世界是確定性與不確定性的對立統(tǒng)一體,用數(shù)學描述和分析不確定性的經(jīng)典理論是概率論,但經(jīng)典概率論一直把事物在一定條件下可能出現(xiàn)也可能不出現(xiàn)的性質(zhì)定義為隨機性,這一理論將客觀世界簡單化,單純的劃分為是和否,因而,雖然該理論已經(jīng)成熟,但在實際應用過程中會存在不可避免的估計誤差等不足。
集對是由一定聯(lián)系的兩個集合組成的基本單位,也是集對分析和聯(lián)系數(shù)學中最基本的一個概念,由趙克勤在1989年正式提出。在一定的問題背景下,對集對中2個集合的確定性與不確定性以及確定性與不確定性的相互作用進行一種系統(tǒng)和數(shù)學分析,即集對分析。這種分析一般通過建立所論2個集合(如一個確定集A和一個不確定集B)的聯(lián)系數(shù)對問題的全部對象進行描述,有時也可以不借助聯(lián)系數(shù)進行分析。集對分析提倡同一個問題用2種或多種不同的方法、2個或多個不同的角度,2次或多次反復去研究,再把研究結(jié)果集成,得出最后的結(jié)論,以此來保證集對分析結(jié)論的可靠性和可信性(趙森烽、趙克勤,概率聯(lián)系數(shù)化的原理及其在概率推理中的應用,智能系統(tǒng)學報,2012年第3期)。
集對分析不僅僅是適用于只有2個集合存在的場合,也適用于有多個集合存在的場合,這時需要先就每2個集合寫出聯(lián)系數(shù),再對得到的若干個聯(lián)系數(shù)作適當?shù)倪\算和分析,以解決給定的問題。由此可見,集對分析是研究和處理復雜系統(tǒng)中有關(guān)不確定性問題的一種系統(tǒng)數(shù)學方法。自1989年全國系統(tǒng)科學與區(qū)域規(guī)劃學術(shù)研討會上提出此概念至今,在自然科學與社會科學的眾多領域得到廣泛應用,但作為現(xiàn)代數(shù)學的一個新分支,集對分析仍處在發(fā)展之中。該理論目前大多數(shù)仍停留在理論階段,尤其是,該理論在數(shù)學教學以及應用推廣過程中,由于其與經(jīng)典概率論差異較大,特別是該理論對于隨機性來源的分析,抽象理解有一定難度,對于初學者而言更不容易懂,需要有相應的演示儀器作直觀解釋。
有基于此,做出本發(fā)明。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述集對分析隨機性技術(shù)中存在的理解難問題,本發(fā)明的目的是提供一種簡單易懂、將集對分析理論融匯在裝置當中、較為直觀的集對分析演示裝置。
一種集對分析隨機性來源的演示裝置,包括輸入裝置和檢測裝置,檢測裝置位于輸入裝置下方,所述的輸入裝置包括轉(zhuǎn)盤和驅(qū)動轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動的驅(qū)動電機,轉(zhuǎn)盤底部設置有若干個內(nèi)徑可調(diào)的小孔,驅(qū)動電機帶動轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動。
為實現(xiàn)更好的使用效果,上述技術(shù)方案的進一步設置如下:
所述的小孔均勻分布在轉(zhuǎn)盤底部,且小孔圓心位于同一圓周上。
所述的輸入裝置與檢測裝置之間設置有漏斗,漏斗自上而下依次包括上開口、帶空腔的殼體和下開口,其中空腔近似Y形,上開口是殼體空腔的入口,下開口是殼體空腔的出口,上開口與小孔對準,且上開口的徑向?qū)挾炔恍∮谛】卓讖健?/p>
所述的漏斗為罩殼式結(jié)構(gòu),包括上殼體和下殼體兩部分,上殼體與下殼體之間通過中部的橢圓斜口連接,且上殼體與下殼體為一體式結(jié)構(gòu),其中,上開口為圓環(huán)形,上殼體的下部為斜錐形,下殼體的下部為錐形,整個殼體為流線型結(jié)構(gòu)。
所述的檢測裝置有兩個,對稱設置于漏斗下開口兩邊,檢測裝置為連接有顯示器的光電傳感器。
所述的漏斗下方設置有回收裝置,該回收裝置位于檢測裝置下方。
所述的回收裝置包括滑槽和設置于滑槽內(nèi)的提升機,滑槽開口位于漏斗的下開口的正下方,用于接收漏斗下開口出來的小球。
所述的提升機為刮板式提升機,包括提升電機和若干個隔板分開的格槽,在提升電機的驅(qū)動下,隔板將滑槽內(nèi)的小球刮入格槽內(nèi),當?shù)竭_提升機頂端的轉(zhuǎn)軸時,格槽從向上運動轉(zhuǎn)為向下運動,小球就掉落到轉(zhuǎn)盤中,從而實現(xiàn)了小球的回收、提升,并轉(zhuǎn)移到轉(zhuǎn)盤內(nèi)。
所述的下開口處設置有可開閉的抽板,抽出抽板時,下開口打開,則漏斗的空腔內(nèi)的小球落下,合上抽板,則下開口關(guān)閉,漏斗的空腔內(nèi)的小球停留在空腔內(nèi),不能從下開口處出來。
所述的小孔由對稱設置、可轉(zhuǎn)動的兩扇圓弧板構(gòu)成,通過圓弧板的開啟或關(guān)閉,實現(xiàn)小孔孔徑的控制:當兩扇圓弧板完全開啟時,圓弧板遮住盤底的面積最小,此時可得到直徑最大的小孔,當兩扇弧形板關(guān)小時,圓弧板遮住盤底的面積較小,小孔實際孔徑較小,因而只能允許較小的球通過。
在本發(fā)明集對分析演示裝置中,也可在帶孔轉(zhuǎn)盤的盤底加蓋同樣設置有孔徑、但孔徑與之不同的盤底,進行孔徑的調(diào)整;或者通過在小孔中放置比該小孔的孔徑較小的漏斗,從而適應不同直徑小球的集對分析演示試驗。
附圖說明
圖1為本發(fā)明集對分析隨機性來源的演示裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
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