[實用新型]加熱器及芯片

有效

• 申請號: 201320114122.4
• 申請日: 2013-03-13
• 公開（公告）號: CN203149425U
• 公開（公告）日: 2013-08-21
• 發明（設計）人: 何祥宇;孫維菊;袁杰
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: G05D23/30
• 分類號: G05D23/30
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;梁麗超

技術領域

本實用新型涉及通信領域，具體而言，涉及一種加熱器及芯片。

背景技術

隨著3G無線通信技術的飛速發展和物聯網產業的不斷壯大，行業用戶對于3G功能的需求也日趨增多。以LGA為代表的新封裝形式模塊以其穩定的結構特性及良好的環境適應性受到了越來越多行業用戶設計廠家的青睞。

工業級電子產品的溫度范圍一般為-40—85℃，以適應不同區域的惡劣工作溫度需求。市面主流模塊產品所用的3G芯片平臺溫度范圍低溫大多只支持到-30℃，如使用此類平臺不加任何處理的話在低于-30℃的情況下會出現性能下降，功能喪失，尤其是對于3G芯片而言，由于溫度低，芯片無法正常工作，導致無法正常開機。

針對相關技術中電子產品由于溫度低，導致性能下降的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

實用新型內容

針對電子產品由于溫度低，導致性能下降的問題，本實用新型提供了一種加熱器及芯片，以至少解決該問題。

根據本實用新型的一個方面，提供了一種加熱器，包括：檢測單元，用于在溫度變化時，輸出負溫度系數熱敏電阻對應的第一電壓；加熱單元，連接至所述檢測單元，用于在所述第一電壓的電壓值大于預設電壓時，進行加熱，其中，所述預設電壓為需要加熱的溫度下所述負溫度系數熱敏電阻和預設電阻的分壓值。

優選地，所述檢測單元包括：第一電阻、負溫度系數熱敏電阻和接口；

其中，所述第一電阻的兩端中的一端連接至模擬電壓，所述兩端中的另一端連接至所述負溫度系數熱敏電阻；

所述負溫度系數熱敏電阻的兩端中的一端連接至所述第一電阻，所述兩端中的另一端連接至接地點GND；

所述接口，同時連接至所述第一電阻和所述負溫度系數熱敏電阻，用于輸出所述負溫度系數熱敏電阻從所述模擬電壓分得的所述第一電壓。

優選地，上述加熱器還包括：判斷單元，連接至所述檢測單元，用于當所述檢測單元輸出的所述第一電壓大于所述預設電壓時，輸出邏輯高電平；或者當所述檢測單元輸出的電壓小于所述預設電壓時，輸出邏輯低電平；所述加熱單元，還連接至所述判斷單元，用于所述判斷單元輸出所述邏輯高電平時，進行加熱，或所述判斷單元輸出所述邏輯低電平時，停止加熱。

優選地，所述判斷單元包括：電壓比較器，第二電阻和第三電阻；

所述電壓比較器，用于在該電壓比較器的兩個輸入端的第一輸入端的電壓大于第二輸入端的電壓時，輸出邏輯高電平；或在所述第一輸入端的電壓小于所述第二輸入端的電壓時，輸出邏輯低電平；其中，所述第一輸入端連接至所述接口，所述第二輸入端分別于所述第二電阻和所述第三電阻相連；所述第二電阻的兩端中的一端連接至所述模擬電壓，所述第二電阻的所述兩端中的另一端連接至所述第三電阻；所述第三電阻的兩端中的一端連接至所述第二電阻，所述第三電阻的兩端中的一端連接至接地點。

優選地，所述第一電阻的阻值和所述第二電阻的阻值相同。

優選地，所述第三電壓的阻值為所述負溫度系數熱敏電阻在預設溫度下的瞬時電阻值。

優選地，所述加熱單元包括：三極管、一個或多個熱功率電阻；

所述三極管，用于在所述三極管的基極的輸入為正電壓時，導通該三極管的集電極和發射極的電路，或在所述基級的輸入為負電壓時，截止所述電路；其中，所述基極連接至所述電壓判斷器的輸出端口，所述集電極連接至所述一個或多個熱功率電阻；所述一個或多個熱功率電阻串聯或并聯在集電極或系統電壓之間。

根據本實用新型的另一方面，提供了一種芯片，包括：上述的加熱器。

通過本實用新型，采用包括檢測單元和加熱單元的加熱器，該檢測單元用于在溫度變化時，輸出負溫度系數熱敏電阻對應的第一電壓；加熱單元，連接至該檢測單元，用于在該第一電壓的電壓值大于預設電壓時，進行加熱，其中，該預設電壓為需要加熱的溫度下該負溫度系數熱敏電阻對應的電壓值，解決了相關技術中電子產品由于溫度低，導致性能下降的問題，進而達到了提高電子產品的工作效率的效果。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本實用新型的進一步理解，構成本申請的一部分，本實用新型的示意性實施例及其說明用于解釋本實用新型，并不構成對本實用新型的不當限定。在附圖中：

圖1是根據本實用新型實施例的加熱器的結構框圖；

圖2是根據本實用新型實施例的檢測單元的優選的結構框圖；

圖3是根據本實用新型實施例的加熱器的優選的結構框圖一；

圖4是根據本實用新型實施例的加熱單元的優選的結構框圖；

圖5是根據本實用新型實施例的溫度檢測電路的示意圖；