[實用新型]探針測試裝置

有效

• 申請號: 201320102724.8
• 申請日: 2013-03-06
• 公開（公告）號: CN203178434U
• 公開（公告）日: 2013-09-04
• 發明（設計）人: 譚艷萍;黃俊華;王星;宋福民;高云峰
• 申請（專利權）人: 深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族數控科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 何平

技術領域

本實用新型涉及印刷電路板的測試技術，特別是涉及一種探針測試裝置。

背景技術

探針測試裝置一般用于對印刷電路板（PCB板）進行檢測，檢測時，需要用探針與電路板接觸。為了不使探針在待測試電路板表面留下凹痕，需要控制探針測試裝置探針的壓力，并且其壓力一般很小（1N以下）及探針的受力后的位移量也很小（1mm左右）。在傳統的探針測試裝置中，人們用于測試探針壓力的傳感器為壓力傳感器或位移傳感器。由于壓力及位移量均很小，故所需要的壓力傳感器及位移傳感器的量程及分辨率均很小。眾所周知，量程和分辨率小的壓力傳感器及位移傳感器的價格很高，進而使探針測試裝置的制作成本提高。

實用新型內容

基于此，有必要提供一種成本較低的探針測試裝置。

一種探針測試裝置，包括：

主體固定座，在牽引裝置的帶動下可移動；

光電開關，安裝于所述主體固定座上，所述光電開關接收的光通量小于閾值時，發出停止信號以控制所述主體固定座停止移動；

彈性支架，固定于所述主體固定座上，所述彈性支架上設有凸起的遮光塊，所述遮光塊位于所述光電開關接收光照的光路邊緣；及

探針，設于所述彈性支架遠離所述主體固定座的一端；

其中，所述彈性支架沿所述探針的延伸方向可產生彈性形變，并帶動所述遮光塊遮擋所述光電開關的光路，以使所述光電開關接收的光通量產生變化。

在其中一個實施例中，所述主體固定座包括支架固定座，所述支架固定座設于所述主體固定座的一端，所述彈性支架固定于所述支架固定座上。

在其中一個實施例中，所述光電開關為對射型光電開關，包括接收端及發射端，所述遮光塊位于所述接收端與所述發射端之間。

在其中一個實施例中，所述光電開關包括：

調節旋鈕，旋轉所述調節旋鈕可調節所述閾值的大小；

指示燈，所述光電開關接收的光通量小于所述閾值時，所述指示燈亮燈。

在其中一個實施例中，所述光電開關上還設有刻度盤，所述刻度盤為壓力刻度盤。

在其中一個實施例中，所述彈性支架為塑料支架。

在其中一個實施例中，所述光電開關沿所述主體固定座可滑動，以調節所述光電開關與所述彈性支架之間的距離。

在其中一個實施例中，所述主體固定座上開設有圓弧形卡槽，所述探針測試裝置還包括：

傳感器調整座，所述光電開關固定于所述傳感器調整座上；

調節螺釘，穿設于所述傳感器調整座并與所述傳感器調整座螺紋配合，所述調節螺釘的螺帽卡持于所述圓弧形卡槽內，旋轉所述調節螺釘，可驅動所述光電開關相對于所述主體固定座移動。

在其中一個實施例中，還包括固定螺釘，所述傳感器調整座上開設有條形孔，所述主體固定座上開設有螺孔，所述固定螺釘穿設于所述條形孔內并與所述螺孔配合，將所述傳感器調整座固定于所述主體固定座。

在其中一個實施例中，所述光電開關上設有用于數據傳輸的導線，所述主體固定座上開設有圓形通孔，所述導線穿設于所述圓形通孔內。

上述探針測試裝置，包括主體固定座、光電開關、彈性支架及探針。當探針與待測試PCB板接觸時，探針因受到擠壓而使彈性支架發生彈性形變，遮光塊遮擋光電開關的光通量。探針對待測試PCB板的壓力為彈性支架形變所產生的彈力。隨著探針測試裝置繼續移動，探針對待測試PCB板的壓力，彈性支架的形變量增加，從而使遮光塊遮擋光電開關的光通量也增大。當光電開關接收的光通量小于閥值時，探針測試裝置停止移動，從而控制探針對待測試PCB板的接觸壓力。光電開關相較于高精度的位置傳感器及壓力傳感器價格低廉，從而可有效的降低探針測試裝置的成本。

附圖說明

圖1為本實用新型較佳實施例中探針測試裝置的結構示意圖；

圖2為圖1所示探針測試裝置另一視角的結構示意圖；

圖3為圖1所示探針測試裝置的光電開關的結構示意圖。

具體實施方式

為了便于理解本實用新型，下面將參照相關附圖對本實用新型進行更全面的描述。附圖中給出了本實用新型的較佳實施例。但是，本實用新型可以以許多不同的形式來實現，并不限于本文所描述的實施例。相反地，提供這些實施例的目的是使對本實用新型的公開內容的理解更加透徹全面。

需要說明的是，當元件被稱為“固定于”另一個元件，它可以直接在另一個元件上或者也可以存在居中的元件。當一個元件被認為是“連接”另一個元件，它可以是直接連接到另一個元件或者可能同時存在居中元件。