[實(shí)用新型]一種溝槽MOSFET功率整流器件有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201320071888.9 | 申請(qǐng)日: | 2013-02-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203179885U | 公開(公告)日: | 2013-09-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 龍濤;王乙明;金鐘元 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海新進(jìn)半導(dǎo)體制造有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/07 | 分類號(hào): | H01L27/07;H01L29/06 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 王寶筠 |
| 地址: | 200241 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 溝槽 mosfet 功率 整流 器件 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體領(lǐng)域,特別是涉及一種溝槽MOSFET功率整流器件及其制造方法。
背景技術(shù)
目前,常用的溝槽MOSFET功率整流器件大多采用美國專利5818084公開的一種溝槽MOSFET結(jié)構(gòu)整流器。如圖1,MOSFET結(jié)構(gòu)10中源區(qū)13和柵區(qū)12連接在一起,寄生二極管連接源區(qū)12和漏區(qū)14。這種結(jié)構(gòu)器件主要用于傳統(tǒng)二極管或MOSFET分流以防止由于PN結(jié)正偏時(shí)的少子存儲(chǔ)導(dǎo)致突發(fā)擊穿和閂鎖效應(yīng)。因而,這種結(jié)構(gòu)的溝槽側(cè)壁和底部有相同的均勻薄氧化層。為形成低的閾值電壓Vth,溝槽的側(cè)壁需要具有薄的氧化層。由于溝槽的側(cè)壁氧化層和底部氧化層具有相同的厚度,所以溝槽底部氧化層的厚度也很薄,但是薄的底部氧化層不能承受高的反向電壓下的高電場強(qiáng)度。如果將這種結(jié)構(gòu)器件應(yīng)用于功率整流,溝槽底部角落將承受高反向電壓下的高電場強(qiáng)度,造成漏電流增大。
因此,如何提供一種溝槽MOSFET功率整流器件,實(shí)現(xiàn)溝槽底部角落能夠承受高反向電壓下高的電場強(qiáng)度,是本領(lǐng)域技術(shù)人員需要解決的技術(shù)問題。
實(shí)用新型內(nèi)容
有鑒于此,本實(shí)用新型提供了一種溝槽MOSFET功率整流器件,實(shí)現(xiàn)溝槽MOSFET功率整流器件的溝槽底部角落能夠承受高反向電壓下高的電場強(qiáng)度。
為了解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案如下:
一種溝槽MOSFET功率整流器件,其特征在于,包括,
第一導(dǎo)電類型的襯底;
位于所述襯底第一表面之上的外延層,所述外延層包括第一區(qū)域和圍繞所述第一區(qū)域的第二區(qū)域;
位于所述外延層的第一區(qū)域的若干個(gè)第一溝槽,所述第一溝槽從所述外延層的表面延伸至所述外延層內(nèi)部;其中,所述第一溝槽之間通過臺(tái)面區(qū)域隔開,所述第一溝槽內(nèi)填充有摻雜多晶硅,形成柵多晶硅;
位于所述臺(tái)面區(qū)域表面的第一導(dǎo)電類型的源區(qū);
位于所述源區(qū)下方的第二導(dǎo)電類型的體區(qū);
至少一個(gè)位于所述第二區(qū)域的包圍所述第一溝槽的第二導(dǎo)電類型的終端保護(hù)環(huán),所述終端保護(hù)環(huán)從所述外延層的表面延伸至所述外延層內(nèi)部,且所述終端保護(hù)環(huán)的底部的位置低于所述第一溝槽底部的位置;
位于所述外延層的表面上方且與所述源區(qū)、所述體區(qū)、所述柵多晶硅形成歐姆接觸的第一電極;
位于所述襯底的第二表面下方的第二電極,所述第二表面與所述第一表面相對(duì);
其中,所述第一導(dǎo)電類型和所述第二導(dǎo)電類型相反。
進(jìn)一步地,所述終端保護(hù)環(huán)的底部位置比所述第一溝槽的底部位置低0.3~3μm。
進(jìn)一步地,所述第一導(dǎo)電類型為N型,所述第二導(dǎo)電類型為P型。
本實(shí)用新型襯底之上的外延層包括第一區(qū)域和圍繞第一區(qū)域的第二區(qū)域,通過在第一區(qū)域形成若干個(gè)第一溝槽,在第二區(qū)域形成至少一個(gè)包圍第一溝槽的第二導(dǎo)電類型的終端保護(hù)環(huán),該終端保護(hù)環(huán)的底部在外延層內(nèi)的位置低于第一溝槽的底部在外延層內(nèi)的位置。由于外延層的第二區(qū)域圍繞外延層的第一區(qū)域,所以該終端保護(hù)環(huán)能夠?qū)⒌谝粶喜鄣撞拷锹浒鼑.?dāng)?shù)谝粶喜壑車嬖诟叻聪螂妷合碌母唠妶鰪?qiáng)度時(shí),第二導(dǎo)電類型的終端保護(hù)環(huán)將第一溝槽底部角落包圍,提高了第一溝槽底部角落承受高反向電壓下的高電場強(qiáng)度的能力。
附圖說明
為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是現(xiàn)有技術(shù)中應(yīng)用功率整流器件的電路圖;
圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例所述溝槽MOSFET功率整流器件的平面圖;
圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例所述溝槽MOSFET功率整流器件的剖面圖。
為了便于理解本實(shí)用新型,下面對(duì)附圖標(biāo)記做一說明:
20:襯底,21:外延層,22:場氧化層,30:第一溝槽,31:柵氧化層,33:臺(tái)面區(qū)域,42:多晶硅柵,51:終端保護(hù)環(huán),53:體區(qū),54:源區(qū),55:二氧化硅氧化層,60:通孔,61:鎢,70:第一電極,71:第二電極。
具體實(shí)施方式
為了便于本領(lǐng)域技術(shù)人員的理解,下面結(jié)合附圖具體說明所述溝槽MOSFET功率整流器件制造方法及溝槽MOSFET功率整流器件的具體結(jié)構(gòu)。
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- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





