[實用新型]一種軸承套圈測量儀

有效

• 申請號: 201320048878.3
• 申請日: 2013-01-30
• 公開（公告）號: CN203061449U
• 公開（公告）日: 2013-07-17
• 發明（設計）人: 張哲通;張耀騰
• 申請（專利權）人: 洛陽市洛凌軸承科技股份有限公司
• 主分類號: B07C5/00
• 分類號: B07C5/00;B07C5/02;B07C5/36;G01B21/00
• 代理公司: 洛陽市凱旋專利事務所 41112
• 代理人: 陸君

技術領域

本實用新型涉及一種測量儀器，實用于軸承制造行業套圈綜合項目檢驗，尤其是一種軸承套圈測量儀器，涉及軸承成品零件的倒角、高度、內徑、外徑、溝道、橢圓度等檢測項目的幾何精度及橢圓度。

背景技術

公知的，軸承套圈加工過程中及產品完工后所使用的測量儀器，為了適應多種類型的產品質量檢驗及每個產品所檢測的項目，對軸承套圈檢驗使用的測量儀器的精準度及人員的責任心提出了很高要求；目前常用的測量儀器為單臺單項目軸承套圈測量儀。

現有的軸承套圈測量儀器如：D923內徑測量儀，G903高度測量儀，D913外徑測量儀，D723溝徑測量儀；所述測量儀器的特點或缺陷在于：

1、儀器測量精度低：現有儀器的示值誤差為±0.01㎜，示值穩定性為±0.01㎜；

2、儀器測量項目單一及測量范圍小：現有儀器每臺只能測量一個項目，測量一個成品套圈需同時使用多臺儀器進行測量，測量項目過于單一。同時受儀器自身測距影響，每臺儀器的測量范圍有一定的局限性，被測產品型號大小，將直接影響儀器測量范圍，不能或相互兼容性小；

3、儀器調整費時且調整誤差大：現使用的儀器在調整時必須將支點、輔點和測點的高低距離調整一致，使其在同一基準母線上，同時要找被測產品的最大測量直徑，這些要靠調整人員目測進行，容易造成較大誤差，無法確保產品質量；

4、人為因素較大：現有儀器采用的是比較測量法，人員的測量方法、測量力量、目視讀數誤差等直接影響產品的測量結果和產品質量；

5、加大企業成本：軸承套圈測量項目眾多且現用儀器測量項目單一，檢驗時則需配置大量儀器及檢驗人員，并需耗費大量的精力和財力對人員和儀器進行管理，直接造成產品制造成本增加。

綜上所述，現行的儀器即不能較好的確保產品質量檢驗精度，也大大增加了企業的制造成本，降低了經營利潤，直接影響到企業的市場競爭力。

發明內容

為了克服背景技術中的不足，本實用新型公開了一種軸承套圈綜合測量儀，該儀器采用全自動直接測量法，觸屏數顯控制，測量精度和效率高，測量范圍大，便于調整和操作。

為了實現上述發明目的，本實用新型全自動軸承套圈測量儀采用以下技術方案：一種軸承套圈測量儀，包括圓盤上料機、推進氣缸及阻斷裝置、自動傳送裝置、定位裝置、自動測量與數據收集系統、測量工位；所述推進氣缸及阻斷裝置)一端與圓盤上料機連接，另一端連接測量工位；測量工位與定位裝置連接，每個定位裝置上都設置有自動測量與數據收集系統。

本發明所述的測量工位沿工件的中心徑對稱。

本發明所述的自動測量與數據收集系統安裝有測控探頭。

本發明所述的所述的軸承套圈全自動測量儀，還包括不合格品排料通道，連接不合格品推料氣缸。

由于采用了上述技術方案，本實用新型具有如下積極效果：本實用新型所述的軸承套圈全自動測量儀，由于將多個檢測儀器合理綜合分布，通過精密測控傳感器自動測量，并直接顯示測量結果，產品從上料到檢驗完工全部由測控系統自動控制，大量減少用工人員及勞動強度和儀器，使企業降低制造成本，增加利潤；同時自動測量儀直接顯示測量結果，并能自動對產品分類和剔除，減小了因人為因素和其它方面引起的誤差對檢測結果的影響，提高了產品質量，降低了質量風險。在使用中通過精密儀器傳感器與PLC控制系統有效結合，實現一機多項目全自動綜合測量，且通過自動測量控制系統實現了產品測量結果自動分類、產品測量數據記憶、產品重復性測量分析和產品異常自動報警提醒，不僅有效節約各項資源，而且大大降低企業制造成本。

附圖說明

圖1：全自動軸承套圈綜合測量儀原理圖；

圖2：外徑橢圓測量俯視圖；

圖3：外徑橢圓測量側視圖。

圖中：1、圓盤上料機?；2、推進氣缸及阻斷裝置?；3、自動傳送裝置?；4、定位裝置；5、自動測量與數據收集系統?；6、不合格品推料氣缸；7、不合格品排料通道；8、合格品通道；9a、測量工位a；9b、測量工位b；9c、測量工位c；9d、測量工位d；9e、測量工位e；10、工件；11、側頭；12、軸承。

具體實施方式

結合附圖對本實用新型進一步說明：

1?圓盤上料機：可實現自動上料，圓盤直徑大于1米，可容納約60Kg工件。

2?推進氣缸及阻斷裝置：一次動作可將一個工件送入。

3?自動傳送裝置：通過氣缸實現左右移動，可將工件送入和送出，同時將工件送入下一測量點。

4?定位裝置：被測產品進入測量工位后，定位裝置自動下壓，對被測產品定位并將測控傳感器測頭送入測量點。