[發(fā)明專利]一種光學頭力矩器自動測試的精密裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310726097.X
• 申請日: 2013-12-25
• 公開（公告）號: CN103743545A
• 公開（公告）日: 2014-04-23
• 發(fā)明（設計）人: 馬建設
• 申請（專利權）人: 鎮(zhèn)江晶鑫電子科技有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 上海海頌知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 31258
• 代理人: 季萍

技術領域

本發(fā)明涉及一種測試機，特別涉及一種測試光學頭力矩器特性參數(shù)的自動測試機。

背景技術

力矩器是光學頭系統(tǒng)的核心組件，它可以實時調(diào)整物鏡的空間位置和姿態(tài)，用于保證透過力矩器物鏡的聚焦光斑能始終精確落在信息儲存盤片的信息軌道上實現(xiàn)數(shù)據(jù)的讀寫。力矩器屬于精密光機電組件，其性能直接決定了光學頭系統(tǒng)的性能。因此，需要對力矩器的特性進行測試。

目前，力矩器特性測試系統(tǒng)多是基于多普勒測振儀來搭建的，通過對力矩器系統(tǒng)幅頻和相頻特性的提取來獲取相應的特性參數(shù)。因多普勒測振儀價格很高，此類測試系統(tǒng)制造成本為60萬～100萬，非常昂貴；另外，采用現(xiàn)有技術中的力矩器特性測試系統(tǒng)也不便于在生產(chǎn)線上搭建，不利于在力矩器生產(chǎn)現(xiàn)場進行在線檢測，給力矩器生產(chǎn)時的產(chǎn)品性能實時監(jiān)控帶來困難。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明針對上述技術缺陷，提供一種成本低廉、操作方便且便于在線檢測的光學頭力矩器自動測試的精密裝置。

為解決上述技術問題，本發(fā)明提供一種光學頭力矩器自動測試的精密裝置，包括工作臺、工作臺上設有第一轉軸、第二轉軸，所述第一、第二轉軸相互平行，所述第一轉軸上設有聚焦傳感器，第二轉軸上設有循跡傳感器，所述工作臺上設有力矩器承載臺，所述力矩器承載臺位于聚焦傳感器下面，所述第一轉軸上設有橫桿，所述橫桿與所述第一轉軸相垂直，所述橫桿一端與所述第一轉軸可轉動連接，另一端設有安裝座，所述安裝座與所述聚焦傳感器固定連接；所述第二轉軸上設有第二橫桿，所述第二橫桿與所述第二轉軸相垂直，所述第二橫桿一端與所述第二轉軸可轉動連接，另一端設有安裝座，所述安裝座與所述循跡傳感器相連，所述循跡傳感器與力矩器對齊。

上述的光學頭力矩器自動測試的精密裝置，其中，所述安裝座為L形構件。

采用本發(fā)明可以方便快捷地進行光學頭力矩器多項特性參數(shù)的測試，快速準確；本發(fā)明光學頭力矩器測試儀成本低廉，不超過現(xiàn)有技術中的力矩器特性測試系統(tǒng)的十分之一；本發(fā)明光學頭力矩器測試儀便于安裝在生產(chǎn)現(xiàn)場，有利于在力矩器生產(chǎn)現(xiàn)場進行在線檢測。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本發(fā)明作進一步說明。

如圖所示，為解決上述技術問題，本發(fā)明提供一種光學頭力矩器自動測試的精密裝置，包括工作臺1、工作臺1上設有第一轉軸2、第二轉軸3，所述第一、第二轉軸2、3相互平行，所述第一轉軸2上設有聚焦傳感器4，第二轉軸3上設有循跡傳感器5，所述工作臺1上設有力矩器承載臺6，所述力矩器承載臺6位于聚焦傳感器4下面，所述第一轉軸2上設有橫桿，所述橫桿與所述第一轉軸2相垂直，所述橫桿一端與所述第一轉軸2可轉動連接，另一端設有安裝座7，所述安裝座7與所述聚焦傳感器4固定連接；所述第二轉軸3上設有第二橫桿15，所述第二橫桿15與所述第二轉軸3相垂直，所述第二橫桿15一端與所述第二轉軸3可轉動連接，另一端設有安裝座7，所述安裝座7與所述循跡傳感器5相連，所述循跡傳感器5與力矩器8對齊，所述安裝座為L形構件。工作臺內(nèi)設有電源及芯片。

為了方便調(diào)整，可在力矩器承載臺的下面設有氮氣彈簧11，氮氣彈簧11的一端固定在工作臺上，另一端固定在力矩器承載臺的底面上，使力矩器承載臺可調(diào)整高度，從而，方便了使用。

以上內(nèi)容是結合具體的優(yōu)選實施方式對本發(fā)明所作的進一步詳細說明，不能認定本發(fā)明的具體實施只局限于這些說明。對于本發(fā)明所屬技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發(fā)明構思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應當視為屬于本發(fā)明的保護范圍。