[發明專利]檢測ASXL1基因c.1934dupG突變位點的方法和引物

在審

• 申請號: 201310720112.X
• 申請日: 2013-12-23
• 公開（公告）號: CN103757103A
• 公開（公告）日: 2014-04-30
• 發明（設計）人: 李文靜;陳奕磊;王淑一
• 申請（專利權）人: 成都艾迪康醫學檢測實驗室有限公司
• 主分類號: C12Q1/68
• 分類號: C12Q1/68;C12N15/11
• 代理公司: 浙江杭州金通專利事務所有限公司 33100
• 代理人: 黎雙華

1.用于檢測ASXL1基因c.1934dupG突變位點的引物，其特征在于，所述引物包括：擴增ASXL1基因c.1934dupG突變位點的正、反向擴增引物，其堿基序列為：

ASXL1-exon12-F：CCCAGTCAGTTAAAACTATTTTCT

ASXL1-exon12-R：TTTCTCAGAGAAGGCAGGTCCTCT。

2.如權利要求1所述的引物，其特征在于，所述引物還包括一對測序引物，其堿基序列為：

ASXL1-exon12-S-F：CCCAGTCAGTTAAAACTATTTTCT

ASXL1-exon12-S-R：TTTCTCAGAGAAGGCAGGTCCTCT。

3.如權利要求1至2之一所述的引物，其特征在于，所述正、反向引物的使用濃度比為：ASXL1-exon12-F?:?ASXL1-exon12-R?-R=1:1。

4.如權利要求1至2之一所述的引物，其特征在于，所述一對測序引物的使用濃度比為：ASXL1-exon12-S-F?:?ASXL1-exon12-S-R?=1:1。

5.如權利要求1所述的引物，其特征在于，所述正、反向擴增引物的擴增反應條件為：第一階段，95?℃?預變性10min；第二階段，變性溫度94?℃?30sec，退火溫度64?℃?90sec，延伸溫度72?℃?30sec，循環16次，每循環一次，所述退火溫度降低0.5?℃；第三階段，變性溫度94?℃?30sec，退火溫度58?℃?30sec，延伸溫度72?℃?30sec，循環24次；第四階段，72?℃?10min；第五階段，擴增反應結束，擴增產物在4?℃下保存。

6.一種檢測ASXL1基因c.1934dupG突變位點的方法，其包括如下步驟：

(1)提取樣品DNA；

(2)利用一對擴增引物ASXL1-exon12-F和ASXL1-exon12-R對(1)中的DNA進行擴增，獲得ASXL1基因c.1934dupG突變位點的擴增產物；

(3)利用一對測序引物ASXL1-exon12-S-F和ASXL1-exon12-S-R對(2)中的擴增產物進行正向和反向測序，獲得所述擴增產物的基因序列；

(4)將(3)中的基因序列與ASXL1基因野生型參考序列進行比較，確定突變位點是否存在，其特征在于，

ASXL1-exon12-F：CCCAGTCAGTTAAAACTATTTTCT

ASXL1-exon12-R：TTTCTCAGAGAAGGCAGGTCCTCT

ASXL1-exon12-S-F：CCCAGTCAGTTAAAACTATTTTCT

ASXL1-exon12-S-R：TTTCTCAGAGAAGGCAGGTCCTCT。

7.?如權利要求6所述的方法，步驟(2)的擴增反應條件為：第一階段，95?℃?預變性10min；第二階段，變性溫度94?℃?30sec，退火溫度64?℃?90sec，延伸溫度72?℃?30sec，循環16次，每循環一次，所述退火溫度降低0.5?℃；第三階段，變性溫度94?℃?30sec，退火溫度58?℃?30sec，延伸溫度72?℃?30sec，循環24次；第四階段，72?℃?10min；第五階段，擴增反應結束，擴增產物在4?℃下保存。