[發明專利]有機圖像傳感器及其形成方法在審
| 申請號: | 201310713319.4 | 申請日: | 2013-12-20 |
| 公開(公告)號: | CN104733489A | 公開(公告)日: | 2015-06-24 |
| 發明(設計)人: | 三重野文健;肖德元;洪中山 | 申請(專利權)人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/30 | 分類號: | H01L27/30 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 駱蘇華 |
| 地址: | 201203 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 有機 圖像傳感器 及其 形成 方法 | ||
1.一種有機圖像傳感器的形成方法,其特征在于,包括:
提供半導體襯底,所述半導體襯底包括第一表面和與第一表面相對的第二表面,所述半導體襯底的第一表面上形成有像素電路,所述半導體襯底的第二表面上形成有矩陣排布的若干像素下電極,像素下電極通過位于半導體襯底中的通孔互連結構與像素電路相連;
在所述半導體襯底的第二表面上形成若干分立的有機光電轉化層,每個有機光電轉化層覆蓋相應的像素下電極,相鄰有機光電轉化層之間以及相鄰像素下電極之間具有隔離層;
在所述有機光電轉化層上形成上電極。
2.如權利要求1所述的有機圖像傳感器的形成方法,其特征在于,所述像素下電極、有機光電轉化層和隔離層的形成過程為:在半導體襯底的第二表面上形成下電極金屬層;在下電極金屬層上形成犧牲層;刻蝕所述犧牲層和下電極金屬層,形成暴露半導體襯底的第二表面的若干開口,相鄰開口之間剩余的下電極金屬層為像素下電極;在所述開口中填充滿隔離材料,形成隔離層;去除所述犧牲層,形成凹槽;在凹槽中填充有機光電轉化材料,形成有機光電轉化層。
3.如權利要求2所述的有機圖像傳感器的形成方法,其特征在于,所述犧牲層的材料與隔離層的材料不相同。
4.如權利要求3所述的有機圖像傳感器的形成方法,其特征在于,所述犧牲層的材料為無定形硅、多晶硅、無定形碳或硅鍺。
5.如權利要求2所述的有機圖像傳感器的形成方法,其特征在于,所述隔離層的材料為不透明的材料。
6.如權利要求5所述的有機圖像傳感器的形成方法,其特征在于,所述不透明材料為SixOy(x>y)、氮化硅或氮氧化硅。
7.如權利要求2所述的有機圖像傳感器的形成方法,其特征在于,所述下電極的材料為TiN、TaN、W、Al、Cu、Ti、Ta或Co。
8.如權利要求1所述的有機圖像傳感器的形成方法,其特征在于,所述上電極的材料為透明的導電材料。
9.如權利要求8所述的有機圖像傳感器的形成方法,其特征在于,所述透明的導電材料為氧化銦錫或氧化銦鋅。
10.如權利要求1所述的有機圖像傳感器的形成方法,其特征在于,在形成像素電極之前,還包括:在半導體襯底的第一表面上形成介質層,所述介質層覆蓋所述像素電路,所述介質層中形成有與像素電路連接的互連結構。
11.如權利要求10所述的有機圖像傳感器的形成方法,其特征在于,在形成上電極之后,還包括:在介質層上形成金屬凸塊,金屬凸塊與互連結構相連;在金屬凸塊上形成焊料層。
12.如權利要求1所述的有機圖像傳感器的形成方法,其特征在于,還包括:在所述上電極上形成保護層;在保護層上形成濾光膜;在濾光膜上形成微透鏡。
13.一種有機圖像傳感器,其特征在于,包括:
半導體襯底,所述半導體襯底包括第一表面和與第一表面相對的第二表面,所述半導體襯底的第一表面上形成有像素電路,所述半導體襯底的第二表面上形成有矩陣排布的若干像素下電極,像素下電極通過位于半導體襯底中的通孔互連結構與像素電路相連;
位于所述半導體襯底的第二表面上的若干分立的有機光電轉化層,每個有機光電轉化層覆蓋相應的像素下電極,相鄰有機光電轉化層之間以及相鄰像素下電極之間具有隔離層;
位于所述有機光電轉化層上的上電極。
14.如權利要求13所述的有機圖像傳感器,其特征在于,所述隔離層的材料為不透明的材料。
15.如權利要求14所述的有機圖像傳感器,其特征在于,所述不透明材料為SixOy(x>y)、氮化硅或氮氧化硅。
16.如權利要求13所述的有機圖像傳感器,其特征在于,所述上電極的材料為透明的導電材料。
17.如權利要求16所述的有機圖像傳感器,其特征在于,所述透明的導電材料為氧化銦錫或氧化銦鋅。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





