[發(fā)明專利]用于對(duì)結(jié)構(gòu)的元件的位置進(jìn)行測(cè)量的測(cè)量方法和系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310705548.1
• 申請(qǐng)日: 2013-12-19
• 公開（公告）號(hào): CN103968787B
• 公開（公告）日: 2018-02-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 約翰內(nèi)斯·馬斯連尼科夫;本杰明·貝克;彼得·凱特勒
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 空中客車德國(guó)運(yùn)營(yíng)有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G01B21/00
• 分類號(hào): G01B21/00;G01B11/00
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11227
• 代理人: 杜誠(chéng),陳煒

1.一種用于對(duì)結(jié)構(gòu)(10)的元件(16)的位置進(jìn)行測(cè)量的方法，所述方法包括以下步驟：

在測(cè)量位置處將容納設(shè)備(18)附接到所述元件(16)；

將第一參考設(shè)備(20、20b)附接到所述容納設(shè)備(18)；

使用適于測(cè)量所述第一參考設(shè)備(20、20b)的位置的第一測(cè)量設(shè)備(22、22b)來(lái)確定第一測(cè)量點(diǎn)；

移除所述第一參考設(shè)備(20、20b)；

將第二參考設(shè)備(20、20a、20c、20d)附接到所述容納設(shè)備(18)；以及

使用適于測(cè)量所述第二參考設(shè)備(20、20a、20c、20d)的位置的第二測(cè)量設(shè)備(22、22a、22c、22d)來(lái)確定第二測(cè)量點(diǎn)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，

其中，所述容納設(shè)備(18)包括第一支承元件(26)，并且所述第一參考設(shè)備(20、20b)和所述第二參考設(shè)備(20、20a、20c、20d)中的每個(gè)參考設(shè)備包括第二支承元件(36)，以使得當(dāng)參考設(shè)備(20)相對(duì)于所述容納設(shè)備(18)旋轉(zhuǎn)時(shí)，所述參考設(shè)備(20)的參考點(diǎn)相對(duì)于所述參考設(shè)備所附接到的容納設(shè)備(18)不移動(dòng)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，

其中，所述第一支承元件(26)具有形成如截錐的支承面(28)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，

其中，所述第二支承元件(36)具有形成如球冠的支承面(38)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，

其中，使用磁體(30)暫時(shí)地附接所述容納設(shè)備(18)以及所述第一參考設(shè)備(20、20b)和所述第二參考設(shè)備(20、20a、20c、20d)中的至少一個(gè)參考設(shè)備。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，

其中，所述第一參考設(shè)備和所述第二參考設(shè)備(20a、20c)中的至少一個(gè)參考設(shè)備包括承載板(32)，所述承載板作為用于測(cè)量目標(biāo)(40)的承載體。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，

其中，所述第一參考設(shè)備(20、20b)和/或所述第二參考設(shè)備(20、20a、20c、20d)包括至少部分的球體，所述球體作為要附接到所述容納設(shè)備(18)的第一支承元件(26)的第二支承元件(36)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，

其中，所述第一參考設(shè)備(20b)是激光目標(biāo)，并且所述第一測(cè)量設(shè)備是激光跟蹤器設(shè)備(22b)。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，

其中，所述第二參考設(shè)備(20a)包括用于光源(40a)的承載板(32)，并且所述第二測(cè)量設(shè)備是光跟蹤器設(shè)備(22a)。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，

其中，所述第二參考設(shè)備(20a)包括附接到所述第二參考設(shè)備(20a)的承載板(32)的至少三個(gè)光源(40a)。

11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，

其中，所述光源(40a)包括紅外發(fā)光二極管LED。

12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，

其中，所述第二參考設(shè)備(20c)包括具有高對(duì)比度目標(biāo)圖像(40c)的承載板(32)，并且所述第二測(cè)量設(shè)備(22c)包括至少一個(gè)相機(jī)。

13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，

其中，所述第二參考設(shè)備(20d)是接觸探針，并且所述第二測(cè)量設(shè)備(22d)是觸覺(jué)位置測(cè)量設(shè)備。

14.根據(jù)前述權(quán)利要求中的一項(xiàng)所述的方法，

其中，所述結(jié)構(gòu)是飛行器(12)的結(jié)構(gòu)(10)。

15.一種測(cè)量系統(tǒng)(14)，包括：

多個(gè)容納設(shè)備(18)；

多個(gè)第一參考設(shè)備(20、20b)；以及

多個(gè)第二參考設(shè)備(20、20a、20c、20d)；

其中，所述多個(gè)容納設(shè)備(18)中的每個(gè)容納設(shè)備包括用于對(duì)所述第一參考設(shè)備(20、20b)和所述第二參考設(shè)備(20、20a、20c、20d)中的一個(gè)參考設(shè)備的第二支承元件(36)進(jìn)行暫時(shí)地附接的第一支承元件(26)，以使得當(dāng)參考設(shè)備相對(duì)于容納設(shè)備(18)旋轉(zhuǎn)時(shí)，所述參考設(shè)備的參考點(diǎn)相對(duì)于所述參考設(shè)備所附接到的所述容納設(shè)備(18)不移動(dòng)；

其中，所述第一參考設(shè)備(20、20b)中的每個(gè)第一參考設(shè)備承載用于第一測(cè)量設(shè)備(22、22b)的第一測(cè)量目標(biāo)(40b)；

其中，所述第二參考設(shè)備(20、20a、20c、20d)中的每個(gè)第二參考設(shè)備承載用于第二測(cè)量設(shè)備(22、22a、22c、22d)的第二測(cè)量目標(biāo)(40a、40c、40d)。