[發(fā)明專利]一種手套箱的密封式測量裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310700395.1 | 申請日: | 2013-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN103728246A | 公開(公告)日: | 2014-04-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 吳繼宗;劉煥良;李定明;張麗華;錢紅娟;范德軍 | 申請(專利權(quán))人: | 中國原子能科學(xué)研究院 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01 |
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| 地址: | 102413 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 手套 密封 測量 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種手套箱,尤其涉及一種手套箱的密封式測量裝置。
背景技術(shù)
在后處理廠的分析實驗室,分析樣品不但具有放射,且化學(xué)毒性大,還易產(chǎn)生氣溶膠,因此必須在嚴(yán)格的屏蔽和防護(hù)條件下操作,即在手套箱或熱室中操作。手套箱是密閉的操作箱體,主要材料為不銹鋼,可視窗口為鉛玻璃材料,工作人員通過使用橡膠手套完成各種操作。手套箱的空間極為有限,要放置各種容器、分析樣品、取樣器等試驗必備器具,同時手套箱內(nèi)又是強(qiáng)酸、強(qiáng)放射性、負(fù)壓的環(huán)境。不管是分光、熒光、拉曼等測量,考慮到測量和防護(hù)問題,都須將整個儀器放入手套箱中。在實現(xiàn)本發(fā)明過程中,發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下問題:
這種光學(xué)測量方式占用有限的手套箱空間,并且儀器在上述惡劣環(huán)境中極易損壞,穩(wěn)定性大為減弱,維修又極為不便。一旦損壞無法修復(fù),就會產(chǎn)生大量的固體放射性廢物,即使使用光纖式儀器,也需將樣品測量室、光纖等放入手套箱中,這樣占用的空間雖有所減少,但仍然會占用寶貴的手套箱空間。因此其仍然是不容忽視的問題。同時,手套箱內(nèi)的光纖也妨礙工作人員的各種操作,光纖自身也極易被折斷和腐蝕,這樣損壞的光纖也會成為固體放射性廢物。測量室內(nèi)與光纖相連的玻璃透鏡暴露在強(qiáng)酸、強(qiáng)放射性的環(huán)境中也極易發(fā)污影響光學(xué)測量,在手套箱中更換該透鏡時,極不方便,其價格也較為昂貴。因此,這種極易損壞、不易安和維修、又可能產(chǎn)生大量放射性廢物并且占用手套箱空間的光學(xué)測量方式亟待改進(jìn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例提供一種手套箱的密封式測量裝置,其在進(jìn)行測量時,測量設(shè)備位于手套箱外部,不會受到手套箱內(nèi)的污染,并且測量樣品時不占用手套箱空間。
一方面,本發(fā)明實施例提供了一種手套箱的密封式測量裝置,包括手套箱、測量儀器和光源,所述手套箱底部平面開有孔,其還包括:樣品室,用于放置被檢測樣品,位于手套箱底部的孔下方,通所述孔與所述手套箱密封連接;至少兩個傳感器,一端分別密封連接于所述樣品室的相對兩個側(cè)壁上,另一端分別連接在所述測量儀器和光源上,用于對樣品進(jìn)行檢測。
進(jìn)一步地,所述樣品室的頂部高于所述手套箱的底部平面。
進(jìn)一步地,所述樣品室的頂部設(shè)置有可啟閉的密封蓋。
進(jìn)一步地,所述測量儀器為普通光度計、熒光光度計或拉曼測定儀。
進(jìn)一步地,所述傳感器使用光纖傳輸。
進(jìn)一步地,所述光纖與所述樣品室的連接端設(shè)置有透鏡。
進(jìn)一步地,所述密封式測量裝置還包括用于連接所述傳感器和所述樣品室的雙層螺管,所述雙層螺管為一端密封連接的內(nèi)外兩個中空套管,內(nèi)管外壁具有內(nèi)螺紋,外管外壁具有外螺紋,所述雙層螺管通過所述內(nèi)螺紋與所述透鏡連接,所述光纖穿過所述內(nèi)管的中空部分與所述透鏡連接;所述雙層螺管通過所述外螺紋與所述樣品室連接,所述外管伸入樣品室。
進(jìn)一步地,所述光纖與所述內(nèi)管之間通過密封膠密封。
進(jìn)一步地,所述外管深入樣品室的部分設(shè)置有透明密封片。
進(jìn)一步地,所述透明密封片為石英玻璃片。
上述技術(shù)方案具有如下有益效果:因為采用了增設(shè)樣品室、外置測量儀器、加裝密封蓋等技術(shù)手段,本發(fā)明達(dá)到了節(jié)省手套箱內(nèi)空間、樣品測量方便、測量裝置不易污染和損壞等技術(shù)效果。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是本發(fā)明一個實施例的示意圖。
圖2是本發(fā)明一個實施例中雙層螺管的示意圖。
圖3是測量儀器的信號強(qiáng)度示意圖。
圖4是未使用本發(fā)明實施例測得的標(biāo)準(zhǔn)鈥玻璃吸收譜示意圖。
圖5是使用本發(fā)明實施例測得的標(biāo)準(zhǔn)鈥玻璃吸收譜示意圖。
具體實施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





